UltraFLEX

UltraPAC80 高密度交流源與擷取儀提供多達 8 個源與擷取通道，每個通道均配備專用的音訊與視訊類比路徑。泰瑞達（Teradyne）專有的取樣時鐘架構，在無損性能的前提下，為使用者提供完全的取樣頻率靈活性，並確保在每次測試程式執行時，與其他所有儀器皆能保持相位對齊，從而無需針對特定任務進行校準，即可達成最高性能射頻收發器所需的相位平衡。

UltraVI80 高引腳數、高精度電壓與電流選項提供 80 個具備「三合一」功能的獨立引腳。每個 UVI80 引腳皆為真正的電壓或電流 (VI) 源與測量儀器，配備超高精度差動電壓表及時間測量單元，可針對每個引腳進行全面且大規模並行的行動電源管理裝置測試。 此外，UVI80 通道可運作於特殊的低下垂電壓源模式，為敏感的類比與射頻應用提供無與倫比的電源雜訊性能。最後，每個 UVI80 通道均內建高效能交流波形源與量測功能，可對嵌入於複雜系統單晶片 (SOC) 或微控制器裝置中的數位/類比 (D/A) 及類比/數位 (A/D) 轉換器進行高度並行測試。

UltraVS256 高密度元件電源供應器 (DPS) 每台儀器提供 256 個獨立通道，可滿足低功耗行動通訊裝置所需的大規模並行處理能力。UVS256 還具備基於鉗位電流源的功能，可用於元件參數測試。  UltraVS256 讓測試工程師能夠設定可編程的輸出頻寬，並具備完整的測試模式設定與量測控制功能，從而降低 DIB 的複雜度並縮短測試時間。

HEXVS 和VSM 超高精度與穩定性處理器核心電源供應器，透過在負載下提供無與倫比的電壓精度與穩定性，從而提升複雜處理器的效能與良率。這使得裝置能夠在較低電壓下配置為最高效能，進而提升在 UltraFLEX 上測試之裝置的價值與良率。

DC30 和DC75 電壓/電流電源將直流電壓範圍擴展至 30 伏特和 75 伏特，以滿足行動電源管理及其他裝置的高電壓測試需求。與 UltraVI80 相同，這兩款型號均配備精密差動電壓表及時間測量功能。

UltraSerial10G是一款高速序列儀器，可測試不斷擴展的序列匯流排技術，並模擬裝置的運作環境，在裝置受限的測試時間內，以最高吞吐量實現最佳測試品質。 此儀器每塊電路板配備 20 個差分驅動與接收埠（40 通道／80 線），頻率範圍為 42Mbps 至 10.7Gbps，具備 426M 驅動／比對能力及 1Gig 擷取記憶體，並內建偽隨機位元串流 (PRBS) 硬體，以及支援 PCIe 的協定感知測試功能。所有這些功能皆旨在為 SerDes 匯流排測試提供高效的測試方法。

無線測試

UltraWaveLX

UltraWaveLX 子系統提供多種配置方案，透過將 LitePoint 的尖端技術無縫整合至 UltraFLEX 平台，提供新興的無線通訊協定功能。

UltraWaveLX-RF提供 802.11be（Wi-Fi 7）測試功能，UltraWaveLX-UWB則適用於 UWB 測試環境，而UltraWaveLX-60G則支援 60 GHz 頻段的毫米波應用。這些配置可相互組合，在單一測試平台上提供多種尖端的射頻測試功能。

UltraWave24

泰瑞達（Teradyne）是射頻（RF）與無線裝置測試領域的領導者，其配備 UltraWave24 射頻儀器的 UltraFLEX 測試系統已擁有龐大的安裝基數。隨著採用毫米波技術的手機與基地台應用新裝置陸續問世，泰瑞達的毫米波測試儀器產品線也已擴充，以因應日益增長的測試需求。

UltraWaveMX

UltraWaveMX53、UltraWaveMX44、UltraWaveMX20-D16 UltraWaveMX8 泰瑞達（Teradyne）專為毫米波頻率設計的 MX 系列儀器。這些儀器擴展了 UltraWave24 的功能，可全面測試 52.6 GHz 以下頻段的 Wi-Fi、LTE、超寬頻及 5G 標準。 現有的 UltraWave24 客戶可透過單插槽儀器升級其系統，無需重新配置測試系統。他們可繼續使用現有的裝置介面板 (DIB) 及生產介面對接相容性，以滿足現有應用需求。

MX 系列儀器專為 5G 中頻收發器及 5G 射頻波束成形器裝置的射頻與中頻介面而設計。該系列儀器支援探針、封裝、模組及無線通訊應用的特性分析與量產測試。

儀器內建的專利主動式熱控技術可確保溫度穩定，以滿足工程與生產環境中的高性能規格要求。UltraWaveMX 系列儀器還配備了整合式功率偵測器，可提供規格追溯性。此外，該系列儀器配備專用的低相位噪聲被測裝置 (DUT) 參考時鐘，工作頻率範圍為 100 MHz 至 6 GHz，可為內建 PLL 的裝置提供高精度參考時鐘。

這些儀器具備原生 5G-NR 調變與解調測試功能，並整合了 ESA 工具套件，採用業界標準的波形演算法進行波形調變與解調，從而簡化了測試台與自動測試設備（ATE）之間的關聯性。

這些儀器配備專用的毫米波頻段盲插式同軸 DIB 連接埠，其設計旨在應對生產環境中的各種挑戰，同時具備向被測裝置提供並測量 8 GHz 至 53 GHz 範圍內高品質測試波形的性能。

屢獲殊榮的IG-XL 測試軟體環境，能透過簡易的程式設計，快速開發測試程式。與儀器硬體整合的互動式除錯顯示介面，打造出直覺易用的軟體系統，不僅大幅減少培訓需求，更能加速產品上市時程。

該 UltraWaveMX53 旨在滿足涵蓋最高達 52.6 GHz 的 5G FR2 頻段需求。該儀器在整個頻率範圍內提供無與倫比的性能，並具備完全整合的溫度穩定與校準功能。其每通道整合式合成器架構提供業界頂尖的相位噪聲表現，使調變波形的信源與量測能力具備前所未有的 EVM 表現。

UltraWaveMX53 提供三種配置：-D16、-IF 及 -RF。每種配置均提供兩個通道和 16 個連接埠，頻率範圍最高可達 53 GHz。-IF 和 -RF 配置各增加兩個通道，並分別提供 16 個額外連接埠，頻率範圍最高可達 20 GHz 及 44 GHz。

泰瑞達的 UltraWaveMX44 提供 24 GHz 至 44 GHz 的頻率覆蓋範圍。UltraWaveMX44 配備的 32 個毫米波埠，UltraWaveMX44 簡化 DIB 設計。為提升站點密度，該系統可擴充至多達 128 個毫米波埠，這對於實現最低測試成本的多站點測試至關重要。