AI, 첨단 패키징, 이종 통합, 엣지 컴퓨팅 분야의 발전에 힘입어 반도체 산업은 변혁을 맞이하고 있습니다. 이러한 요구를 충족하기 위해 반도체 설계 및 제조의 복잡성이 증가함에 따라, 수율, 비용, 품질을 균형 있게 조율하는 핵심 요소로서 유연한 테스트 전략이 부상하고 있습니다.
자동화 시험 장비(ATE) 분야는 이러한 복잡하고 고성능인 칩들이 엄격한 품질 기준을 충족하도록 보장할 뿐만 아니라, 업계가 앞으로 닥칠 끊임없는 도전 과제를 헤쳐 나갈 수 있도록 준비하는 데 있어 중추적인 역할을 수행합니다.
EE Times 에 실린조르제 후르타테의 최신 기사 이 기사는 AI와 데이터 인사이트를 기반으로 한 유연한 전략이 5G, 양자 소자, 광학 집적 기술 등 신흥 기술에 대응하는 데 어떻게 도움이 되고 있는지 설명합니다.
전체 기사 읽기, EE Times에 게재된 '반도체 진화에 발맞춘 유연한 테스트 전략', EE Times 게재
Jeorge S. Hurtarte 박사는 현재 테라다인(Teradyne)의 반도체 컴퓨트 테스트 부문에서 수석 이사 겸 수석 마케팅 전략가로 재직 중입니다. Jeorge는 테라다인, 램 리서치(Lam Research), 라이트포인트(LitePoint), 트랜스위치(TranSwitch), 록웰 반도체(Rockwell Semiconductors)에서 다양한 기술, 관리 및 임원직을 역임했습니다. 조지는 북미 SEMI 자문위원회의 위원으로 활동 중이며, IEEE 이종 통합 로드맵(HIR) 테스트 분과 위원회의 공동 의장을 맡고 있습니다. 조지는 전기공학 박사 학위와 MBA, 컴퓨터 과학, 통신공학 석사 학위 등 총 세 개의 석사 학위를 보유하고 있습니다. 또한 캘리포니아 대학교 산타크루즈 캠퍼스와 피닉스 대학교의 객원 교수로도 재직 중입니다. 그는 『Understanding Fabless IC Technology』의 공동 저자이기도 합니다.