J750Ex-HD Family
고효율·저비용 테스트 분야의 업계 표준
전 세계에서는 매년 수십억 개의 반도체가 생산되며, 이에 따른 테스트 요구 사항도 매우 다양합니다. J750Ex-HD는 복잡도가 낮은 혼합 신호 소자에 대해 타협 없는 테스트 품질을 보장하면서도 가장 비용 효율적인 테스트 솔루션을 제공합니다.
J750Ex-HD: MCU 테스트 솔루션
마이크로컨트롤러 유닛(MCU)은 자동차, 모바일 전자기기 및 로봇 공학 분야에서 널리 사용됩니다. 여러분이 일상생활을 영위하는 동안, 전자기기 내 수십 개의 MCU가 작동하여 고유한 기능을 제공하고 있으며, 테라다인(Teradyne)의 J750 이를 테스트했을 가능성이 높습니다. 6,000대 이상의 테스트 시스템이 설치되어 있으며 50곳 이상의 OSAT(외주 조립 및 테스트) 업체에서 널리 사용되고 있는 테라다인의 J750 저가형 디바이스의 대량 테스트를 위한 업계 J750 .
J750ExHD가 마이크로컨트롤러 테스트 시장을 주도하는 이유는 무엇일까요? J750 1998년에 처음 J750 . 테라다인(Teradyne)은 당시에도, 그리고 오늘날에도 단일 사이트 테스트 시간을 단축하고 병렬 테스트 효율을 최적화하여 테스트 비용을 절감하는 동시에 플랫폼의 여러 세대에 걸쳐 호환성을 유지하는 데 주력해 왔습니다. J750 출시 이후 전 기간에 걸쳐 호환성을 유지하면서, 더 높은 성능과 더 낮은 테스트 비용을 제공하는 새로운 계측 장비를 지속적으로 도입해 온, 현존하는 ATE 제품 중 가장 오랜 기간 동안 생산 및 판매되고 있는 제품군입니다. J750Ex-HD는 시장에서 가장 높은 수준의 병렬 처리 능력과 성능을 제공하는 최신 모델입니다.
가장 저렴한 검사 비용
경쟁이 치열한 반도체 시장에서 테스트 비용을 절감하는 것은 매우 중요합니다. J750Ex-HD family 경쟁사 제품 대비 처리량을 높이고 테스트 사이트 수를 늘려 테스트 비용을 25~50% J750Ex-HD family . 고밀도(HD) 장비 및 소프트웨어 제품군은 더 많은 테스트 사이트를 제공함으로써 테스트 비용을 최소화하는 가장 빠른 길을 열어줍니다.
최단 기간 내 수익 창출
수상 경력에 빛나는 IG-XL™ 소프트웨어는 경쟁사 ATE 소프트웨어 시스템에 비해 다중 사이트 테스트 프로그램 개발 속도를 30% 단축합니다. IG-XL은 효율성에 중점을 두어, 다른 ATE 프로그래밍 언어에 비해 필요한 코드 줄 수를 50% 줄였습니다. 이 소프트웨어 환경은 코드 재사용을 장려하며, 코드 컴파일 과정이 필요 없는 언어 덕분에 실시간 디버깅 환경이 크게 개선되었습니다. 또한 이 소프트웨어는 J750Ex-HD family 내에서 원활하게 호환되므로, 기존 도킹 인터페이스를 활용하여 생산 현장에 통합할 때 생산 도입 시 발생할 수 있는 위험을 줄일 수 있습니다.
J750Ex-HD는 귀중한 제조 현장 공간을 최소화하는 ‘제로 풋프린트’ 설계로 잘 알려져 있습니다. 최대 2048개의 다기능 핀과 400MHz/800Mbps의 데이터 전송 속도를 지원하는 이 테스트 시스템의 확장성은, 기능 통합이 점점 더 강화되고 있는 저가형 디바이스에 이상적입니다.
