국방 및 항공우주 분야에서 사용되는 생산 및 정비소 테스트 시스템에 여전히 남아 있는 구형 아날로그 계측기는 종종 처리 속도 저하, 불충분한 테스트 커버리지, 그리고 LRU(현장 교체 가능 장치)에 대한 부정확한 결함 진단을 초래하는데, 특히 성능 사양이 더욱 엄격해진 최신 장치의 경우 이러한 문제가 두드러집니다.
테라다인은 두 가지 계열의 아날로그 테스트 장비를 제공합니다
- VXI 기반 핵심 시스템 계측기(CSi)
- ZT 시리즈 PXI/LXI 계측기.
두 제품군 모두 오늘날의 까다로운 테스트 요건을 충족할 뿐만 아니라 기존 ATE 시스템의 테스트 성능도 향상시켜 줍니다.
CSi 제품군에는 디지털 샘플링 오실로스코프(DSO), 디지털 멀티미터(DMM), 다기능 아날로그(MFA) 기능이 포함되어 있어 신규 및 기존 ATE 시스템 모두에 이상적입니다. 여러 CSi 계측기는 테스트 처리량을 높여주는 다중 채널 병렬 동기화 기능을 갖추고 있습니다.
컴팩트한 PXI 또는 LXI 기반의 ZT 시리즈 디지털 스윙 오실로스코프(DSO) 및 임의파형 발생기(AWFG)는 설치 공간을 절약해야 하는 새로운 자동 테스트 장비(ATE) 시스템에 이상적입니다.
장점
여러 CSi 계측기에서 지원하는 핀당 테스터(Tester-per-pin) 아키텍처.
모든 CSi 아날로그 채널에 완전한 자극/측정 기능을 통합하여 인터페이스 테스트 어댑터 설계를 간소화합니다.
광범위한 사양에 걸쳐 뛰어난 테스트 성능.
두 제품군 모두 높은 처리량의 테스트를 제공하며, 혼합 신호 LRU(Line Replaceable Unit)와 같은 복잡한 시스템에 대한 병렬 자극/측정 기능을 지원합니다.
고기능 밀도 폼 팩터.
VXI와 PXIe 폼 팩터 모두 채널 밀도를 높이는 동시에 전체 테스트 시스템의 설치 공간을 줄여주며, 비용도 절감합니다.
COTS 아키텍처.
자극 및 측정 유연성과 높은 신뢰성을 제공함과 동시에 데이터 수집 비용을 절감하여, 결과적으로 수명 주기 비용을 낮춥니다.
전 세계 지원.
제공되는 지원 서비스에는 결함 부품에 대한 24시간 수리 및 반품 서비스, 핫라인 전화 지원, 그리고 포괄적인 교육 및 문서 자료가 포함됩니다.
응용 분야
ATE 및 기존 테스트 시스템을 위한 고성능 아날로그 계측기.
고밀도·소형 패키지에서 고성능 및/또는 다중 채널 자극 측정 기능을 필요로 하는 새로운 혼합 신호 ATE 시스템을 위한 최적의 테스트 및 측정 솔루션입니다.
구형이고 속도가 느린 개별형(랙 마운트) 시험 및 계측 장비를, 모든 시험 채널에서 고밀도의 첨단 아날로그 기능을 제공하는 장비로 교체하십시오.
