UltraFLEXplus

全球領先的半導體測試平台

UltraFLEXplus 將嶄新的儀器與軟體功能,結合革命性的測試平台架構,在大幅提升吞吐量與工程效率的同時,亦充分利用了 UltraFLEX 歷經多年發展所累積的測試智慧財產權。

優點

最快投產時間

IG-XL 軟體的相容性以及全新的 Broadside 應用程式介面,讓測試工程師從一開始就能提升工作效率,並將投入生產所需的時間縮短超過 20%。

最高吞吐量

全新的UltraFLEXplus 增加了測試站數量,還提升了並行測試效率,從而提高了整體吞吐量,並將所需測試單元的數量減少了 15% 至 50%。

可擴展架構

UltraFLEXplus 重新部署於多條產品線,並可針對未來產品需求進行升級,從而提高重複利用率並延長資產的使用壽命。

應用

  • 行動應用處理器
  • 數位基頻處理器
  • 高資料傳輸速率射頻收發器
  • 射頻連接裝置
  • 毫米波
  • 5G
  • 行動電源管理積體電路 (PMIC)
  • 微處理器
  • 網路處理器
  • 高速 SERDES(序列化器/解序列化器)與背板收發器
  • 儲存控制器
  • 高階微控制器
  • 音訊與視訊處理器

設定

UltraFLEXplus 3 種基礎系統,讓客戶能夠優化資本成本、佔地面積及最大資源數量。這三種版本均採用 Broadside DIB,以實現更高密度、更多插槽數量,並簡化佈線。

UltraFLEXplus
24 槽系統

UltraFLEXplus
12 槽系統

UltraFLEXplus
6 槽系統

全新第三代高性能儀器系列

AC Instruments

UltraPAC300 – 新一代高密度類比儀器

  • 高效能音訊與基頻交流分析儀
  • 覆蓋範圍最高達 300MHz
  • 雙模式高速與高解析度通道

UltraCTO384 – 高性能、高密度轉換器測試選項

  • 128 個來源通道、128 個擷取通道及 128 個參考通道

  • 單端與差分嵌入式轉換器測試,解析度最高可達 16 位元

  • 用於定速測試的正弦波與平滑斜坡波形產生

  • 裝置微調的電壓測量精度為 ±50uV

  • DUT 的源極與基準電壓偵測

  • 整合式源極至參考電壓校準可將 DIB 電路需求降至最低,從而實現高位元數

RF Instruments

UltraWave8G 與 UltraWave24G – 高速、高效能的次世代射頻儀器
  • 每台儀器配備 8 個獨立訊號源和 8 個獨立接收器
  • 每台設備配備 32 個雙向連接埠
  • 頻率範圍為 50 MHz 至 24 GHz
  • 最先進的誤差向量幅度 (EVM) 與相位噪聲表現
  • 可進行設定,以實現最佳化的測試效能與成本
UltraPAC500 – 高頻寬類比基頻射頻儀器
  • 支援 500 MHz I/Q 頻寬
  • 每台儀器配備 16 個差分輸入通道與 16 個差分輸出通道
  • WiFi 7 的誤差向量幅度 (EVM) 表現優異,典型值為 -50 dB
  • 每針參數單位 (PPMU) 功能

DC Instruments

UltraVS256-HP – 高密度、高靈活度的通用型設備電源供應器

  • 每台儀器具備 256 個通道
  • 靈活的合併功能
  • 卓越的動態表現
  • 低噪音
  • 四象限電壓或電流源與量測

UltraVS64 – 新一代核心電源儀器

  • 極其精準且穩定的裝置核心電源供應來源
  • 無與倫比的動態表現
  • <1mV 6 Sigma voltage accuracy
  • 每台儀器最高可提供 320 安培的設備供電
  • 單一電源供應器最高可匯流 1,600 安培
  • 支援最高達 2,560 安培的瞬間全系統電流突變

UltraVI264 – 高精度、高密度直流儀器

  • 104 個低電壓通道經多工器整合為 248 個連接
  • 8 個高壓通道經多工器整合為 16 個連接埠
  • USB 充電標準的彈性通道合併
  • 高精度直流測量

