UltraFLEXplus
세계 최고의 반도체 테스트 플랫폼
UltraFLEXplus UltraFLEXplus는 새로운 장비 및 소프트웨어 기능을 혁신적인 테스터 인프라와 결합하여 처리량과 엔지니어링 효율성을 획기적으로 향상시킵니다. 이는 UltraFLEX의 오랜 역사 동안 축적된 테스트 IP를 모두 활용하는 동시에 이루어집니다.
장점
최단 기간 내 양산
IG-XL 소프트웨어의 호환성과 새로운 Broadside 애플리케이션 인터페이스를 통해 테스트 엔지니어들은 초기 단계부터 생산성을 높일 수 있으며, 양산까지 걸리는 시간을 20% 이상 단축할 수 있습니다.
최대 처리량
새로운 UltraFLEXplus 테스트 사이트 수를 늘리고 병렬 테스트 효율을 향상시켜 전체 처리량을 증가시키며, 필요한 테스트 셀 수를 15%~50% 줄여줍니다.
확장 가능한 아키텍처
UltraFLEXplus 여러 제품 라인에 재구축할 UltraFLEXplus 있으며 향후 제품 요구 사항에 맞춰 업그레이드할 수 있어, 재사용성을 높이고 자산의 수명을 연장합니다.
응용 분야
- 모바일 애플리케이션 프로세서
- 디지털 베이스밴드 프로세서
- 고속 데이터 전송률 RF 트랜시버
- RF 연결 장치
- 밀리미터파
- 5G
- 모바일 전원 관리 IC(PMIC)
- 마이크로프로세서
- 네트워크 프로세서
- 고속 SERDES(직렬화기/역직렬화기) 및 백플레인 트랜시버
- 스토리지
- 고성능 마이크로컨트롤러
- 오디오 및 비디오 프로세서
구성
UltraFLEXplus 고객이 자본 비용, 설치 공간 및 최대 리소스 수를 최적화할 수 있도록 지원하는 3가지 기본 시스템을 UltraFLEXplus . 세 가지 버전 모두 Broadside DIB를 채택하여 더 높은 밀도와 더 많은 사이트 수를 구현하고 배선 작업을 간소화합니다.
UltraFLEXplus
24슬롯 시스템
UltraFLEXplus
12슬롯 시스템
UltraFLEXplus
6슬롯 시스템
새로운 고성능 3세대 기기 제품군
AC 인스트루먼트
UltraPAC300 – 차세대 고밀도 아날로그 계측기
- 고성능 오디오 및 베이스밴드 AC 계측기
- 최대 300MHz까지 지원
- 고속 및 고해상도 채널을 지원하는 듀얼 모드
UltraCTO384 – 고성능, 고밀도 컨버터 테스트 옵션
-
128개의 소스 채널, 128개의 캡처 채널, 128개의 참조 채널
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최대 16비트 분해능의 단일 종단 및 차동 내장형 컨버터 테스트
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정속 주행 테스트를 위한 사인파 및 부드러운 램프 생성
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디바이스 트림에 대한 ±50uV 전압 측정 정확도
-
소스 및 기준 전압에 대한 DUT 전압 감지
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소스부터 레퍼런스까지의 통합 교정 방식은 DIB 회로 구성을 최소화하여 높은 사이트 수를 구현할 수 있게 합니다
RF 계측기
- 기기당 8개의 독립적인 송신기와 8개의 독립적인 수신기
- 기기당 32개의 양방향 포트
- 50 MHz에서 24 GHz까지의 주파수 대역
- 최첨단 오류 벡터 크기(EVM) 및 위상 잡음 성능
- 최적화된 테스트 성능과 비용을 제공하도록 구성 가능
- 500 MHz I/Q 대역폭 지원
- 기기당 16개의 차동 입력 채널 및 16개의 차동 출력 채널
- WiFi 7의 경우 전형적으로 -50dB에 달하는 뛰어난 오차 벡터 크기(EVM) 성능
- 핀당 파라메트릭 단위(PPMU) 기능
DC 인스트루먼트
UltraVS256-HP – 고밀도, 높은 유연성을 갖춘 범용 장치용 전원 공급 장치
- 기기당 256채널
- 유연한 병합 기능
- 뛰어난 주행 성능
- 저소음
- 4사분면 전압 또는 전류 발생 및 측정
UltraVS64 – 차세대 코어 전원 공급 장치
- 디바이스 코어 전원 공급을 위한 매우 정밀하고 안정적인 소스
- 타의 추종을 불허하는 역동적인 성능
- <1mV 6 Sigma voltage accuracy
- 기기당 최대 320A의 전원 공급
- 단일 전원 공급 장치로 최대 1,600A까지 병합 가능
- 시스템 전체에서 최대 2,560A의 순간 전류 변화를 지원합니다
UltraVI264 – 고정밀, 고밀도 DC 계측기
- 104개의 저전압 채널을 248개의 연결로 다중화
- 8개의 고전압 채널을 16개의 연결로 다중화
- USB 충전 표준을 위한 유연한 채널 병합
- 고정밀 DC 측정
High-Speed I/O HSIO) 계측기
UltraPHY: 포괄적인 PHY 성능 테스트 지원
UltraPHY 224G
- 기기당 8개의 전이중 차동 레인 + 8개의 수신 전용 차동 레인
- 최대 112 Gb/s NRZ 및 224 Gb/s(112 Gbaud) PAM4 테스트 데이터 전송 속도
- 극한의 데이터 전송 속도에서도 높은 밀도 구현; UltraFLEXplus 여러 대의 계측기 지원
- UltraFLEXplus에서 다른 업계 선도적인 UltraPHY 계측기 모델들과 함께 사용 가능합니다
- 포괄적인 PHY 생산 테스트 및 특성 분석을 위한 DSO + BERT 아키텍처
- 테라다인의 널리 보급된 IG-XL 소프트웨어를 통한 통합 워크플로우
- PAM4 및 NRZ와 관련된 대부분의 눈 관련 측정값(높이, 너비, TDECQ 등)을 지원합니다.