자동차용 MCU의 테스트 품질
J750Ex-HD는 자동차용 MCU 테스트 분야에서 가장 성숙하고 시장에서 검증된 플랫폼입니다. 이 테스트 시스템은 재현성 높은 디바이스 테스트 결과를 제공하도록 설계되었으며, 자동차 시장에서 매우 중요한 최고 품질의 테스트를 보장하기 위해 테스트 프로그램을 검증하는 데 도움이 되는 소프트웨어 도구를 갖추고 있습니다. 테스트 프로그램 검증 도구 모음은 프로그래밍 오류와 예기치 않은 프로그램 변경을 방지합니다. 독자적인 계측기 모니터링 기능은 디바이스에 발생할 수 있는 잠재적 손상을 방지하며, 3온도 프로브 인터페이스를 통해 자동차용 디바이스를 저온(-25~-45°C), 상온 및 고온(120~160°C) 조건에서 테스트할 수 있습니다.
MCU 내부의 모든 구성 요소를 테스트하기 위한 J750Ex-HD 옵션은 다음과 같습니다:
- 고속 디지털 800 계측기(HSD800)는 디지털 기능 및 특성 분석 테스트를 제공합니다
- 임베디드 메모리 용 메모리 옵션(MTO)
- 메모리 혼합 신호용 각 핀 뒤편의 디지털 신호 소스 및 캡처(DSSC)
- DFT 기반 스캔 테스트용 심층 스캔 히스토리 RAM(DSHRAM)
- 임베디드 플래시 테스트용 고전압 디지털(HVD) 기능
- 고성능 정밀 제어 장치 전원 공급을 위한 고밀도 장치 전원 공급 장치(HDDPS)
- 높은 사이트 수를 지원하는 고밀도 VI 소스(HDVIS)로, 테스트 측정 시 정확한 타이밍을 위해 패턴이 제어됩니다.
- 임베디드 아날로그 부품의 오디오 테스트를 위한 혼합 신호 옵션(MSO)
- 내장형 ADC/DAC 변환기 테스트용 고밀도 변환기 테스트 옵션(HDCTO)
- 혼합 신호 테스트용 고밀도 아날로그 핀 측정 장치(HDAPMU)
J750 LitePoint RF 테스트 시스템
J750 LitePoint 계측 장비를 추가하는 옵션을 통해 전 세계 무선 연결 표준을 포괄하는 비용 효율적인 종합 생산 테스트 솔루션을 구현할 수 있습니다. 마이크로컨트롤러 및 기타 독립형 무선 SoC 장치에 Bluetooth®와 같은 임베디드 RF 부품이 널리 보급됨에 따라, J750 뛰어난 비용 효율성과 빠른 시장 출시 기간을 유지하면서 더욱 광범위한 애플리케이션을 테스트할 J750 . 엔지니어들이 초기 벤치 구동 및 다운스트림 모듈 테스트에 사용하는 것과 동일한 LitePoint 계측 장비를 활용함으로써, 신제품 출시를 위한 총 투입 노력과 시간이 크게 단축됩니다.
모든 J750 (J750, Ex, HD)에 대한 업그레이드 옵션으로 제공되는 J750 개발 및 디버깅을 위해 IG-XL을 활용하며, LitePoint RF 툴 스위트와 변조 라이브러리를 포함하고 있습니다. J750 고처리량 RF 신호 처리를 위한 전용 온보드 계측용 DSP, 방대한 무선 소프트웨어 라이브러리, 그리고 포괄적인 디버깅 툴 스위트를 제공합니다.
J750 기존 LitePoint 애플리케이션과 호환됩니다. 이 테스트 시스템은 최대 32개의 RF 포트를 지원하여, 장치 인터페이스 보드까지 6GHz 성능을 보장하는 안정적인 신호 인터페이스를 통해 다수의 테스트 사이트를 구성할 수 있습니다.
테라다인(Teradyne)은 종합적인 테스트 셀 솔루션 및 서비스 분야의 선도 기업으로서, 당사의 전문 지식, 풍부한 경험, 그리고 기술 리더십을 바탕으로 고객사가 생산 과정에서 최고의 수율과 처리량을 달성하고 시장 출시 기간을 단축할 수 있도록 지원합니다. 당사는 설계 단계부터 양산 단계에 이르기까지 고객과 협력하여 표준 및 맞춤형 테스트 셀 제품과 서비스를 제공합니다.