國防與航太應用中，生產及維修基地測試系統所使用的舊式類比儀器，往往導致測試吞吐量緩慢、測試覆蓋率不足，以及對線替換單元（LRU）的故障診斷不精準——尤其是對於性能規格更為嚴格的新型單元而言。
泰瑞達提供兩大系列類比測試儀器
- 基於 VXI 的核心系統儀器 (CSi)
- ZT 系列 PXI/LXI 儀器。
這兩款產品系列不僅符合當今嚴苛的測試要求，更能為傳統自動測試系統（ATE）帶來更強大的測試能力。
CSi 系列儀器具備數位採樣示波器 (DSO)、數位萬用電錶 (DMM) 及多功能類比 (MFA) 功能，非常適合用於新舊自動測試系統 (ATE)。部分 CSi 儀器具備多通道並行同步功能，可提升測試吞吐量。
基於 PXI 或 LXI 架構的 ZT 系列數位示波器 (DSO) 及任意波形產生器 (AWFG) 儀器體積小巧，非常適合需要更小佔用空間的新型自動測試設備 (ATE) 系統。
優點
多款 CSi 儀器均支援「每針腳測試器」架構。
透過在每個 CSi 類比通道上整合完整的刺激與測量功能，簡化介面測試轉接器的設計。
在廣泛的規格範圍內展現卓越的測試性能。
這兩大產品系列皆能提供高吞吐量的測試，並可對複雜系統（例如混合訊號線可替換單元（LRU））進行並行刺激與量測。
高功能密度機箱規格。
VXI 與 PXIe 兩種機箱規格皆能提升通道密度，同時減少整體測試系統的佔用空間——並降低成本。
商用現成（COTS）架構。
不僅提供刺激信號與量測的靈活性及高可靠性，同時降低採集成本，從而降低生命週期成本。
全球支援服務。
提供的支援服務包括 24 小時故障零件維修與更換、電話熱線支援，以及全面的培訓與文件。
應用
適用於自動測試設備（ATE）及傳統測試系統的高性能類比儀器。
專為新型混合訊號自動測試系統（ATE）設計的理想測試與量測解決方案，該系統需具備高性能及／或多通道刺激量測功能，並採用高密度、緊湊的封裝設計。
將舊式、速度較慢的獨立式（機架式）測試與量測儀器，替換為具備高密度設計且每個測試通道皆配備先進類比功能的設備。
