隨著半導體製程尺寸不斷縮小，且晶片或封裝的複雜度日益提升， System Level Test (SLT) 已變得至關重要。
泰瑞達系統級測試部門的系統架構師彼得·賴克特（Peter Reichert）闡述了何謂系統級測試，以及它如何提升最終產品品質並縮短產品上市時間。
目錄與節選
System Level Test (SLT) 在終端使用系統中對被測裝置（DUT）進行測試，其方法僅是實際使用該裝置，而非像傳統自動化測試設備（ATE）那樣建立測試向量。雖然仍需編寫測試腳本，但方式有所不同……
進一步了解系統層級測試以及泰瑞達 Titan 系統層級測試平台。
歡迎聯絡我們，進一步了解泰瑞達的測試解決方案。