J750Ex-HD Family
高效率、低成本測試的業界標準
全球每年生產數十億顆半導體，而測試要求各不相同。J750Ex-HD 為複雜度較低的混合訊號裝置提供成本最低的測試解決方案，同時確保測試品質毫不妥協。
J750Ex-HD：微控制器測試解決方案
微控制器（MCU）廣泛應用於汽車、行動電子產品及機器人領域。在您日常生活中，電子裝置內有數十顆微控制器正運作著，為您提供獨特的功能，而泰瑞達（Teradyne）的J750 很可能就是測試這些微控制器的設備。 Teradyne 的J750 測試系統已安裝超過 6,000 套，並廣泛部署於 50 多個外包組裝與測試 (OSAT) 據點J750 低成本裝置大量測試的業界標準。
為何 J750ExHD 能在微控制器測試領域佔據主導地位？J750 於 1998J750 。當時泰瑞達（Teradyne）致力於縮短單點測試時間並優化並行測試效率，以降低測試成本，同時維持跨世代平台的相容性，而這項核心理念至今仍未改變。J750 現役 ATE 產品中歷史最悠久的產品，不僅在整個生命週期中始終保持相容性，更持續推出新式儀器，以提供更高的測試效能並降低測試成本。J750Ex-HD 作為最新推出的產品，具備市場上最高等級的並行處理能力與效能。
最低測試成本
在競爭激烈的半導體市場中，降低測試成本至關重要。J750Ex-HD family 在提供更高吞吐量與更多測試點的同時，相較於競爭對手的產品，J750Ex-HD family 測試成本J750Ex-HD family 25% 至 50%。高密度 (HD) 系列儀器與軟體透過提供更多測試點，為實現最低測試成本開闢了最快捷徑。
最快實現獲利
屢獲殊榮的IG-XL™ 軟體，相較於競爭對手的 ATE 軟體系統，能將多點測試程式的開發速度提升百分之三十。IG-XL 著重於效率，其所需的程式碼行數比其他 ATE 程式語言少 50%。 該軟體環境鼓勵程式碼重複使用，且由於採用無需編譯的語言，大幅提升了即時除錯體驗。由於該軟體可在J750Ex-HD family無縫轉移，透過利用現有的對接介面進行生產線整合，可降低生產實施的風險。
J750Ex-HD 以其「零佔用空間」設計而聞名，能最大限度地節省寶貴的生產廠房空間。該測試系統具備高度擴展性，可支援多達 2048 個多功能接腳，資料傳輸速率最高可達 400 MHz/800 Mbps，因此非常適合用於功能整合日益增加的低成本裝置。
汽車微控制器（MCU）的測試品質
J750Ex-HD 是汽車微控制器測試領域中最成熟且經市場驗證的平台。該測試系統旨在提供可重複的裝置測試結果，並配備軟體工具以協助驗證測試程式，從而提供最高品質的測試服務——這對汽車市場至關重要。一套測試程式驗證工具套件可防止編程錯誤及意外的程式變更。 獨特的儀器監控功能可避免對裝置造成潛在損壞，而三溫探針介面則意味著汽車裝置可在低溫（-25 至 -45°C）、常溫及高溫（120 – 160°C）下進行測試。
J750Ex-HD 用於測試 MCU 內部所有元件的選項包括：
- 高速數位 800 儀器 (HSD800) 提供數位功能與特性測試
- 嵌入式記憶體測試的記憶體測試選項 (MTO)
- 每個記憶體與混合訊號接腳後方的數位訊號源與擷取（DSSC）
- 基於 DFT 的掃描測試所用的深度掃描歷史記憶體 (DSHRAM)
- 嵌入式快閃記憶體測試的高電壓數位 (HVD) 功能
- 高密度裝置電源供應器 (HDDPS)，專為高性能精密控制裝置供電而設計
- 高密度 VI 光源（HDVIS），適用於高探針點數，並具備圖案控制功能，以確保測試量測的精確時序
- 用於嵌入式類比元件音訊測試的混合訊號選項 (MSO)
- 高密度轉換器測試選項 (HDCTO)，用於測試嵌入式 ADC/DAC 轉換器
- 用於混合訊號測試的高密度類比引腳測量單元 (HDAPMU)
J750 LitePoint 射頻測試系統
透過在J750 加入LitePoint 測試儀器，可提供一套經濟實惠且完整的量產測試解決方案，涵蓋全球無線連線標準。 隨著藍牙®等嵌入式射頻元件在微控制器及其他獨立無線系統單晶片 (SoC) 裝置中的普及J750 測試更廣泛的應用範圍，同時仍能提供卓越的成本效益與快速上市時程。透過採用與工程師進行初始工作台調試及下游模組測試時相同的 LitePoint 測試儀器，新產品上市所需的總體投入與時間得以顯著縮短。
J750 可作為所有J750 （J750、Ex、HD）的升級選項，其採用 IG-XL 進行開發與除錯，並整合了 LitePoint RF 工具套件及調變函式庫。J750 配備專用的板載儀器級 DSP，用於高吞吐量的 RF 訊號處理，同時提供豐富的無線軟體函式庫及全面的除錯工具套件。
J750 相容於現有的LitePoint應用程式。該測試系統最多可支援 32 個 RF 埠，不僅能處理大量測試點，更能透過可靠的訊號介面，為裝置介面板提供 6GHz 頻段的性能表現。
作為完整的測試單元解決方案與服務的領導供應商，泰瑞達（Teradyne）憑藉專業知識、豐富經驗及技術領導地位，協助客戶在生產過程中實現最高良率與最高產能，並以最快速度將產品推向市場。我們將與您攜手合作，從設計到量產的每個階段，提供標準化及客製化的測試單元產品與服務。