eDigital-Series™Digital Test Instrumentation
支援 LVDS 技術平行數位測試的 PXIe 數位儀表。
國防與航太領域的機箱及電路板設計，經常採用低電壓 TTL (LVTTL) 及／或低電壓差分訊號 (LVDS) 技術，且通常需要邊界掃描與平行 I/O 快閃記憶體編程測試功能。eDigital-Series 可針對採用 -2V 至 +6V 邏輯電壓的被測單元 (UUT)，提供靈活的平行數位功能測試。
泰瑞達的 eDigital IVI 驅動程式可控制所有並行數位功能測試參數，包括各引腳的時序與電平、資料格式、測試圖案資料，以及 32 個通道的時序對齊功能，並具備高達 16M 的測試圖案深度與結果儲存容量。透過採用eDigital-Series最新儀器的泰瑞達非接觸式空氣耦合訊號技術 (CFAST)，系統最多可實現 544 個同步通道。
eDigital-Series 亦充分利用邊界掃描、平行 I/O 及快閃記憶體編程等功能，這些功能通常已內建於較新的被測裝置（UUT）中。eDigital-Series 採用緊湊的 PXIe 規格設計，既可作為獨立儀器使用，亦可配置為整合式HSSub 的一部分。
優點
卓越的 LVTTL 和 LVDS 數位測試性能。
其 -2V 至 +6V 數位通道具備 16MB 測試圖案深度，並可在虛擬儀器中支援多達 544 個單端通道，資料傳輸速率最高可達 50MHz
透過邊界掃描進行裝置編程，並支援第三方邊界掃描工具。
支援 JTAG、Asset、Corelis 及 Acculogic 邊界掃描工具。
eDigital 軟體驅動程式。
可對 32 個單端通道的每針腳時序、資料格式及去偏移進行全面控制，並可透過現代化的數位測試編輯器 (eDTE) 進行編程
PXIe 規格。
緊湊的機身設計在提升性能密度之餘，同時減少了測試系統的佔用空間。
可靠性與生存能力。
高密度封裝與嚴格的品質控管（包括衝擊與振動測試），確保在最嚴苛的船艦及行動環境中，仍能維持低平均故障間隔時間（MTBF）。
全球支援服務。
提供的支援服務包括 24 小時故障零件維修與寄回服務、電話熱線支援、全面的培訓與文件，以及現場校準驗證。
應用
eDigital-Series 產品線具備一系列關鍵測試功能，可涵蓋廣泛的應用領域。
eDigital-Series 包括：
- 並行數位測試
- 單端與差分數位測試
- 透過邊界掃描I2C+ SPI 進行傳統、並行 I/O 及快閃記憶體編程，以及透過HSSub 進行 PCI 編程
設定
eDigital-Series 作為獨立儀器eDigital-Series ，亦可作為HSSub 系列的一員：
設定選項包括：
- eDigital-6030
- eDigital-6020A
- eDigital-6025A
- HSSub
- HSSub（附漏斗）
- HSSub
系統選項
其他功能與配件
- 可選的介面轉接器與線材
- 可選的延長保固／預先更換服務