품질, 복잡성, 그리고 지속적인 혁신을 위해서는 유연한 반도체 테스트 전략이 필요합니다.
2025년에는 자동화 테스트 장비(ATE) 산업이 반도체의 발전에 큰 영향을 받을 것입니다. 칩 크기가 줄어들고 소자가 더욱 복잡해짐에 따라, 첨단 기술 기반의 유연하고 AI를 활용한 테스트 솔루션에 대한 수요가 증가할 것입니다.
무어의 법칙이 한계에 다다르고, 특수한 테스트 인터페이스와 새로운 표준을 필요로 하는 패키징 혁신이 도입됨에 따라 앞으로 많은 변화가 예상됩니다. 엣지 AI는 이러한 수요를 더욱 가속화하며, 중앙 집중식 데이터 센터에서 벗어나 지연 시간, 대역폭, 개인정보 보호와 같은 새로운 과제를 제기하고 있습니다. ATE는 실시간이며 다양하고 분산된 AI 워크로드를 처리해야 하며, 엣지 AI 테스트( system level test (SLT) )를 적용하여 실제 사용 환경에서 장치를 평가해야 합니다. 또한, 고급 데이터 분석은 지속적인 수율 향상을 위한 귀중한 통찰력을 제공함으로써 중요한 역할을 수행합니다.
어떤 경우든, 고품질의 수율을 유지하면서 테스트의 정밀도를 높이고 비용을 절감하는 데 초점을 맞춰야 합니다. 협력, 유연한 테스트 전략, 그리고 새롭게 등장하는 표준을 준수하는 것은 ATE 공급업체들이 경쟁력을 유지하고 업계를 선도하며, 반도체 라이프사이클 전반에 걸쳐 더 높은 품질을 제공하도록 도울 것입니다.
기업들은 급변하는 반도체 개발 환경에서 성공하기 위해, AI 도입, SLT, 또는 데이터 분석 활용 등 어떤 방식을 통해든 이러한 과제에 적응해야 합니다.
자세한 내용은 『Semiconductor Digest』에 실린 호르헤 우르타르테의 전문 기사를 참고하시기 바랍니다. 'Semiconductor Digest'의 '2025년 전망: 경영진의 관점'에서 조르주 우르타르테의 전체 기고문을 읽어보시기 바랍니다.
Jeorge S. Hurtarte 박사는 현재 테라다인(Teradyne)의 반도체 테스트 그룹에서 제품 마케팅 수석 이사로 재직 중입니다. Jeorge는 테라다인, 램 리서치(Lam Research), 라이트포인트(LitePoint), 트랜스위치(TranSwitch), 록웰 반도체(Rockwell Semiconductors)에서 다양한 기술, 관리 및 임원직을 역임했습니다. 그는 IEEE 802.11 Wi-Fi 표준 위원회의 의결권 있는 위원이며, IEEE 802.11ay 태스크 그룹의 서기를 맡고 있습니다. 조르지는 현재 IEEE 이종 통합 로드맵(HIR) 테스트 워킹 그룹의 공동 의장을 맡고 있으며, 캘리포니아 대학교 산타크루즈 캠퍼스와 피닉스 대학교의 객원 교수로도 활동하고 있습니다.