新聞稿

泰瑞達將於 SEMICON China 會議上闡述系統級測試的重要性

2022年11月2日，中國北京–泰瑞達公司 （納斯達克代碼：TER），作為自動測試設備的領先供應商，今日宣布其全球副總裁徐建仁先生於今日在SEMICON China主辦的「半導體製造與先進封裝論壇」上發表演說。該論壇匯聚了全球半導體產業的專家，共同探討半導體製造與先進封裝的解決方案，涵蓋關鍵製程、設備材料及封裝測試等議題。

徐建仁先生以「推動系統級測試採用率的持續提升」為題進行演講，他在演講中指出，採用System Level Test (SLT) 顯著提升晶片品質並縮短製造週期，因此對於供應商而言，這是快速實現高品質晶片的理想選擇。

隨著電晶體日益微型化、晶片結構日益複雜，測試已成為確保高品質產品順利推向市場的關鍵。此外，隨著電子設備需求的增長，晶片供應商正將更多功能整合至單一晶片中，將製程技術推向極限。同時，晶片製造商需要盡早推出新製程，並採用更先進的封裝技術，以提升電晶體密度與性能，同時確保良率，從而滿足新應用的需求。

鑑於此市場狀況，採用 SLT 策略可協助晶片供應商以具成本效益的方式應對這些挑戰。SLT 是一種在客製化系統級測試板上，以極貼近產品最終應用情境的方式進行的功能測試。透過同時測試晶片及其周圍的多個 IP 模組，SLT 能夠發現 ATE 測試期間在電晶體層級未能偵測到的額外故障。 SLT 的另一項優勢在於其並行測試能力，可提供高效且測試成本低廉的解決方案。製造商若將 SLT 整合至現有的 ATE 測試流程中，便能顯著提升故障檢測覆蓋率，捕捉最後那 0.00xx% 的故障，並將漏檢率降至最低。

隨著系統複雜度持續提升，且關鍵任務型應用數量不斷增加，半導體線性測試（SLT）已成為以具成本效益的方式確保晶片品質的關鍵。作為半導體測試設備的領導供應商，泰瑞達致力於將其在自動測試設備（ATE）與半導體線性測試（SLT）方面的專業知識，與其儲存自動化架構相結合，以提供具差異化的測試解決方案，最終確保上市的裝置能達到預期的品質標準。

SLT 是 ATE 測試的一項關鍵擴展技術，其發展動力源自市場對提升晶片品質及縮短產品上市週期的需求。泰瑞達的解決方案涵蓋整個測試生命週期，協助客戶在最佳時機以具成本效益的方式實現大規模量產，確保他們能在瞬息萬變的市場中保持領先地位。

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關於泰瑞達

泰瑞達（Teradyne，NASDAQ:TER）致力於將智慧裝置、救命醫療設備及資料儲存系統等高品質創新產品更快地推向市場。該公司針對半導體、電子系統、無線裝置等領域提供的先進測試解決方案，可確保產品表現符合設計規格。其工業自動化產品線包含協作機器人與移動機器人，協助各規模的製造商提升生產力並降低成本。 2021年，泰瑞達營收達37億美元，目前在全球僱用超過6,500名員工。如需更多資訊，請造訪teradyne.com。^{Teradyne® 是}泰瑞達公司（Teradyne, Inc.）在美國及其他國家的註冊商標。