디지털 계측기
디지털 기능 테스트용 고성능 VXI 및 PXI 계측기.
테라다인의 Di-Series 및 eDigital-Series 디지털 테스트 장비는 저전압 차동 신호(LVDS)와 같은 기술을 지원하면서도 기존 테스트 요구 사항을 완벽하게 충족합니다. 뛰어난 신뢰성 외에도, 이 장비들은 테스트 시스템의 설치 공간을 줄이고, 프로그래밍 및 지원 업무 부담을 경감하며, 전반적인 소유 비용을 절감합니다.
The Di-Series 는 고도로 통합된 표준 기반 VXI 계측기로, 최대 50 MHz 속도의 피시험 장치(UUT) 테스트를 위한 뛰어난 성능과 유연성을 겸비하고 있습니다.
컴팩트한 PXIe 폼 팩터를 채택한 eDigital-Series 는 광범위한 애플리케이션 요구 사항을 충족하는 다양한 디지털 계측기를 제공합니다. 이 시리즈의 최신 모델은 핀별 전압 레벨 및 타이밍을 지원하는 최대 544채널의 동기화된 병렬 디지털 테스트 기능을 제공하며, 재구성성을 위한 사용자 프로그래밍 가능 FPGA를 결합하여 업계에서 가장 다재다능하고 유연한 디지털 계측기를 구현합니다.
장점
탁월한 성능.
TTL, LVTTL, LVDS 등 다양한 기술을 지원하는 유연한 병렬 기능 테스트로, 테스트 품질을 향상시키고 ‘No Fault Found(NFF)’ 오류 누출을 줄여줍니다.
고밀도 폼 팩터.
VXI와 PXIe 폼 팩터 모두 채널 밀도를 높이는 동시에 전체 테스트 시스템의 설치 공간을 줄여줍니다.
신뢰성과 내구성.
고밀도 패키징과 충격 및 진동 테스트를 포함한 엄격한 품질 관리를 통해, 가장 혹독한 선박 및 이동 환경에서도 낮은 평균 고장 간격(MTBF)을 보장합니다.
전 세계 지원.
제공되는 지원 서비스에는 결함 부품에 대한 24시간 수리 및 반품 서비스, 핫라인 전화 지원, 포괄적인 교육 및 문서 제공, 현장 교정 검증 등이 포함됩니다.
응용 분야
ATE 및 개별 테스트 시스템을 위한 고성능 디지털 계측기.
고밀도·소형 패키지에서 고성능 및/또는 다중 채널 기능이 필요한 신규 및 기존 ATE 시스템에 테라다인(Teradyne) 디지털 테스트 장비를 통합합니다.
구형이고 속도가 느린 개별(랙 마운트) 계측 장비를, 모든 테스트 채널에서 사용할 수 있는 고밀도 첨단 디지털 기능으로 교체하십시오.
구성
현재 및 향후 테스트 요구 사항을 충족할 수 있는 계측기 제품군을 선택하십시오. 두 계측기 모두 신규 또는 기존 ATE 시스템에 통합할 수 있습니다.
- VXI 폼 팩터
- 최대 50MHz
- 전압 범위: ±15V 또는 ±30V
- 채널 수: 32, 48 또는 64
- PXIe 폼 팩터
- 최대 25MHz
- 3V, 2.5V, 1.8V, LVDS 레벨 (5V 내성)
- 채널 수: 동적 채널 32개 및 정적 채널 32개, 또는 차동 채널 32개
