생산 기판 테스트
Framescan 기술
벡터리스 테스트 기술
Framescan은 구성 요소 패키지 및 커넥터에서 단선 핀을 감지하는 데 사용된 벡터리스 테스트 기법입니다. Framescan을 사용할 경우 얻을 수 있는 이점은 다음과 같습니다.
- 소형 리드 프레임 패키지 및 커넥터의 결함 검출률을 높임
- 테스트 프로그램 개발 간소화
- 테스트 환경에서 발생할 수 있는 노이즈에 덜 민감함
Teradyne의 Framescan 기술의 기능은 다음과 같습니다.
- 빠르고 간단한 테스트 프로그램 개발
- 자동 학습 프로세스 기능
- 높은 핀 결함 검출률
- 정확한 핀 수준 진단
- Advanced Framescan FX 하드웨어
- 감소된 액세스 테스트를 지원하는 경계 스캔 자극 옵션
Analog Framescan은 테스터의 아날로그 인스투르먼트에서 생성된 AC 사인파를 사용해 Framescan 자극 신호를 제공하는 비전동식 테스트 기법입니다. Analog Framescan 기법을 사용하려면 테스터의 프로브가 테스트할 핀에 물리적으로 액세스할 수 있어야 합니다.
주요 기능은 다음과 같습니다.
- 비전동식 테스트 기법
- 표준 ICT 인스투르먼트 사용
- 입증된 단선 핀 결함 감지
- IC 패키지, 소켓, 커넥터 및 극성 캡에서 작동
- 자동 학습 프로세스
- Advanced Framescan FX 하드웨어
Junction Xpress는 집적 회로 솔더 단선을 식별하는 벡터리스 테스트 기법입니다. Junction Xpress는 MCB 및 COB 기술을 포함한 내부 리드 프레임 없이도 IC 디바이스를 손쉽게 테스트할 수 있습니다. Junction Xpress는 20~50옴 범위 이상의 저항 값을 나타내는 주변부 솔더 조인트를 추가로 식별할 수 있습니다.
주요 기능은 다음과 같습니다.
- 픽스처 오버 클램프 또는 추가 픽스처 전자 디바이스가 필요하지 않음
- Xpress 테스트 프로그램이 몇 분 내에 자동으로 생성되며 수동 디버그 없이 실행할 준비가 되어 있음
- AC 및 DC 자극 리소스를 활용하고 디지털 전압계를 샘플링할 수 있음
- 오늘날의 최신 집적 회로 구성 요소에서 90~100%의 결함 검출률을 제공함
Powered Framescan은 기판의 경계 스캔 디바이스에서 생성된 디지털 파형을 사용하여 자극 신호를 제공하는 전동식 테스트 기법입니다. Powered Framescan 도구는 경계 스캔 디바이스를 사용해 자극 신호를 생성하므로 테스터가 네트에 물리적으로 액세스할 수 없는 경우에도 디바이스 핀에서 결함을 감지할 수 있습니다.
주요 기능은 다음과 같습니다.
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- 물리적 테스트 액세스가 없는 핀에서 결함을 감지함
- 경계 스캔과 Framescan 기술을 결합함
- 자동 테스트 생성 및 학습 모드
- 기존 Framescan FX 하드웨어 및 테스터 인스투르먼트 사용
- 주파수 독립적인 혁신적 시간-영역 기법
