ZT 시리즈
ZT 시리즈 모듈형 디지타이저, 디지털 스토리지 및 파형 발생기는 국방 및 항공우주, 반도체 테스트, 산업 제어 및 자동화 분야에서 널리 사용되는 다양한 테스트 및 계측 애플리케이션을 지원합니다. ZT 시리즈 오실로스코프와 파형 발생기는 뛰어난 성능을 제공하며, 모든 테스트 시스템이나 테스트 애플리케이션에 손쉽게 통합될 수 있도록 업계 표준을 준수합니다. 모든 ZT-시리즈 계측기는 유연하고 사용하기 쉬운 소프트웨어 라이브러리와 직관적이며 사용자 친화적인 그래픽 사용자 인터페이스(GUI) 애플리케이션을 지원합니다. ZT-시리즈 계측기의 내장 신호 처리 및 측정 기능은 데이터 수집 및 분석 작업을 가속화합니다.
ZT 시리즈 계측기는 PXI, VXI, LXI 등 다양한 폼 팩터로 제공됩니다.
ZT4600 시리즈 고속·대역폭 오실로스코프
주요 기능:
- 최대 2 GS/s(ZT462x) 및 4 GS/s(ZT461x)의 높은 실시간 샘플링 속도
- PXI, LXI 및 VXI 형식으로 제공됩니다
- 2채널 및 4채널 모듈 제공
- 최대 500 MHz(ZT462x) 및 1 GHz(ZT461x)의 대역폭
- 온보드 신호 처리
- LabVIEW 및 LabWindows/CVI와 같은 타사 도구와 호환됩니다
- Z-Scope GUI 애플리케이션과 호환됩니다
ZT4400 시리즈 고해상도 오실로스코프
주요 기능:
- 고해상도 12비트(ZT442x) 및 14비트(ZT444x) 오실로스코프
- PXI, LXI 및 VXI 형식으로 제공됩니다
- 2채널 및 4채널 모듈 제공
- 최대 1GS/s의 실시간 인터리브 샘플링 속도
- 최대 500 MHz 대역폭
- 온보드 신호 처리
- LabVIEW 및 LabWindows/CVI와 같은 타사 도구와 호환됩니다
- Z-Scope GUI 애플리케이션과 호환됩니다
ZT4200 시리즈 고전압 범위 오실로스코프
주요 기능:
- 최대 400 Vpp의 넓은 입력 전압 범위
- PXI, LXI 및 VXI 형식으로 제공됩니다
- 2채널 및 4채널 모듈 제공
- 최대 1GS/s의 실시간 인터리브 샘플링 속도
- 온보드 신호 처리
- LabVIEW 및 LabWindows/CVI와 같은 타사 도구와 호환됩니다
- Z-Scope GUI 애플리케이션과 호환됩니다
ZT5200 시리즈 파형 발생기
주요 기능:
- 18가지 표준 파형을 지원하는 함수 발생기
- 임의 파형 발생기, 채널당 32M 샘플
- 14비트 분해능
- PXI, LXI 및 VXI 형식으로 제공됩니다
- 2채널 및 4채널 모듈 제공
- 50 MHz 대역폭
- ±14V 범위
- LabVIEW 및 LabWindows/CVI와 같은 타사 도구와 호환됩니다
- Z-Wave GUI 애플리케이션과 호환됩니다
