多面板邊界掃描
邊界掃描解決方案
IEEE 標準 1149.1 與 1149.6
邊界掃描（IEEE 1149.1 和 1149.6 標準）是一項技術，可讓矽晶片製造商在所生產的元件中設計出可測試性。
泰瑞達為開發人員提供多種邊界掃描測試方案：
- BasicSCAN 和 Scan Pathfinder 是TestStation 測試系統的原生功能
- 部分供應商提供合作夥伴關係的桌上型邊界掃描解決方案
BasicSCAN 測試是透過使用測試針來檢測元件引腳的開路狀況，因此其設計適用於測試儀能接觸到多數元件引腳的測試情境。
測試生成功能與特性：
- 能夠以業界標準的 BSDL 格式或TestStation的簡易 IBS 檔案格式，匯入裝置邊界掃描描述資訊
- 圖形化使用者介面，可輕鬆輸入及修改裝置的邊界掃描資訊
- 能夠根據輸入至 BasicSCAN 使用者介面的資訊，產生 BSDL 模型
- 檢查指令寄存器的擷取值是否正確，以及寄存器長度是否適當
- 檢查可選元件 IDCODE 和 USERCODE 的值
- 偵測任何被固定（nailed）的裝置引腳上的開路故障
- 檢查支援可選 RUNBIST 指令之元件的內部邏輯
- 自動產生隔離區段，用以指示測試產生器在測試電路板上的其他元件時，應如何關閉邊界掃描元件
- 精確至引腳層級的診斷訊息
- 具備強大的數位測試語言功能，無需使用者進行任何修改即可支援複雜的接線配置
測試生成功能：
- 支援具有多個掃描路徑的電路板
- 根據偵測到的掃描路徑配置自動產生邊界掃描測試程式
- 自動產生隔離向量，用於在執行傳統在線測試時停用所有邊界掃描裝置
- 透過 UserOption 設定支援邊界掃描測試程式的自訂
- 硬體測試
- 開啟測試
- 交互作用測試
- 互連測試
- 簡化版 CAP 測驗
- 執行 BIST 測試
- 虛擬數位測試
- 可透過圖形化報告摘要視窗或以文字檔形式檢視的完整測試報告
- 獨立的邊界掃描執行時診斷任務可確保裝置和引腳層級診斷訊息的準確性
Symphony（JTAG Technologies）
Symphony 是一款先進的邊界掃描解決方案，由 JTAG Technologies 合作設計，專為使用TestStation 的製造商打造。
ScanExpress（Corelis）
ScanExpress 是一款廣受歡迎的 JTAG 測試開發與執行工具，用於檢測基本的短路、斷路、元件不良或缺失等缺陷，並對電路板上的記憶體和 CPLD 進行在系統編程。
SCANFLEX / CASCON GALAXY（GOEPEL electronic）
GOEPEL electronic 為TestStation 提供了一套整合解決方案TestStation 專為此設計的 SCANFLEX 裝置，以及 JTAG/邊界掃描系統軟體 CASCON GALAXY。
