資料密集型測試解決方案
適用於高頻寬、大數據量的應用之進階測試解決方案
有源相控陣雷達、分散式感測器、目標鎖定與導引系統、串流視訊、網路通訊
串流資料測試系統
涉及大量分散式感測器、處理器及電腦的數據密集型測試應用，需要大規模/高速的數據擷取、低延遲的數據分析、即時儲存以及快速數據卸載。泰瑞達串流數據測試系統為此類測試應用提供了全面整合的功能。
交換與光學測試儀器
- 高速交換矩陣可支援具備大量資料埠（包含光纖或銅纜連接）的被測設備
- 光功率控制與測量模組提供在線參數測量功能，用以驗證被測設備（UUT）的光纖功率水準是否符合規格
- 可擴展、具彈性的多插槽機箱，支援未來通道擴充
VERTA 光學測試與交換
高速匯流排測試儀器
- 串列與混合式 PXIe 匯流排測試儀器提供高頻寬、低延遲的資料測試功能，支援多種匯流排協定，包括客製化匯流排
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- HSSub：多協定，具備 8 個 12.5 Gb/s 串列埠
- HSSub：多協議、LVTTL/LVDS 埠，以及 8 個 8 Gb/s 串列埠
- AIT PXIe-25G：支援 1Gb/s 至 100Gb/s 的光纖通道與乙太網路，並支援全線速運作
- HSSub 串流儲存模組可在 PXIe 背板之間執行點對點、多串流的資料擷取與儲存
- HSSub 以太網儀器提供可靠的後端資料卸載功能
- 軟體定義的可重配置性，使儀器能夠重複用於未來的測試需求
用於資料處理的匯流排元件
測試應用程式
