다용도 VXI 아날로그 계측기
표준 기반 테스트 도구는 기존 기능과 첨단 병렬 테스트 기능을 결합합니다.
Core Systems Instruments(CSi) 제품군의 Ai-760 시리즈 최신 모델인 Ai-762는 기존 계측기들을 단일 슬롯 VXI 패키지로 통합한 표준 기반 통합 테스트 및 계측 도구입니다.
이 솔루션은 ATE 아날로그 및 혼합 신호 테스트 기능을 강화하고, 여러 대의 개별 계측기를 대체하며, 테스트 장비의 설치 공간을 줄여줍니다.
Ai-762는 디지털 멀티미터(DMM), 디지털 샘플링 오실로스코프(DSO), 핀당 다중 채널 테스터 기능(파형 발생기, 디지타이저, 타이머/카운터)을 포함한 광범위한 아날로그 기능을 제공하여, 피시험 장치(UUT)에 대한 병렬 자극 및 측정이 가능합니다.
이러한 기능 덕분에 본 제품은 기존 테스트 프로그램 세트(TPS)를 활용하면서도 첨단 작동 테스트의 이점을 누려야 하는 ATE 시스템 통합업체에게 이상적인 아날로그 자극/측정 장비입니다. 이러한 기능들은 뛰어난 테스트 성능, 더 빠른 처리 속도, 그리고 전반적인 테스트 비용 절감을 가능하게 합니다.
장점
다기능 아날로그(MFA) 채널을 갖춘 완전한 아날로그 서브시스템.
ATE 시스템의 성능을 향상시키면서 운영 비용과 TPS 개발 비용을 절감합니다.
기존 아날로그 계측기의 물리적 통합.
테스트 시스템의 설치 공간을 줄이면서 기능 테스트 밀도를 높였습니다.
병렬 테스트 기능.
여러 포트를 동시에 테스트하여, 결함이 있는 UUT 채널 간 상호작용으로 인한 문제를 파악함으로써 전반적인 테스트 품질을 향상시킵니다.
핀당 테스터 채널.
총 8개(또는 16개)의 MFA 채널이 독립적으로 동시에 작동하여 처리 속도를 높이고 복잡한 테스트 프로토콜을 지원합니다.
운행 테스트 기능.
피시험 장비(UUT)의 작동 조건을 모사할 수 있는 기능 덕분에 생산 테스트와 현장 테스트 모두에서 결함 포착 범위가 확대됩니다.
전 세계 지원.
제공되는 지원 서비스에는 결함 부품에 대한 24시간 수리 및 반품 서비스, 핫라인 전화 지원, 그리고 포괄적인 교육 및 문서 자료가 포함됩니다.
응용 분야
Ai-762 계측기는 광범위한 응용 분야를 아우르는 다양한 핵심 테스트 기능을 갖추고 있습니다.
- 기존 ATE 시스템에서 개별적인 다중 슬롯 계측 장비를 단일 슬롯 VXI 계측 장비로 통합하여, 공장이나 정비소에서 WRA/LRU 테스트를 보다 효율적으로 수행할 수 있도록 합니다.
- 진정한 병렬 작동 테스트가 가능하도록 자극과 측정을 동시에 수행하는 새로운 ATE 시스템을 설계하고 구현합니다.
- 여러 UUT 포트에 대한 병렬 테스트를 통해 테스트 처리량을 높입니다.
구성
Ai-762는 다양한 구성으로 제공됩니다:
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8채널 MFA |
16채널 MFA | DMM |
DSO |
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Ai-762-10 |
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Ai-762-20 |
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Ai-762-50 |
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Ai-762-60 |
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| Ai-762-70 | • |
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