由人工智慧驅動的資料中心在速度與效率方面正突破新的極限，這也促使業界亟需能夠在降低功耗的同時提供更高頻寬的技術。矽光子學（SiPh）正逐漸成為關鍵解決方案，不僅能降低能源消耗，還能同時提升頻寬並縮短延遲。
隨著這項轉變，自動測試設備（ATE）在應對 SiPh 整合所帶來的獨特挑戰，以及確保大規模生產下的性能與品質方面，扮演著至關重要的角色。
刊載於 《半導體文摘》中，泰瑞達（Teradyne）的喬治·胡塔特（Jeorge Hurtarte）分享了他對 SiPh 如何塑造資料中心基礎設施的未來，以及測試策略如何演進以與時俱進的見解。
閱讀全文， 《共封裝光學元件：未來資料中心技術的測試挑戰》，由《半導體文摘》刊載
Jeorge S. Hurtarte 博士目前擔任泰瑞達（Teradyne）半導體運算測試部門的高級總監暨首席行銷策略師。 Jeorge曾於泰瑞達、Lam Research、LitePoint、TranSwitch 及 Rockwell Semiconductors 擔任過各類技術、管理及高階主管職務。 Jeorge現任北美 SEMI 諮詢委員會委員，並擔任 IEEE 異質整合路線圖（HIR）測試分會的共同主席。Jeorge擁有電機工程博士學位，以及三個碩士學位（工商管理碩士、電腦科學碩士及電信碩士）。他同時也是加州大學聖克魯茲分校與鳳凰城大學的客座教授，並合著有《理解無廠IC技術》一書。