UltraFLEXplus
全球領先的半導體測試平台
UltraFLEXplus 將全新的儀器與軟體功能,結合革命性的測試平台架構,在大幅提升吞吐量與工程效率的同時,亦充分運用UltraFLEX歷經多年發展所累積的測試智慧財產權。
優點
最快投產時間
IG-XL 軟體的相容性以及全新的 Broadside 應用程式介面,讓測試工程師從一開始就能提升工作效率,並將投入生產所需的時間縮短超過 20%。
最高吞吐量
全新的UltraFLEXplus 增加了測試站數量,還提升了並行測試效率,從而提高了整體吞吐量,並將所需測試單元的數量減少了 15% 至 50%。
可擴展架構
UltraFLEXplus 重新部署於多條產品線,並可針對未來產品需求進行升級,從而提高重複利用率並延長資產的使用壽命。
應用
- 行動應用處理器
- 數位基頻處理器
- 高資料傳輸速率射頻收發器
- 射頻連接裝置
- 毫米波
- 5G
- 行動電源管理積體電路 (PMIC)
- 微處理器
- 網路處理器
- 高速 SERDES(序列化器/解序列化器)與背板收發器
- 儲存控制器
- 高階微控制器
- 音訊與視訊處理器
設定
UltraFLEXplus 3 種基礎系統,讓客戶能夠優化資本成本、佔地面積及最大資源數量。這三種版本均採用 Broadside DIB,以實現更高密度、更多插槽數量,並簡化佈線。
UltraFLEXplus
24 槽系統
UltraFLEXplus
12 槽系統
UltraFLEXplus
6 槽系統
全新第三代高性能儀器系列
AC Instruments
UltraPAC300 – 新一代高密度類比儀器
- 高效能音訊與基頻交流分析儀
- 覆蓋範圍最高達 300MHz
- 雙模式高速與高解析度通道
UltraCTO384 – 高性能、高密度轉換器測試選項
-
128 個來源通道、128 個擷取通道及 128 個參考通道
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單端與差分嵌入式轉換器測試,解析度最高可達 16 位元
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用於定速測試的正弦波與平滑斜坡波形產生
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裝置微調的電壓測量精度為 ±50uV
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DUT 的源極與基準電壓偵測
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整合式源極至參考電壓校準可將 DIB 電路需求降至最低,從而實現高位元數
影像擷取儀器
- 20Gbps 資料傳輸速率
- 每根引腳的 PPMU
- 支援協定
- 每台儀器 64 條差分通道(64 – Instrument Rx)
- 16 – 3 或 4 通道埠;32 – 2 通道埠;64 – 1 通道埠
- 每台儀器具備 4 x 100GbE 資料傳輸頻寬
- 每 16 條差分通道支援 100GbE
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DC Instruments
UltraVS64-HP – 進階核心電源儀器
- 每台儀器可提供 1,280 安培的設備電流
- 單一串聯供電系統的合併電流可達 5,120A
- 測試單元總容量超過 15,000 安培
- 專為新興整合式電壓調節器(IVR)架構設計的獨特 16V 電壓範圍
- 整合式多點感測技術,在各尺寸晶片及多晶片封裝中皆具備卓越的動態負載響應能力
- 具備硬體層級熱失控故障應對功能的智慧型電源介面
UltraVS64 – 核心電源測量儀
- 極其精準且穩定的裝置核心電源供應來源
- 無與倫比的動態表現
- <1mV 6 Sigma voltage accuracy
- 每台儀器最高可提供 320 安培的設備供電
- 單一電源供應器最高可匯流 1,600 安培
- 支援最高達 2,560 安培的瞬間全系統電流突變
HP 高密度、高度靈活的通用型設備電源供應器
- 每台儀器具備 256 個通道
- 靈活的合併功能
- 卓越的動態表現
- 低噪音
- 四象限電壓或電流源與量測
UltraVI264 – 高精度、高密度直流儀器
- 104 個低電壓通道經多工器整合為 248 個連接
- 8 個高壓通道經多工器整合為 16 個連接埠
- USB 充電標準的彈性通道合併
- 高精度直流測量
High-Speed I/O HSIO) 儀器