High-Speed I/O HSIO) 儀器

UltraPHY:全面的 PHY 效能測試涵蓋範圍

UltraPHY224G

  • 每台儀器配備 8 條全雙工差分通道 + 8 條僅接收差分通道
  • 測試資料傳輸速率最高可達 112 Gb/s NRZ 及 224 Gb/s (112 Gbaud) PAM4
  • 在極高資料傳輸速率下仍能維持高密度;每台UltraFLEXplus 可支援多台儀器
  • 與UltraFLEXplus平台上的其他業界領先UltraPHY儀器型號並存
  • 適用於全面性 PHY 量產測試與特性分析的 DSO + BERT 架構
  • 透過泰瑞達廣受採用的 IG-XL 軟體實現統一的工作流程
  • 支援 PAM4 和 NRZ 的大部分眼圖相關測量項目,例如高度、寬度、TDECQ 等。
  • 應用範例:PCIe Gen 7、OIF CEI-224G、CXL、矽光子學 (SiPHO) 等

UltraPHY112G

  • 16 條全雙工差分通道
  • 測試資料傳輸速率最高可達 64 Gb/s NRZ 及 112 Gb/s (56 Gbaud) PAM4
  • 高密度;UltraFLEXplus 可連接多台儀器
  • 與UltraFLEXplus平台上的其他業界領先UltraPHY儀器型號並存
  • 適用於全面性 PHY 量產測試與特性分析的 AWG + DSO 架構
  • 透過泰瑞達廣受採用的 IG-XL 軟體實現統一的工作流程
  • 升級至UltraPHY224G 的路徑,確保投資具備前瞻性
  • 支援 NRZ 和 PAM4 的大部分眼圖相關測量參數,例如高度、寬度、信噪比等。
  • 應用範例:PCIe Gen 1 至 Gen 6、OIF CEI-112G、IEEE 802.3ck 以太網、矽光子學 (SiPHO) 等

數位儀器

UltraPin2200 – 新一代數位儀表

  • 高密度,每台儀器具備 512 個通道
  • 每台儀器配備 32 個模式產生器,可進行並行測試,或為每個測試點提供獨特的模式流程
  • 專屬的、基於硬體的協定感知功能
  • 用於非確定性資料測試的專用記憶體
  • 具備靈活的圖案記憶體架構,掃描測試容量最高可達 16Gbit
  • 跨站點資料共享

影像擷取儀器

UltraSerial20G – 新一代高速序列影像擷取儀器
  • 20Gbps 資料傳輸速率
  • 每根引腳的 PPMU
  • 支援協定
  • 每台儀器 64 條差分通道(64 – Instrument Rx)
    • 16 – 3 或 4 通道埠;32 – 2 通道埠;64 – 1 通道埠
  • 每台儀器具備 4 x 100GbE 資料傳輸頻寬
    • 每 16 條差分通道支援 100GbE

Photon 100

透過將先進的光學與電子儀器整合至UltraFLEXplus TeradynePhoton 100 晶圓、光學引擎及共封裝模組等各階段Photon 100 高吞吐量的自動化測試。此舉不僅能簡化作業流程、加速產品上市時程,更能支援可擴展的矽光子學製造

UltraFLEX Family

UltraFLEX 系列測試儀善用客戶現有的投資,致力於透過全面的儀器配置及我們的 IG-XL 軟體,降低開發與部署新測試程式所需的工程投入。IG-XL 作為業界標準,擁有超過 10,000 名活躍程式設計師,並在 UltraFLEX 漫長的歷史中持續獲得強化。

作為完整測試單元解決方案與服務的領導供應商,泰瑞達(Teradyne)憑藉專業知識、豐富經驗及技術領導地位,協助客戶在生產過程中實現最高良率與產能,並以最快速度將產品推向市場。我們將與您攜手合作,從設計到量產的每一個階段,提供標準化及客製化的測試單元產品與服務。