記憶力測試
為什麼選擇泰瑞達？
泰瑞達的客戶信賴我們近被測裝置（DUT）技術，該技術能為記憶體裝置製造商帶來確切的性能優勢。透過簡要介紹動態記憶體與儲存記憶體裝置，將說明為何裝置製造商依賴泰瑞達的記憶體測試解決方案。
動態記憶體亦可稱為易失性記憶體。此類記憶體採用雙倍資料傳輸速率（DDR）技術，僅在裝置通電時才能保留資料。此外，還有一種稱為圖形雙倍資料傳輸速率（GDDR）記憶體的超高速記憶體，它與圖形處理器（GPU）協同運作，以呈現擁有數千種顏色的超高解析度圖像。
因此，以筆記型電腦為例，動態記憶體是由中央處理器（CPU）用來執行工作的。當處理器處理資料並執行各項功能時，例如運行電腦應用程式、進行網路通訊，以及與圖形處理器協作以顯示資訊，記憶體必須跟上處理器的步調。 CPU 速度越快，記憶體的速度也必須相應提升。筆記型電腦的運作速度將取決於 CPU 或記憶體中較慢的一方。隨著處理器速度不斷提升，記憶體裝置也必須跟上這股趨勢。因此，電腦中採用了多代 DDR 記憶體裝置，而低功耗雙倍資料傳輸率（LPDDR）則應用於手機等裝置。
另一種記憶體裝置稱為儲存記憶體或非揮發性記憶體。這種記憶體即使在斷電後，仍能保留已儲存的資料。再次以筆記型電腦為例，USB 隨身碟是一種可插入 USB 連接埠的外接式快閃記憶體裝置。它是用來儲存資訊的輔助記憶體來源。快閃記憶體的速度也持續提升，從而加快了筆記型電腦的運作速度。
為何記憶體裝置的傳輸速度與測試系統的架構有關，或對其產生影響？某些裝置測試系統的設計採用纜線傳輸，透過纜線在儀表板與被測裝置（DUT）之間傳遞訊號。如今，測試儀器需要以越來越快的速度與被測裝置進行介面連接。這些裝置原本是設計用於短距離傳輸資料的。如果儀表板透過纜線連接且距離裝置較遠，可能會導致測試儀器所分析的裝置訊號產生衰減。
泰瑞達的記憶體測試解決方案
泰瑞達 (Teradyne) 的 Magnum 記憶體測試解決方案採用「近被測裝置 (Near DUT) 測試技術」設計。儀器電路板設置於測試介面單元及測試頭延伸模組內，使被測裝置 (DUT) 與測試儀器之間的距離達到業界最短。這項架構設計的突破，讓記憶體裝置製造商能利用「全速測試」的優勢，全面驗證裝置的性能。 此設計不僅提升了資料訊號的完整性，更大幅縮短了往返延遲（RTD），從而縮短了讀取-修改-寫入（RMW）測試模式的執行時間，同時支援極高的接腳密度，可進行更多並行測試點的檢測。
Magnum 的架構設計能支援當今的記憶體裝置，並已準備好測試未來記憶體裝置的速度，無論是 LPDDR、DDR、GDDR 還是快閃記憶體裝置。
泰瑞達的記憶體測試解決方案專為高速、精準的資料訊號而設計，包含：
Magnum 7H
泰瑞達的Magnum 7H 平台為HBM提供業界領先的速度與並行測試效率。憑藉先進的記憶體與邏輯測試能力，這些系統可支援 HBM 製造製程中的關鍵測試階段——從基底晶片測試、未分離HBM 測試到分離後HBM 測試——包括記憶體核心測試與速度驗證。
Magnum 7
泰瑞達的 Magnum 7 採用智慧化設計，專為測試最新一代 NAND 快閃記憶體裝置而打造。高速快閃記憶體裝置正推動新一代 UFS 和 PCIe 應用的發展。 人工智慧革命的動力源自儲存於高效能資料中心 SSD 以及新一代 AI 個人電腦、筆記型電腦和行動裝置中的海量資料。Magnum 7 的最大配置可提供多達 18,432 個 I/O 通道，每個通道傳輸速率達 5.28Gbps。
Magnum EPIC
泰瑞達（Teradyne）的 Magnum EPIC 是一款專為最新一代 DRAM 裝置設計的高效能測試解決方案。這些裝置是 5G、人工智慧、雲端運算、自動駕駛、擴增實境／虛擬實境（AR/VR）以及高解析度圖形應用等技術的關鍵驅動力。
Magnum VU
泰瑞達（Teradyne）的 Magnum VU 系統是一款靈活且功能全面的測試平台，適用於所有 NAND 和 MCP 產品，涵蓋尖端的 UFS 4.1、uMCP 及 PCIe Gen 5 行動與車用裝置，以及 ONFI 和 Toggle NAND，並支援 UFS 3.1、PCIe Gen 4、e.MMC 和 eMCP 等傳統 MCP 產品。
Magnum V
泰瑞達的 Magnum V 系統為超高效能 FLASH 和 DRAM 記憶體提供高吞吐量與高並行測試效率。Magnum V 的最大配置可提供多達 20,480 個數位通道，每個通道傳輸速率達 1600Mbps。