- 대표적인 적용 사례: PCIe Gen 7, OIF CEI-224G, CXL, 실리콘 포토닉스(SiPHO) 등
UltraPHY 112G
- 16개의 전이중 차동 채널
- 최대 64 Gb/s NRZ 및 112 Gb/s(56 Gbaud) PAM4 테스트 데이터 전송 속도
- 고밀도; UltraFLEXplus 1대당 여러 대의 계측기를 연결할 수 있음
- UltraFLEXplus에서 다른 업계 선도적인 UltraPHY 계측기 모델들과 함께 사용 가능합니다
- 포괄적인 PHY 생산 테스트 및 특성 분석을 위한 AWG + DSO 아키텍처
- 테라다인의 널리 보급된 IG-XL 소프트웨어를 통한 통합 워크플로우
- UltraPHY 224G로의 업그레이드 경로: 투자를 장기적으로 보장
- NRZ 및 PAM4와 관련된 높이, 너비, SNR 등 대부분의 눈도표 관련 측정 항목을 지원합니다.
- 대표적인 적용 사례: PCIe Gen 1~Gen 6, OIF CEI-112G, IEEE 802.3ck 이더넷, 실리콘 포토닉스(SiPHO) 등
디지털 계측기
UltraPin2200 – 차세대 디지털 계측기
- 고밀도, 기기당 512채널
- 악기당 32개의 패턴 생성기를 통해 동시 테스트 또는 사이트별 고유한 패턴 흐름을 지원
- 독점적인 하드웨어 기반 프로토콜 인식 기능
- 비결정적 데이터 테스트를 위한 전용 메모리
- 유연한 패턴 메모리 통해 최대 16Gbit의 스캔 테스트 용량 지원
- 사이트 간 데이터 공유
이미지 캡처 장비
- 20Gbps 데이터 전송 속도
- 핀당 PPMU
- 프로토콜 인식
- 기기당 64개의 차동 채널 (64 – 기기 수신부)
- 16 – 3~4차선 항구; 32 – 2차선 항구; 64 – 1차선 항구
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기기당 4 x 100GbE 데이터 전송 대역폭
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16개의 차동 레인당 100GbE
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Photon 100
Teradyne Photon 100 첨단 광학 및 전기 계측 장비를 UltraFLEXplus 통합함으로써 웨이퍼, 광학 엔진 및 공동 패키징 모듈 단계 전반에 걸쳐 고처리량의 자동화 테스트를 Photon 100 . 이를 통해 운영이 간소화되고 시장 출시 기간이 단축되며, 확장 가능한 실리콘 포토닉스 제조를 지원합니다.
UltraFLEX Family
UltraFLEX 테스터 제품군은 고객의 기존 투자를 활용하여, 포괄적인 계측 장비와 업계 표준인 IG-XL 소프트웨어를 통해 새로운 테스트 프로그램을 개발하고 배포하는 데 필요한 엔지니어링 작업을 줄이는 데 주력하고 있습니다. IG-XL 소프트웨어는 10,000명 이상의 활성 프로그래머가 사용하고 있으며, UltraFLEX의 오랜 역사 동안 지속적으로 개선되어 왔습니다.
테라다인(Teradyne)은 종합적인 테스트 셀 솔루션 및 서비스 분야의 선도 기업으로서, 당사의 전문 지식, 풍부한 경험, 그리고 기술 리더십을 바탕으로 고객사가 생산 과정에서 최고의 수율과 처리량을 달성하고 시장 출시 기간을 단축할 수 있도록 지원합니다. 당사는 설계 단계부터 양산 단계에 이르기까지 고객과 협력하여 표준 및 맞춤형 테스트 셀 제품과 서비스를 제공합니다.