다중 패널 경계 스캔
바운더리 스캔 솔루션
IEEE 표준 1149.1 및 1149.6
바운더리 스캔(IEEE 표준 1149.1 및 1149.6)은 반도체 제조업체가 생산하는 부품에 테스트 가능성을 설계에 반영할 수 있게 해주는 기술입니다.
테라다인은 개발자들에게 다음과 같은 경계 스캔 테스트 옵션을 제공합니다:
- BasicSCAN과 Scan Pathfinder는 TestStation 테스트 시스템의 기본 기능입니다
- 일부 공급업체에서 파트너십을 통해 벤치탑 경계 스캔 솔루션을 제공하고 있습니다
BasicSCAN 테스트는 테스터 네일을 사용하여 디바이스 핀의 개방 회로를 감지하는 방식이므로, 테스터가 디바이스 핀의 대부분에 접근할 수 있는 테스트 환경에 적합하도록 설계되었습니다.
테스트 생성 기능 및 특징:
- 업계 표준 BSDL 형식 또는 TestStation간편한 IBS 파일 형식으로 장치 경계 스캔(Boundary Scan) 설명 정보를 가져올 수 있는 기능
- 장치 경계 스캔 정보를 손쉽게 입력하고 수정할 수 있는 그래픽 사용자 인터페이스
- BasicSCAN 사용자 인터페이스에 입력된 정보를 바탕으로 BSDL 모델을 생성하는 기능
- 명령어 레지스터의 캡처 값이 올바른지 및 레지스터 길이가 적절한지 확인합니다
- IDCODE 및 USERCODE 값을 선택적 구성 요소로 확인합니다
- 고정된 모든 장치 핀의 개방 결함을 감지합니다
- 선택적 RUNBIST 명령어를 지원하는 구성 요소의 내부 논리를 확인합니다
- 보드상의 다른 부품을 테스트하는 동안 경계 스캔 부품을 어떻게 차단할지 테스트 생성기에 지시하는 절연 섹션을 자동으로 생성
- 정확한 핀 단위 진단 메시지
- 강력한 디지털 테스트 언어 기능을 통해 복잡한 배선 구성을 지원하기 위해 사용자의 수정이 필요하지 않습니다
테스트 생성 기능:
- 여러 스캔 경로를 지원하는 보드
- 탐지된 스캔 경로 구성을 기반으로 한 경계 스캔 테스트 프로그램의 자동 생성
- 기존의 회로 내 테스트를 수행하는 동안 모든 경계 스캔 장치를 비활성화하는 데 사용할 수 있는 절연 벡터의 자동 생성
- UserOption 설정을 통한 경계 스캔 테스트 프로그램 사용자 정의 지원
- 하드웨어 테스트
- 테스트 시작
- 상호작용 테스트
- 연결 테스트
- 축약형 CAP 검사
- BIST 테스트 실행
- 가상 디지털 테스트
- 그래픽 보고서 요약 창이나 텍스트 파일 형식으로 확인할 수 있는 종합 테스트 보고서
- 별도의 경계 스캔 런타임 진단 작업은 정확한 디바이스 및 핀 수준 진단 메시지를 보장합니다
심포니(JTAG 테크놀로지스)
Symphony는 JTAG Technologies와 협력하여 TestStation 사용하는 제조업체를 위해 특별히 설계된 첨단 바운더리 스캔 솔루션입니다.
스캔익스프레스(코렐리스)
ScanExpress는 기본적인 단락, 개방, 불량, 누락 결함을 검사하고 회로 메모리 CPLD에 대한 인-시스템 프로그래밍을 수행하는 데 사용되는 널리 쓰이는 JTAG 테스트 개발 및 실행 도구입니다.
SCANFLEX / CASCON GALAXY(GOEPEL electronic)
GOEPEL electronic은 특별히 설계된 SCANFLEX 장치를 JTAG/바운더리 스캔 시스템 소프트웨어인 CASCON GALAXY와 결합하여 TestStation 위한 통합 솔루션을 제공합니다.
