대부분의 저가형 MCU에는 10비트 또는 12비트 ADC가 내장되어 있습니다. 이러한 ADC를 테스트하려면 일반적으로 패턴과 동기화되어 램프 신호를 구동할 수 있는 정밀한 아날로그 계측기가 필요합니다. 특히 웨이퍼 테스트에서 테스트 사이트 수가 많아질 경우, 이러한 정밀 계측기가 다수 필요하게 되어 테스트 비용이 증가할 수 있습니다. UltraFLEXplus 디지털 계측기는 핀당 PMU를 갖추고 있으며, 그 정확도와 선형성은 10비트 및 12비트 ADC 테스트에 적합합니다. 각 핀 뒤에 PMU가 배치되어 있어 여러 사이트나 ADC 입력을 병렬로 테스트하여 테스트 시간을 단축할 수 있습니다. 또한, PMU는 임계값 테스트나 트리밍을 위한 램프 구동에도 사용할 수 있습니다. 지금까지 PMU를 패턴과 동기화하려면 패턴 CPU 플래그를 사용하여 패턴과 인터포즈 기능 사이를 반복적으로 오가야 했습니다. 이러한 사용 방식은 패턴과 인터포즈 기능 간의 핸드셰이킹으로 인해 불필요한 복잡성과 오버헤드를 초래했습니다. 중간 기능 없이도 패턴과 동기화된 램프 생성을 지원하는 새로운 PMU 기능이 도입되었습니다. 이는 테스트 개발을 간소화하고 UltraFLEXplus PACE 아키텍처 및 백그라운드 처리를 최적화합니다. 본 논문에서는 이 새로운 기능의 사용 방법과 패턴 모듈과 신호를 동기화하는 기능을 설명합니다. 이어서 양산 중인 실제 디바이스에서 솔루션의 유효성을 입증하고, 더 정밀한 계측기를 사용한 솔루션과 비교할 것입니다.