Magnum 7
今日與明日的高性能快閃記憶體最終測試
泰瑞達的 Magnum 7 採用智慧化設計，專為測試最新一代 NAND 快閃記憶體裝置而打造。高速快閃記憶體裝置正推動新一代 UFS 和 PCIe 應用的發展。 人工智慧革命的動力源自儲存於高效能資料中心 SSD 以及新一代 AI 個人電腦、筆記型電腦和行動裝置中的海量資料。Magnum 7 的最大配置可提供多達 18,432 個 I/O 通道，每個通道傳輸速率達 5.28Gbps。
優點
高效能
Magnum7 配備 5.28Gbps 數位通道，專為測試現有及未來世代的 NAND 裝置而設計。透過同時支援 ONFI 及獨立命令/位址 (SCA) 介面，泰瑞達旨在滿足未來數年的效能需求。
高並行度
Magnum 7 GV 可配置多達 18,432 個 I/O 埠、多達 4,096 個被測裝置電源 (DPS) 通道，以及多達 4,096 個高壓 (HV) 接腳。憑藉泰瑞達卓越的體積信號效率，可同時測試多達 1,024 個裝置。
大電流 PMU
Magnum 7 搭載的大規模並行大電流 PMU，可在最短時間內測量低阻抗參數。
可擴展的
Magnum 測試器系列提供多種配置，所有配置均採用完全相同的硬體和軟體。專為工程設計的 EV 版本支援少至 4 個測試站點。中型 SSV+ 版本支援多達 96 個測試站點，而具備最高並行處理能力的 GV 版本則支援多達 128 個測試站點。在 EV 上完成的開發工作可直接部署至生產環境中的 SSV+ 或 GV。
縮短測試時間
泰瑞達（Teradyne）獨有的「故障清單流」（FLS）技術，結合硬體加速參數掃描功能，可將測試時間縮短多達 25%。Magnum 7 採用了功能強大且適應性極佳的獨特模式產生器，加上我們應用團隊在創新領域的卓越實績，共同打造出記憶體測試產業中無與倫比的解決方案。
設定
Magnum 7 EV
- 一款獨立運作、低功耗的工程測試系統，可配置多達 1,152 個數位接腳，以及多達 256 個被測裝置電源 (DPS) 與高壓 (HV) 通道。
- 提供可與業界標準 512 及 768 位元並行處理器配對的測試器介面單元 (TIU)。
- 裝置專用轉接器 (DSAs) 及測試程式在 Magnum 7 的所有配置下均完全相容。
Magnum 7 SSV+
- 適用於最終測試的大量生產測試系統，可配置多達 13,824 個數位引腳以及 3,072 個低壓 (DPS) 與高壓 (HV) 通道。
- TIU 可與業界標準的 512 及 768 位元並行處理器配對使用。
- DSAs 和測試程式與 EV 和 GV 配置完全相容。
Magnum 7 GV
- 適用於最終測試的大量生產測試系統，可配置多達 18,432 個數位接腳，以及 4,096 個 DPS 和高壓通道。
- TIU 可與業界標準的 512 及 768 位元並行處理器配對使用。
- DSAs 及測試程式與 EV 和 SSV+ 配置完全相容。
軟體
所有 Magnum 7 配置，事實上所有 Magnum 測試機，皆採用互通性良好的 Teradyne 測試開發與除錯工具，使不同平台之間能無縫協作。測試程式只需針對單一裝置編寫，即可自動複製至所有可用硬體，從而簡化開發流程。這套除錯工具還具備「場域感知」功能，能快速有效地隔離故障裝置，並使產品從新產品導入到大量量產的過渡更加順暢。