無線測試
泰瑞達正開創全新的無線測試方法
泰瑞達在射頻/無線裝置測試領域的領導地位，從全球廣泛部署的 UltraFLEX 測試系統即可見一斑。在某些情況下，我們在大量生產方面的成功，取決於為新興消費性應用開發新的測試技術。我們的無線（OTA）解決方案便是這項開創性努力的典範。
新興的毫米波應用與待測試裝置
作為背景，5G 幾乎等同於毫米波技術的部署。其中一個例子就是廣泛應用於 5G 智慧型手機（例如 5G-FR2 和 60 GHz）的「天線封裝」（AiP）裝置。 另一個例子是新興的低地球軌道（LEO）應用終端設備。這兩種新興應用的核心，在於需要測試一種由積體電路與波束成形天線陣列（例如多輸入多輸出，MIMO）組成的整合封裝裝置。實際上，這是一個具備關鍵天線介面的小型模組，必須進行測試以排除缺陷與異常值。
為因應這項嶄新的封裝技術，泰瑞達正針對晶片密度、處理器整合以及持續降低測試成本等面向，優化我們的測試技術。我們的創新解決方案由具備專家級水準的跨領域團隊打造，旨在簡化您從設計到製造的整個工作流程。
泰瑞達的無線測試解決方案
我們的解決方案採用標準處理器搭配改裝套件，並結合 UltraFLEX 平台，該平台目前最高可支援 8 倍的站點密度（60 GHz 頻率下）。其核心是一座針對您的 AiP 模組外形尺寸進行優化的客製化無回聲室，而這座無回聲室對於進行符合量產標準的可重複性測量至關重要。
我們針對毫米波應用所提供的量產級解決方案，能加速您的產品投產進程，並鞏固您的供應鏈物流體系。
歡迎聯絡我們，進一步了解這些不斷演進的功能與解決方案。