생산 보드 테스트
프레임스캔 테크놀로지스
벡터리스 테스트 기술
프레임스캔(Framescan)은 부품 패키지와 커넥터의 개방 핀을 감지하는 데 사용되는 벡터 없는 검사 기술입니다. 프레임스캔 사용의 장점은 다음과 같습니다:
- 소형 리드 프레임 패키지와 커넥터에 대한 결함 탐지 범위를 확대합니다
- 테스트 프로그램 개발을 간소화합니다
- 시험 환경에서 발생할 수 있는 소음의 영향을 덜 받는다.
테라다인의 Framescan 기술은 다음과 같은 기능을 갖추고 있습니다:
- 빠르고 간편한 테스트 프로그램 개발
- 자동화된 학습 프로세스 기능
- 높은 핀 결함 탐지율
- 정확한 핀 레벨 진단
- 고급 Framescan FX 하드웨어
- 바운더리 스캔 자극 옵션은 축소된 액세스 테스트를 지원합니다
아날로그 프레임스캔은 테스터의 아날로그 계측기에서 생성된 AC 사인파를 사용하여 프레임스캔 자극 신호를 제공하는 비전원 방식의 테스트 기법입니다. 아날로그 프레임스캔 기법을 사용하려면 테스터가 테스트 대상 핀에 물리적으로 프로브를 접촉할 수 있어야 합니다.
주요 기능은 다음과 같습니다:
- 전원 공급 없이 수행하는 시험 방법
- 표준 ICT 계측 장비를 사용합니다
- 검증된 오픈 핀 결함 감지
- IC 패키지, 소켓, 커넥터 및 극성 콘덴서에 적용됩니다
- 자동화된 학습 과정
- 고급 Framescan FX 하드웨어
Junction Xpress는 집적회로의 납땜 불량(솔더 오픈)을 식별하기 위한 리드 프레임 없는 테스트 기술입니다. Junction Xpress는 MCB 및 COB 기술을 포함한 내부 리드 프레임이 없는 IC 소자를 손쉽게 테스트할 수 있습니다. 또한 Junction Xpress는 20~50옴 범위를 초과하는 저항값을 보이는 경계선상의 납땜 접합부도 식별할 수 있습니다.
주요 기능은 다음과 같습니다:
- 고정 장치의 과도한 조임이나 추가적인 전자 부품이 필요하지 않습니다
- Xpress 테스트 프로그램은 몇 분 만에 자동으로 생성되며, 수동 디버깅 없이 바로 실행할 수 있습니다.
- AC 및 DC 자극 소스를 활용할 수 있으며 디지털 전압계를 측정할 수 있습니다
- 오늘날의 최신 집적 회로 부품에 대해 90~100%의 결함 탐지율을 제공합니다
파워드 프레임스캔(Powered Framescan)은 보드상의 바운더리 스캔 장치가 생성한 디지털 파형을 자극 신호로 활용하는 전원이 공급되는 테스트 기법입니다. 파워드 프레임스캔 도구는 바운더리 스캔 장치를 통해 자극 신호를 생성하므로, 테스터가 해당 네트에 물리적으로 접근할 수 없는 경우에도 장치 핀의 결함을 감지할 수 있습니다.
주요 기능은 다음과 같습니다:
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- 물리적 테스트 접속이 불가능한 핀의 결함을 감지합니다
- 바운더리 스캔과 프레임스캔 기술을 결합
- 자동 테스트 생성 및 학습 모드
- 기존의 Framescan FX 하드웨어 및 테스터 장비를 활용하십시오
- 이 혁신적인 시간 영역 기법은 주파수에 영향을 받지 않는다
