VXI 아날로그 계측기
고급 병렬 테스트 기능을 갖춘 아날로그 테스트 장비로 테스트 처리량을 높입니다.
Ai-710은 코어 시스템 계측기(CSi)로, 단일 슬롯 방식의 다기능 VXI 아날로그 테스트 장비입니다. 이 장비는 최신 피시험 장치(UUT)에 대해 종종 불충분한 테스트 범위를 제공하는 여러 대의 개별 계측기를 더 이상 사용할 필요가 없게 해줍니다. 또한 단일 슬롯 VXI 폼 팩터 덕분에 테스터의 설치 공간도 줄일 수 있습니다.
이 장비의 기능에는 디지털 멀티미터(DMM), 함수 발생기, 파형 발생기, 디지타이저, 타이머/카운터 등이 포함됩니다. 핀당 다중 채널 테스터 아키텍처를 통해 여러 UUT 포트를 병렬로 테스트할 수 있어 처리 속도를 높일 수 있습니다.
이러한 기능들의 조합 덕분에, 기존 테스트 시스템을 업그레이드 중인 방위 및 항공우주 분야 시스템 통합업체들에게 이상적인 아날로그 계측기로 자리매김하고 있습니다. 이 모든 요소가 결합되어 테스트 성능 향상, 처리 속도 증대, 테스트 장비 설치 공간 축소, 그리고 기존 ATE의 테스트 비용 절감이라는 결과를 가져옵니다.
장점
핀당 테스터 아키텍처.
모든 채널에서 독립적인 자극/측정 기능을 제공하여 인터페이스 테스트 어댑터(ITA) 설계를 대폭 간소화하고 매트릭스 스위칭의 필요성을 없애줍니다.
병렬 시스템 신호 에뮬레이션.
전체 시스템 전달 함수 테스트를 포함한 실시간 신호 에뮬레이션을 구현하고, 결함이 있는 피시험 장치(UUT) 채널 간 상호작용으로 인한 문제를 파악하여 테스트의 전반적인 품질을 향상시킵니다.
기존 아날로그 계측기의 물리적 통합.
테스트 시스템의 설치 공간을 줄이면서 모든 테스트 채널에서 고밀도 아날로그 기능을 구현합니다.
상용 기성품(COTS) 아키텍처.
전반적인 수명 주기 비용을 절감하는 동시에, 변화하는 테스트 복잡성 요구 사항을 충족하기 위해 기존 ATE 시스템의 유연성, 구성 가능성 및 신뢰성을 향상시킵니다.
신뢰성과 내구성.
고밀도 패키징과 충격 및 진동 테스트를 포함한 엄격한 품질 관리를 통해, 가장 혹독한 선박 및 이동 환경에서도 낮은 평균 고장 간격(MTBF)을 보장합니다.
전 세계 지원.
제공되는 지원 서비스에는 결함 부품에 대한 24시간 수리 및 반품 서비스, 핫라인 전화 지원, 그리고 포괄적인 교육 및 문서 자료가 포함됩니다.
응용 분야
ATE 시스템 업그레이드에 이상적입니다.
방위 및 항공우주 분야에서 사용 중인 기존 ATE 시스템을 업그레이드하여, 개별적인 다중 슬롯 계측 장비를 단일 VXI 계측기로 통합함으로써, 공장이나 정비소에서 WRA/LRU 피시험 장치(UUT)에 대한 테스트 범위를 확대하고, 지속적으로 변화하며 대개 더 까다로워지는 기술적 테스트 요구 사항을 충족합니다.
구성
모든 시스템 업그레이드 요구 사항을 충족할 수 있는 다양한 구성 옵션.
Ai-710: 32채널, 각 채널에 함수 발생기, 임의파형 발생기, 디지타이저, 디지털 멀티미터, 한계 검출기, 타이머-카운터 탑재