在人工智慧、先進封裝、異質整合及邊緣運算等技術的推動下，半導體產業正經歷轉型。隨著半導體設計與製造的複雜度不斷提升以滿足這些需求，靈活的測試策略已成為平衡良率、成本與品質的關鍵所在。
自動測試設備（ATE）產業不僅在確保這些複雜且高性能的晶片符合嚴格的品質標準方面扮演著關鍵角色，更協助產業為應對未來接踵而來的挑戰做好準備。
喬治·赫塔特（Jeorge Hurtate）在《EE Times 》上的最新文章 闡述了由人工智慧與數據洞察驅動的靈活策略，如何協助產業應對 5G、量子裝置及光子整合等新興技術。
閱讀全文， 靈活的測試策略與半導體演進同步，由《EE Times》刊載
Jeorge S. Hurtarte 博士目前擔任泰瑞達（Teradyne）半導體計算測試事業部的資深總監暨首席行銷策略師。 Jeorge曾在泰瑞達、Lam Research、LitePoint、TranSwitch 及 Rockwell Semiconductors 擔任過各種技術、管理及高階主管職務。 Jeorge現任北美 SEMI 諮詢委員會委員，並擔任 IEEE 異質整合路線圖（HIR）測試分會的共同主席。Jeorge擁有電機工程博士學位，以及三個碩士學位（工商管理、電腦科學與電信工程）。他同時也是加州大學聖克魯茲分校與鳳凰城大學的客座教授。他亦是《理解無廠晶片技術》（Understanding Fabless IC Technology）一書的合著者。