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人工智慧與資料中心
泰瑞達與西門子攜手推出基於 PCIe 的串流掃描網路測試方案UltraFLEXplus
透過將西門子 Tessent Silicon Executable 整合至 UltraPort 伺服器及 IG-XL 軟體中，泰瑞達為客戶提供了一條受支援的途徑，以實現串流掃描網路內容...
人工智慧與資料中心
系統層級測試
測試視角：人工智慧和資料中心的系統級測試
隨著人工智慧和資料中心設備日益複雜，採用多晶片設計，功耗高達數千瓦，在真實環境下測試每台設備從未如此困難…
分析
運算
《半導體文摘》：展望人工智慧及更遠的未來
產品品質、複雜性及持續的創新，皆需要靈活的半導體測試策略。到 2025 年，自動測試設備（ATE）產業將受到半導體產業的深遠影響 ...
人工智慧與資料中心
系統層級測試
人工智慧時代的系統層級測試：大規模驗證可靠性
隨著人工智慧從專用工作負載轉變為主流基礎架構，後端測試正經歷一場低調卻至關重要的轉變。客戶對測試提出的要求正在改變，因此……
人工智慧與資料中心
運算
測試新視野：滿足從晶圓到資料中心的 AI 需求
人工智慧正在重新定義其運作所需的基礎架構，而在運算層面上，這一點尤為明顯。隨著伺服器架構與人工智慧加速器的複雜度不斷提升，測試工作也……
人工智慧與資料中心
AI 晶片片架構：重新定義測試插點
重點摘要：光刻技術與光罩的限制正迫使人工智慧晶片轉向採用 2.5D/3D 晶片模組封裝，進而重新定義測試應在何處進行。隨著 GPU 價格逼近 28,000 美元，「已知良品……」
人工智慧與資料中心
加速測試開發：人工智慧如何彌合測試工程師的知識差距
MyInfo Copilot 將泰瑞達值得信賴的專業知識直接融入工程工作流程，並為基於代理的測試開發奠定基礎。半導體測試工程需要……
人工智慧與資料中心
電力
《Test》專題觀點：驅動人工智慧與資料中心的動力
隨著人工智慧持續推動資料中心面臨前所未有的電力需求，對嚴謹半導體測試的需求也從未如此迫切。我們的新影片系列將從不同角度探討……
人工智慧與資料中心
分析
《半導體評論》：透過智慧自動化提升半導體製造水準
人工智慧的全面部署正逐漸模糊半導體測試與工廠自動化之間的界線，《Semiconductor Review》雜誌甫將泰瑞達（Teradyne）評選為「頂尖半導體測試與機器人解決方案...」
人工智慧與資料中心
測試單元
測試單元生態系統：從測試人員表現到生產成果
為何整合與跨領域協調如今成為決定測試結果的關鍵因素。在半導體製造領域中，測試機的性能向來是評估的焦點，包含...