System Level Test (SLT) 舊版
何謂System Level Test (SLT)？
System Level Test (SLT) 積體電路製造商模擬最終使用者環境，藉此測試軟體並驗證 IP 模組之間的連線。這是一種更有效且成本更低的測試方法，可用於測試 I/O 協定堆疊、IP 模組間的介面，以及不同時脈、電源、熱管理與硬體／軟體域之間的交互作用。
為什麼選擇泰瑞達？
作為晶圓與封裝自動測試設備（ATE）的領導者，泰瑞達（Teradyne）的 Titan 平台多年來一直用於測試智慧型手機應用。SLT 技術亦已應用於其他領域，例如汽車先進駕駛輔助系統（ADAS）、車載娛樂系統，以及人工智慧（AI）資料伺服器。
隨著 5G、人工智慧（AI）、擴增實境（AR）及虛擬實境（VR）等技術的發展，半導體元件的複雜度持續提升。隨著製程節點不斷微縮，積體電路（IC）設計人員正開發出完整的系統單晶片（SoC）產品，其中包含處理器核心、類比輸入/輸出（I/O）、數位輸入/輸出（I/O）、數據機及其他 IP 模組，並整合了嵌入式軟體。
這種額外的複雜性導致未經測試的電晶體數量日益增加，且測試時間也隨之延長。透過將 SLT 作為繼晶圓測試與封裝測試之後的第三個測試流程，元件製造商得以測試軟體並驗證 IP 模組之間的連接，而這在其他情況下是難以實現的。
SLT 還提供額外的檢測範圍，以滿足終端客戶對失效率的嚴格要求，從而提升產品品質。因此，它能與 ATE 晶圓及封裝測試中進行的結構性與功能性測試相輔相成。
泰瑞達的 Titan 平台具備低測試成本、快速上市以及可擴展至超大產能的優勢。多年來，它一直是行動應用處理器市場中經過驗證的解決方案。泰瑞達始終站在系統級測試產業變革與成長的前沿，並將持續創新，為先進駕駛輔助系統（ADAS）、車載娛樂系統、人工智慧與資料伺服器、GPU 及平板電腦市場帶來更優異的成本效益與品質優勢。
下載我們的《系統層級測試入門指南》白皮書
在半導體測試流程中，是什麼因素推動了 SLT 的發展？
隨著技術的演進，測試需求也隨之改變。舉例來說，當今的 AI 裝置可能包含數十億個電晶體。隨著製程節點持續微縮，即使自動測試設備（ATE）的故障覆蓋率達到 99.5%，仍有大量電晶體未經測試。SLT 測試能找出這剩餘 0.5% 未經測試電晶體中的故障。
複雜的技術已使系統單晶片（SoC）、封裝內系統（SIP）及軟體的複雜度隨之增加。這種複雜性導致更多非同步介面，以及電源、時脈與熱管理領域之間，乃至軟體與硬體之間的互動更加頻繁。這些互動使得要達到 99.5% 的自動測試設備（ATE）故障覆蓋率變得更加困難。SLT 提供了一種更簡易且成本更低的方案來測試複雜的介面。 此外，透過在實際運作模式下驅動裝置，該技術能測試可能存在故障的複雜交互作用。
裝置製造商面臨的另一項挑戰，在於產品上市週期縮短，以及新製程的缺陷率較高。這導致必須在製程缺陷率仍居高不下時便出貨，同時還需找出缺陷以確保出貨產品的品質。SLT 技術使工程師能在裝置開發的早期階段提升故障覆蓋率。這些數據對於縮短達到良率所需的時間至關重要，並能避免因等待最終製程良率提升而延誤，從而縮短整體產品上市週期。
最後，積體電路設計人員正積極運用尖端製程與封裝技術的最新進展。儘管這些進展令人振奮且不可或缺，但也為潛在故障與新的失效模式帶來更多可能性。SLT 技術能在元件出貨前偵測潛在故障，從而降低元件的整體成本。
泰瑞達的 SLT 解決方案
泰坦
泰瑞達的 Titan 平台具備低測試成本、快速上市以及可擴展至超高產能的優勢。多年來，它一直是行動應用處理器市場中經過驗證的解決方案。泰瑞達始終站在半導體測試（SLT）產業變革與成長的前沿，並將持續創新，為先進駕駛輔助系統（ADAS）、車載娛樂系統、人工智慧與資料伺服器、GPU 及平板電腦市場帶來更優異的成本效益與品質優勢。