매그넘 7
오늘과 내일 진행되는 고성능 플래시 기말고사
테라다인의 Magnum 7은 최신 세대 NAND 플래시 디바이스를 테스트할 수 있도록 지능적으로 설계되었습니다. 고속 플래시 디바이스는 차세대 UFS 및 PCIe 애플리케이션의 구현을 가능하게 합니다. AI 혁명은 고성능 데이터 센터 SSD와 차세대 AI PC, 노트북, 모바일 기기에 저장된 방대한 양의 데이터에 힘입어 가속화되고 있습니다. Magnum 7의 최대 구성은 채널당 5.28Gbps의 속도로 최대 18,432개의 I/O 채널을 제공합니다.
장점
고성능
5.28Gbps 디지털 채널을 탑재한 Magnum7은 현재 및 차세대 NAND 디바이스 테스트를 위해 설계되었습니다. ONFI 및 SCA(Separate Command/Address) 인터페이스를 모두 지원하는 이 제품은 향후 수년간의 성능 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었습니다.
높은 병렬 처리 능력
Magnum 7 GV는 최대 18,432개의 I/O, 최대 4,096개의 피험 장치 전원 공급(DPS) 채널, 그리고 최대 4,096개의 고전압(HV) 핀으로 구성할 수 있습니다. 테라다인의 뛰어난 부피당 신호 효율을 통해 한 번에 최대 1,024개의 장치를 테스트할 수 있습니다.
고전류 PMU
Magnum 7의 대규모 병렬 고전류 PMU는 저항이 낮은 파라미터를 최단 시간 내에 측정할 수 있게 해줍니다.
확장성이 뛰어난
Magnum 테스터 제품군은 모두 동일한 하드웨어와 소프트웨어를 기반으로 하며, 다양한 구성으로 제공됩니다. 엔지니어링에 중점을 둔 EV 모델은 최소 4개의 테스터 사이트를 지원합니다. 중형 모델인 SSV+는 최대 96개의 테스터 사이트를 지원하며, 최대 병렬 처리 능력을 갖춘 GV 모델은 최대 128개의 테스터 사이트를 지원합니다. EV에서 수행된 개발 작업은 생산 환경용 SSV+ 또는 GV로 직접 배포할 수 있습니다.
테스트 시간 단축
테라다인의 독자적인 Fail List Stream(FLS) 기술과 하드웨어 가속 파라미터 스윕 기능을 결합하면 테스트 시간을 최대 25%까지 단축할 수 있습니다. Magnum 7에 탑재된 독보적으로 강력하고 유연한 패턴 생성기와 당사 애플리케이션 팀의 검증된 혁신 역량을 결합함으로써, 메모리 업계에서 타의 추종을 불허하는 성능을 제공합니다.
구성
매그넘 7 EV
- 최대 1,152개의 디지털 핀과 최대 256개의 피시험 장치(DUT) 전원 공급(DPS) 및 고전압(HV) 채널로 구성 가능한 독립형 저전력 엔지니어링 테스트 시스템입니다.
- 테스터 인터페이스 유닛(TIU)은 업계 표준 512 및 768 병렬 핸들러와 연결할 수 있습니다.
- 장치별 어댑터(DSA)와 테스트 프로그램은 Magnum 7의 모든 구성에서 완벽하게 호환됩니다.
매그넘 7 SSV+
- 최종 테스트 용도로 사용되는 대량 생산 테스트 시스템으로, 최대 13,824개의 디지털 핀과 3,072개의 DPS 및 HV 채널로 구성 가능합니다.
- TIU는 업계 표준 512 및 768 병렬 핸들러와 연결할 수 있습니다.
- DSA 및 테스트 프로그램은 EV 및 GV 구성과 완벽하게 호환됩니다.
매그넘 7 GV
- 최종 테스트 용도로 사용되는 대량 생산 테스트 시스템으로, 최대 18,432개의 디지털 핀과 4,096개의 DPS 및 HV 채널로 구성 가능합니다.
- TIU는 업계 표준 512 및 768 병렬 핸들러와 연결할 수 있습니다.
- DSA 및 테스트 프로그램은 EV 및 SSV+ 구성과 완벽하게 호환됩니다.
소프트웨어
모든 Magnum 7 구성은 물론, 모든 Magnum 테스터는 상호 운용이 가능한 Teradyne 테스트 개발 및 디버그 도구를 공유하여 서로 다른 플랫폼 간의 원활한 협업을 가능하게 합니다. 테스트 프로그램은 단일 장치를 대상으로 작성된 후 사용 가능한 하드웨어 전반에 자동으로 복제되므로 개발 프로세스가 간소화됩니다. 또한 이 디버그 도구 모음은 사이트별 특성을 인식하므로 문제 발생 장치를 신속하고 효율적으로 격리할 수 있으며, 신제품 출시 단계에서 대량 생산 단계로의 전환을 원활하게 지원합니다.