收集掃描測試失敗資料後，下一步該怎麼做？診斷簡介：在元件的生命週期中，始終需要進行良率監控。製造適配性設計（DFM）的職責在於找出如何改善元件設計，以最大化生產效率。故障診斷與失效分析是理解這些機制的重要環節。作為結構性測試的掃描測試，是將失效現象追溯至設計的關鍵資訊來源。 要進行此類分析，必須收集掃描數據。無論是在工程開發階段還是量產階段，自動測試設備（ATE）都有責任收集這些數據。本文將說明泰瑞達（Teradyne）如何收集並回報掃描失敗資訊。我們將涵蓋 STDF 中與掃描相關的條目，以及透過 ScanFalcon 產出的 ASCII 輸出。接著，我們將探討後續步驟，以及設計團隊如何處理 ATE 回報的結果，以精準找出設計中的改進方向。