資料驅動型應用程式推動自動化測試設備的演進
數據密集型應用前所未有的增長，持續重塑全球半導體產業格局。為滿足這日益增長的數據需求，必須建立一個強大的技術生態系統——整合用於數據擷取的感測器與系統、用於傳輸的網路，以及用於分析的先進處理與儲存解決方案。
這些尖端應用能否成功部署，取決於能否開發出高度複雜的半導體技術。要確保其品質與可靠性，必須制定以效率與精準度為優先的測試策略。透過運用自動化測試設備（ATE）與系統級測試（SLT），業界得以更完善地滿足人工智慧（AI）與高效能運算（HPC）應用的需求，涵蓋從資料中心環境到邊緣裝置的各個層面。
喬治·赫塔特在《半導體工程》 深入探討，闡述自動測試設備（ATE）的創新如何協助半導體製造商跟上晶片性能的飛速發展，以及應對現代半導體元件日益增加的複雜性。透過採用智慧且靈活的測試方法，業界得以確保下一代半導體技術的品質、可靠性與性能。
閱讀全文， 《人工智慧時代的半導體測試面臨技術變革》，由 《半導體工程》雜誌。
Jeorge S. Hurtarte 博士目前擔任泰瑞達（Teradyne）半導體測試部門的產品行銷資深總監。Jeorge 曾在泰瑞達、Lam Research、LitePoint、TranSwitch 及 Rockwell Semiconductors 擔任過各種技術、管理及高階主管職務。他是 IEEE 802.11 Wi-Fi 標準委員會的投票委員，並擔任 IEEE 802.11ay 工作組的秘書。 Jeorge 目前擔任 IEEE 異質整合路線圖 (HIR) 測試工作組的共同主席，並兼任加州大學聖克魯茲分校及鳳凰城大學的客座教授。