泰坦
非同步系統級測試平台
泰瑞達 Titan™系統層級測試(SLT) 平台為需要最高等級系統性能測試的半導體測試環境，提供極致的靈活性、可擴展性與測試密度。Titan 是泰瑞達針對大量生產的行動應用處理器 SLT 需求所推出的解決方案。
隨著製程節點不斷縮小，半導體元件的複雜度持續增加。積體電路（IC）設計人員如今正設計完整的系統單晶片（SoC）產品，其中包含核心處理器、類比輸入/輸出（I/O）、數位輸入/輸出（I/O）、數據機及／或其他 IP 模組，並搭配嵌入式軟體。 將系統級測試作為繼晶圓測試與封裝測試之後的第三個測試步驟，能讓半導體製造商同時測試軟硬體，以驗證 IP 模組之間的連線，這在其他情況下是難以實現的。Titan 提供了額外的測試覆蓋率，以滿足終端客戶嚴格的失效率要求，從而提升產品品質。
經實證的解決方案
Titan 的非同步插槽架構具備無與倫比的運作效率。它能優化設備利用率，並相較於傳統批次系統提供 30% 的吞吐量優勢，從而降低多種產品組合的測試成本。
異步插槽架構還具備一項獨特功能，可讓系統同時測試兩種不同的產品；而內建的機器人視覺系統則確保半導體元件能以高精度放置於測試治具中。該測試治具透過採用 ATE 風格互連技術的高訊號完整性介面與系統整合，提供高達 20Gbps 的資料傳輸速率，且可靠性可超過 100,000 次測試插拔。
異步測試功能還使系統無需中斷運作即可進行維護。
Titan 系統的模組化設計具備經量產驗證的靈活性，可測試各種元件封裝類型，包括 PoP、BGA、PGA 及 LGA。其靈活性讓客戶能夠將現有硬體整合至功能機架、插槽及／或載板中。透過硬體與軟體的再利用，不僅能實現測試程式的通用性，還能加速程式部署並提供高效的程式支援。
當需要更換測試產品時，自動化流程可將執行更換所需的時間降至最低。
Titan 提供 320 位點或 424 位點兩種系統規格，佔地同樣小巧，因此每平方公尺的廠房空間內可測試的裝置數量極多。
此外，我們還提供一套規模較小的 20 通道 Titan 開發站，適用於被測裝置 (DUT) 電路板設計驗證測試、測試程式的開發與驗證、被測裝置電路板硬體問題的故障排除、被測裝置電路板的測試與維修作業，以及在非量產環境中啟用 SLT 功能。此開發站讓研發、品質保證及量產部門能夠使用相同的被測裝置測試電路板，透過共通的工程與量產平台，加速量產進程。
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基本設定
系統主機
- 每個系統最多可支援 424 個測試站點
- 插槽在載入和測試時均為完全非同步的
- 15°C 空氣冷卻，最高可散熱 50W
- 最多可提供 15 個退件箱
- 系統持續運作期間，仍可對測試站點進行維護
非同步測試時段
- 每台測試電腦配備一個 1Gbps 以太網埠
- 每個被測裝置 (DUT) 配備 1 個串列埠
- 每個被測裝置 (DUT) 各配備 1 個支援 JTAG 的連接埠
- 每塊測試板各配有 1 個 SPI 介面
- VTESTBOARD電源：24V
- 被測裝置（DUT）與測試板持續供電：每個測試點最大 38W
- 功率控制／測量
轉換套件
- Titan 的架構能提供裝置轉換的靈活性，同時具備短暫的轉換時間與降低的成本
- 每次更換裝置類型時，所需的 Teradyne 或客戶自行開發的元件極少：
- 插座蓋 (Teradyne)
- DUT 接頭（泰瑞達）
- 更新了特定裝置的視覺任務（Teradyne）
- 測試板與插座（客戶或泰瑞達）