數位測試儀器

用於數位功能測試的高性能 VXI 和 PXI 儀器。

泰瑞達的 Di-Series 以及 eDigital-Series 數位測試儀器可支援低電壓差分訊號 (LVDS) 等技術，同時仍能完全滿足傳統測試需求。除了具備卓越的可靠性外，這些儀器還能減少測試系統的佔用空間、降低程式設計與技術支援的工作量，並降低整體擁有成本。

該 Di-Series 是一款高度整合、基於標準的 VXI 儀器——它將卓越的性能與靈活性完美結合，可測試最高達 50 MHz 的被測裝置 (UUT)。

採用緊湊型 PXIe 規格， eDigital-Series 提供多種數位儀器，可滿足廣泛的應用需求。該系列最新推出的儀器提供多達 544 通道的同步並行數位測試，具備每針腳電壓水準與時序控制，並結合可由使用者編程的 FPGA 以實現重新配置功能，使其成為業界最具多功能性與靈活性的數位儀器。

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卓越的性能。
適用於多種技術（包括 TTL、LVTTL 和 LVDS）的靈活並行功能測試，可提升測試品質並減少「未發現故障」的漏檢情況。

高密度規格。
VXI 和 PXIe 兩種規格皆能提升通道密度，同時縮減整體測試系統的佔用空間。

可靠性與生存能力。
高密度封裝與嚴格的品質控管（包括衝擊與振動測試），確保在最嚴苛的船艦及行動環境中，仍能維持低平均故障間隔時間（MTBF）。

全球支援服務。
提供的支援服務包括 24 小時故障零件維修與寄回服務、電話熱線支援、全面的培訓與文件，以及現場校準驗證。

將泰瑞達（Teradyne）的數位測試儀器整合至新舊自動測試系統（ATE）中，以滿足對高性能及／或多通道功能的需求，並採用高密度、緊湊的封裝設計。

將舊式、速度較慢的獨立（機架式）儀器，替換為具備高密度、先進數位功能的設備，並讓每個測試通道皆能配備此類功能。

請選擇能滿足您當前及未來測試需求的儀器系列。這兩款儀器均可整合至新購或現有的自動測試系統中。