Magnum 2
高性能、低成本、高效率的並行記憶體測試解決方案
泰瑞達的 Magnum 2 測試系統為高效能非揮發性記憶體、靜態隨機存取記憶體及邏輯元件提供高吞吐量與高並行測試效率。
優點
可擴展平台
從低通道數的工程解決方案，到具備卓越吞吐量與高效並行測試效能的高通道數量產解決方案
高度並行 NOR/NAND 快閃記憶體裝置測試
- 可測試多達 80 個 NAND 快閃記憶體裝置，並支援多達 16 個裝置訊號腳位
- 可測試多達 20 個 NOR Flash 裝置，並支援多達 64 個裝置訊號腳位
- 可測試多達 160 個串列快閃記憶體裝置，並支援多達 8 個裝置訊號腳位
雙銀行 ECR
- 包含硬體加速與 RA 處理器
- 同步擷取與掃描可縮短測試時間
全速 ECR
- 所有頻道皆支援 800Mbps 擷取
每個頻道背後的獨特數據
針對被測裝置 (DUT) 的 DRAM 電子熔絲與 NAND 壞區管理
邏輯測試覆蓋率
- 混合圖案
- 完整的 APG 搭配 Topo Scrambling
- 具備完整邏輯模式序列器的序列器，每個接腳均配備 LVM 向量記憶體
- 同一模式中的 APG + LVM 序列
應用
記憶
- NOR快閃記憶體
- NAND 快閃記憶體
- SRAM
- DRAM
- MEMS
SOC
- 微控制器
- 低階系統單晶片
- 轉換器
設定
Magnum 2 EV
- 獨立式、低功耗工程測試系統
- 適用於需要開發及除錯測試程式的客戶與實驗室應用
- 最多 128 個數位 I/O 接腳，外加一塊選配板（DPS、VRC 或 MPAC）
- 內置空氣壓縮機使載貨板鎖扣機構無需仰賴廠區的壓縮空氣即可運作
- 採用標準 110 VAC 電源（歐洲為 220 VAC）
《Magnum 2》宣傳影片
- 五槽機箱支援最多 640 個數位 I/O 接腳，以 128 個接腳為單位遞增
- 可搭配多張 DPS、VRC 或 MPAC 選配板進行配置，並配合適當數量的數位 I/O 通道，以滿足複雜記憶體與邏輯應用的需求
Magnum 2 SV
- 多樣化生產解決方案
- 最多可支援 1,024 個數位接腳，用於並行測試
- 最終測試與晶圓分選生產
- 相容於業界標準的處理器及晶圓測試機，包括鉸鏈式與立柱式機械手
系統選項
MPAC
- 類比訊號來源與擷取選項
- 提供 24 或 48 通道的訊號源／擷取／Vref 功能
- 適用於多種測試應用的電壓基準，包括嵌入式轉換器
- 任何儀器通道皆可配備整合式參數測量單元（PMU）
DPS
- 適用於必須進行高度平行測試的低引腳數裝置的測試方案
- 最大化資源利用率與裝置並行處理能力
- 提供 32 通道與 64 通道兩種配置
MPAC24/DPS32
- 此選項包含 24 個 MPAC 通道與 32 個 DPS 通道
TCALDX
- 高通量、低成本的數位通道校正選項
- 這套硬體與軟體解決方案的系統校準速度，比「繼電器樹」校準技術更快
可追溯性
- 經 NIST 認證的儀器，以確保量值溯源（Magnum 2 系統不直接支援 NIST 合規性）
- 在交流測量方面，TCALDX 埠可存取 Magnum 2 交流子系統的內部晶體，每個站點組件各配備一個。計時路徑透過數位計數器纜線傳輸至 NIST 認證的 Stanford Research SR620 計數器（或同等設備），以提供交流量測的可追溯性路徑
- 在進行直流測量時，TCALDX 埠可提供來自 Magnum 2 直流子系統的參考電壓。參考電壓源自站點組裝體上的每塊 DP 板，並透過數位萬用電錶線纜傳輸至 NIST 認證的 Agilent 3458A 萬用電錶（或同等設備），以建立直流量測的可追溯路徑
介面解決方案
DIB、PIB、載板、校準基板、被測裝置（DUT）基板加固套件、探針卡加固套件。最終測試介面、晶圓探針介面、對接解決方案，以及測試單元整合
軟體
MagnumUI 軟體是一種基於被測裝置（DUT）的多站點架構，其設計旨在為測試工程師提供真正的裝置導向並行測試編程環境。測試工程師只需為單一裝置編寫測試程式，系統硬體便會自動將測試內容複製到多個站點。 在 Magnum 2 EV 或 Magnum 2 PV 上開發的測試程式，可應用於 Magnum 2 的量產版本，以實現最大程度的並行測試。所有軟體工具均具備「測試點感知」功能，讓測試工程師能夠在任何 DUT 測試點上，如同操作單一測試點的測試儀器般，深入分析裝置的性能表現。