NAND 프로토콜 테스트 향상을 위한 Magnum VUy - Teradyne

NAND 프로토콜 테스트 향상을 위한 Magnum VUy

Magnum V 플랫폼을 위한 초고성능 NAND 프로토콜 테스트 기능 강화

테라다인의 Magnum VUy 시스템은 모든 NAND 및 MCP 제품을 위한 유연한 통합 테스트 플랫폼으로, 최첨단 UFS 4.1, uMCP, PCIe Gen 5 모바일 및 자동차용 디바이스는 물론 ONFI 및 토글 NAND, 그리고 UFS 3.1, PCIe Gen 4, e.MMC, eMCP와 같은 기존 MCP까지 폭넓게 지원합니다.

프로토콜 NAND

장점

유연한

Magnum VU는 차세대 모바일 및 자동차용 디바이스인 UFS 4.1과 PCIe Gen 5의 프로토콜 테스트는 물론, 이전 세대 모바일 디바이스인 UFS 3.1 및 PCIe Gen 4를 포함한 모든 NAND 테스트를 독보적으로 아우르는 유연한 슈퍼셋 테스트 플랫폼입니다. 또한 e.MMC는 물론, ONFI, 토글(Toggle), 그리고 솔리드 스테이트 드라이브(SSD)용 원시 NAND까지 테스트할 수 있습니다. 이러한 유연성 덕분에 차세대 NAND 테스트 역량 및 엔지니어링에 대한 투자 위험을 최소화할 수 있습니다.

확장 가능한

Magnum VU는 장기적인 사용을 염두에 두고 설계된 확장성 있는 테스트 플랫폼입니다. 고객들이 테스트 플랫폼에 투자한 가치를 최대한 활용할 수 있도록, 테라다인은 유니버설 프로토콜 보드(UPB)를 쉽게 업그레이드할 수 있도록 설계했습니다. 초기 UPB에 이어 현재 UPBx와 UPBy가 출시되었으며, 차세대 기술이 등장하면 UPBz가 출시될 예정입니다.

최고의 성능과 최고의 처리량

Magnum VUy는 고성능, 고처리량 테스트 플랫폼입니다. 테라다인은 테라다인 기술을 활용하여 UPBy 장비를 소형화함으로써 테스트 패러다임을 근본적으로 변화시켰습니다. 테스트 장비와 피테스트 장치(DUT) 간의 기존 케이블 연결을 완전히 제거하고, UPBy를 소켓 보드에 직접 도킹하는 방식을 도입한 것입니다. '근접 DUT 테스트(NDT)'라고 불리는 이 아키텍처는 신호 경로를 획기적으로 단축하고, 성능을 향상시키며, 지연 시간을 줄여 실제 시스템 환경을 가장 가깝게 재현합니다.

응용 분야

  • UFS 4.1 및 UFS 3.1
  • NVMe 및 사용자 정의 프로토콜
  • PCIe 5세대 및 4세대
  • eMMC
  • 토글 NAND
  • 기존 NAND
  • ONFI 플래시
  • MCP
  • eMCP
  • uMCP

구성

매그넘 VU EV

  • 테스트 프로그램 개발 및 장치 디버깅을 위한 독립형 엔지니어링 테스트 시스템
  • 최대 16개의 UPBy를 구성하여 64개의 UFS 4.1 또는 PCIe Gen 5 장치(1~2 레인)를 테스트할 수 있습니다.
  • Magnum VU SSV 및 GV 생산 시스템과 100% 호환되는 전자 장치, 소프트웨어, DSA, 캘리브레이션 및 진단 기능

매그넘 VU SSV

  • 대량 생산 및 최종 테스트 용도
  • 최대 128개의 UPBy를 구성하여 512개의 UFS 4.1 또는 PCIe Gen 5 장치(1~2 레인)를 테스트할 수 있습니다.
  • 테라다인(Teradyne) 수직 평면 매니퓰레이터와 통합되어 업계 표준 디바이스 핸들러에 효율적으로 도킹할 수 있습니다

매그넘 VU GV

  • 대량 생산 및 최종 테스트 용도
  • 최대 192개의 UPBy를 구성하여 768개의 UFS 4.1 또는 PCIe Gen 5 장치(1~2 레인)를 테스트할 수 있습니다.
  • 테라다인(Teradyne) 수직 평면 매니퓰레이터와 통합되어 업계 표준 디바이스 핸들러에 효율적으로 도킹할 수 있습니다