UltraPort-PCIe6 – 適用於 PCIe Gen6 裝置的High-Speed I/O 協定測試儀
- 每台儀器具備 32 條通道,傳輸速率達 64 Gb/s(PAM4)
- 獨特的每針腳 PMU 及整合式迴路測試功能,可提升覆蓋範圍與診斷能力
- 具備卓越的訊號完整性,並擁有通往裝置的最純淨訊號路徑
- 專用伺服器級運算後端,可擴充至 2TB 的高效能記憶體
- 針對「已知良品晶片」(KGD),將任務模式測試與high-speed I/O 掃描的覆蓋範圍轉移至更早的插入點
UltraPHY:全面的 PHY 效能測試涵蓋範圍
UltraPHY224G
- 每台儀器配備 8 條全雙工差分通道 + 8 條僅接收差分通道
- 測試資料傳輸速率最高可達 112 Gb/s NRZ 及 224 Gb/s (112 Gbaud) PAM4
- 在極高資料傳輸速率下仍能維持高密度;每台UltraFLEXplus 可支援多台儀器
- 與UltraFLEXplus平台上的其他業界領先UltraPHY儀器型號並存
- 適用於全面性 PHY 量產測試與特性分析的 DSO + BERT 架構
- 透過泰瑞達廣受採用的 IG-XL 軟體實現統一的工作流程
- 支援 PAM4 和 NRZ 的大部分眼圖相關測量項目,例如高度、寬度、TDECQ 等。
- 應用範例:PCIe Gen 7、OIF CEI-224G、CXL、矽光子學 (SiPHO) 等
數位儀器
UltraPin5000-EM – 先進數位儀器
- 專為大量處理圖案的人工智慧及運算裝置所設計
- 向量記憶體容量最高可達市場上其他產品的 80 倍
- 載入圖案速度最高可提升 10 倍;具備「持久模式」,可實現近乎即時的重新載入
- 靈活的時序架構,支援各引腳獨立的時鐘頻率
- 透過網路加速掃描,以獲得即時的核心級結果並做出自適應的測試決策
- 與 UltraPin2200 相容,可保護現有的測試 IP 投資
UltraPin2200 –高密度數位儀器
- 高密度,每台儀器具備 512 個通道
- 每台儀器配備 32 個模式產生器,可進行並行測試,或為每個測試點提供獨特的模式流程
- 專屬的、基於硬體的協定感知功能
- 用於非確定性資料測試的專用記憶體
- 具備靈活的圖案記憶體架構,掃描測試容量最高可達 16Gbit
- 跨站點資料共享
UltraPHY112G
- 16 條全雙工差分通道
- 測試資料傳輸速率最高可達 64 Gb/s NRZ 及 112 Gb/s (56 Gbaud) PAM4
- 高密度;UltraFLEXplus 可連接多台儀器
- 與UltraFLEXplus平台上的其他業界領先UltraPHY儀器型號並存
- 適用於全面性 PHY 量產測試與特性分析的 AWG + DSO 架構
- 透過泰瑞達廣受採用的 IG-XL 軟體實現統一的工作流程
- 升級至UltraPHY224G 的路徑,確保投資具備前瞻性
- 支援 NRZ 和 PAM4 的大部分眼圖相關測量參數,例如高度、寬度、信噪比等。
- 應用範例:PCIe Gen 1 至 Gen 6、OIF CEI-112G、IEEE 802.3ck 以太網、矽光子學 (SiPHO) 等
RF Instruments
- 每台儀器配備 8 個獨立訊號源和 8 個獨立接收器
- 每台設備配備 32 個雙向連接埠
- 頻率範圍為 50 MHz 至 24 GHz
- 最先進的誤差向量幅度 (EVM) 與相位噪聲表現
- 可進行設定,以實現最佳化的測試效能與成本
- 支援 500 MHz I/Q 頻寬
- 每台儀器配備 16 個差分輸入通道與 16 個差分輸出通道
- WiFi 7 的誤差向量幅度 (EVM) 表現優異,典型值為 -50 dB
- 每針參數單位 (PPMU) 功能
Photon 100
透過將先進的光學與電子儀器整合至UltraFLEXplus TeradynePhoton 100 晶圓、光學引擎及共封裝模組等各階段Photon 100 高吞吐量的自動化測試。此舉不僅能簡化作業流程、加速產品上市時程,更能支援可擴展的矽光子學製造
UltraFLEX
UltraFLEX 儀善用客戶現有的投資,致力於透過全面的測試設備及我們的 IG-XL 軟體,降低開發與部署新測試程式所需的工程工作量。IG-XL 軟體作為業界標準,擁有超過 10,000 名活躍程式設計師,並在UltraFLEX漫長的歷史中持續獲得強化。
作為完整測試單元解決方案與服務的領導供應商,泰瑞達(Teradyne)憑藉專業知識、豐富經驗及技術領導地位,協助客戶在生產過程中實現最高良率與產能,並以最快速度將產品推向市場。我們將與您攜手合作,從設計到量產的每一個階段,提供標準化及客製化的測試單元產品與服務。