影像感測器測試系統IP750Ex-HD
影像感測器測試領域的全球領導者
為何IP750Ex-HD 能IP750Ex-HD 市場？這是一款值得信賴的第四代測試系統，不僅能為現有及未來的裝置提供影像感測器測試功能，同時還能實現最低的測試成本。
我們的客戶深知，泰瑞達遍佈全球的應用支援服務能提供無與倫比的測試專業知識。這或許正是影像感測器市場始終選擇IP750Ex-HD 感測器測試系統作為其測試解決方案的原因。
IP750EX-HD 業界製造高品質 CCD 與 CMOS 影像感測器的測試平台，同時也是滿足飛行時間 (ToF) 感測器等新興技術需求的最具成本效益的解決方案。無論您使用智慧型手機、高性能數位相機，或是家用安全監控系統，這些裝置所搭載的影像感測器，極有可能都曾經過泰瑞達 (Teradyne) 的 IP750EX-HD 進行測試。
隨著影像感測器的功能日益豐富，泰瑞達的IP750Ex-HD 擴大測試涵蓋範圍。 當今的「感測」裝置已涵蓋距離測量、3D 深度感測、擴增實境（AR）、虛擬實境（VR）、汽車安全以及先進駕駛輔助系統（ADAS）等應用。行動裝置應用正日益採用多鏡頭配置，並透過指紋掃描鏡頭進行使用者驗證。裝置設計的複雜度提升，導致測試時間增加。此外，在封裝裝置測試階段，受低溫與高溫測試影響，汽車應用的測試插點數量亦持續增加。
隨著影像感測器日益複雜，我們該如何縮短測試時間與產品上市時間？泰瑞達的IP750Ex-HD 搭配屢獲殊榮的IG-XL™ 軟體 IP750Ex-HD 。影像感測器供應商深知，這款操作直觀的軟體能將從研發到量產的週期縮至最短。
IP750Ex-HD 滿足高解析度影像感測器日益增長的需求、不斷擴展的測試品質標準，以及具備不同波長與調變特性的創新感測器功能。該架構支援 64 位元影像資料處理，以滿足解析度日益提升的感測器所帶來的處理需求；資料傳輸則採用最快速的数据匯流排，確保實現最快的測試時間。 Teradyne 不僅提供影像處理函式庫與應用專業知識，讓測試工程師能輕鬆上手，IG-XL™ 更允許客戶實作客製化的影像測試演算法，藉此建立並保護其測試智慧財產權。
優點
強大的處理器陣列，用於執行針對高解析度裝置的最先進影像測試演算法
每台儀器以 40Gbps的速度進行高速平行資料傳輸
最多可同時測試80 個站點
可擴展的運算架構與高效能資料傳輸架構，確保所有感測器類型皆能以最低成本進行測試——從感測器數量較少的特殊感測器，到大量使用的影像感測器皆然
為客戶專屬的測試演算法提供安全且便捷的支援
廣泛的裝置支援
- 具備高度多功能性，可測試廣泛的裝置——從 VGA 到超過 1 億像素，並支援多種影像輸出擷取標準
- 市場上唯一一款支援自訂 LVDS 協定測試的儀器解決方案
- 具備強大的 SoC 測試能力，並配備適用於 SoC 型影像感測器的數位儀表
設定
IP750Ex-HD
- 具備晶圓測試功能的 80 站系統
- ICMD 1.5Gbps MIPI D-Phy 影像擷取儀器
- 透過 ICMD 實現客製化 LVDS 擷取功能
- D-PHY 2.5Gbps 影像擷取單元
- C-PHY 2.5Gsps 影像擷取單元
- M-PHY 6.0Gbps 影像擷取單元
- HSD800 400MHz 數位儀表
- HDDPS 24/48 通道直流電源
- 40Gbps 影像資料傳輸
- 150毫米 x 160毫米 照明器支架
- 相容於 J750Ex-HD 儀器
系統選項
VI 資源
- APMU：64通道，-35V 至 35V，35V 時可提供 50mA 電流，8路匯流 / 400mA
- HDVIS：-10V 至 10V，10V 時可提供 200mA 電流，匯流配置為 4 路／800mA
轉換器測試
- CTO：8 路輸入、8 路擷取、16 位元 ADC 測試
- HDCTO：32 個輸入源、32 個電壓參考、8 個捕獲通道、14 位元 ADC 測試