eDigital-Series™ Digital Test Instrumentation
LVDS 기술에 대한 병렬 디지털 테스트를 지원하는 PXIe 디지털 계측기.
방위 및 항공우주 분야의 박스 및 보드 설계에는 저전압 TTL(LVTTL) 및/또는 저전압 차동 신호(LVDS) 기술이 자주 사용되며, 경계 스캔 및 병렬 I/O 플래시 프로그래밍 테스트 기능이 필요한 경우가 많습니다. eDigital-Series -2V에서 +6V 사이의 논리 전압을 사용하는 피시험 장치(UUT)에 대해 유연한 병렬 디지털 기능 테스트를 제공합니다.
테라다인의 eDigital IVI 드라이버는 최대 1,600만 개의 패턴 깊이와 메모리 갖춘 32개 채널에서 핀별 타이밍 및 전압 레벨, 데이터 형식, 패턴 데이터, 타이밍 정렬을 포함한 모든 병렬 디지털 기능 테스트 매개변수를 제어합니다. eDigital-Series 최신 장비를 활용하면 테라다인의 비접촉 공기 결합 신호 기술(CFAST)을 통해 최대 544개의 동기화된 채널을 구현할 수 있습니다.
eDigital-Series 또한 이러한 최신 피시험 장치(UUT)에 흔히 탑재된 바운더리 스캔, 병렬 I/O 및 플래시 프로그래밍 기능을 활용합니다. 컴팩트한 PXIe 폼 팩터로 설계된 eDigital-Series 독립형 계측기로 사용하거나 통합 HSSub 일부로 구성할 수 있습니다.
장점
탁월한 LVTTL 및 LVDS 디지털 테스트 성능.
이 제품의 -2V~+6V 디지털 채널은 가상 계측기 내에서 최대 544개의 싱글 엔디드 채널에 걸쳐 최대 50MHz의 데이터 메모리 16MB의 패턴 심도와 메모리 기능을 제공합니다.
바운더리 스캔을 통한 디바이스 프로그래밍 및 타사 바운더리 스캔 지원.
JTAG, Asset, Corelis 및 Acculogic 바운더리 스캔 도구를 지원합니다.
eDigital 소프트웨어 드라이버.
최신 디지털 테스트 에디터(eDTE)를 사용하여 프로그래밍할 수 있는 32개의 싱글 엔드 채널 전반에 걸쳐 핀별 타이밍, 데이터 형식 및 데스키우를 완벽하게 제어할 수 있습니다.
PXIe 폼 팩터.
컴팩트한 폼 팩터로 성능 밀도를 극대화하는 동시에 테스트 시스템의 설치 공간을 줄여줍니다.
신뢰성과 내구성.
고밀도 패키징과 충격 및 진동 테스트를 포함한 엄격한 품질 관리를 통해, 가장 혹독한 선박 및 이동 환경에서도 낮은 평균 고장 간격(MTBF)을 보장합니다.
전 세계 지원.
제공되는 지원 서비스에는 결함 부품에 대한 24시간 수리 및 반품 서비스, 핫라인 전화 지원, 포괄적인 교육 및 문서 제공, 현장 교정 검증 등이 포함됩니다.
응용 분야
eDigital-Series 제품군은 광범위한 응용 분야를 아우르는 다양한 핵심 테스트 기능을 갖추고 있습니다.
eDigital-Series 다음과 같습니다:
- 병렬 디지털 테스트
- 단일 종단 및 차동 디지털 테스트
- 기존 방식, 병렬 I/O 및 플래시 프로그래밍(바운더리 스캔I2C+ SPI를 통해)과 HSSub 통한 PCI
구성
eDigital-Series 독립형 기기로 제공되거나 HSSub 제품군의 일원으로 eDigital-Series :
구성 옵션은 다음과 같습니다:
- eDigital-6030
- eDigital-6020A
- eDigital-6025A
- HSSub
- HSSub(깔때기 포함)
- HSSub
시스템 옵션
추가 기능 및 액세서리
- 선택 사양인 인터페이스 어댑터 및 케이블
- 선택적 연장 보증/사전 교체 서비스