IG-XL – 다중 사이트 테스트를 위한 간소화된 프로그램 개발

테라다인의 수상 경력에 빛나는 IG-XL 소프트웨어는 FLEX, UltraFLEX 및 J750 테스터 제품군의 테스트 프로그램 개발을 혁신적으로 변화시킵니다. 강력하면서도 사용하기 쉬운 그래픽 환경을 통해 엔지니어들은 모든 기능을 갖춘 테스트 프로그램을 신속하게 개발할 수 있어, 프로그램 개발 및 디버깅 시간을 단축합니다. 다중 사이트의 복잡성을 해결하기 위해 설계된 IG-XL은 단일 사이트 테스트 프로그램을 자동으로 다중 사이트용으로 변환하여 시장 출시 기간을 단축하고 테스트 비용을 절감합니다. IG-XL을 통해 테스트 엔지니어들은 테스터용 코드를 작성하는 대신 실제 테스트에 집중할 수 있습니다.

IGXL 로고

시장 출시 기간 단축

IG-XL은 경쟁사 ATE 소프트웨어 시스템에 비해 멀티사이트 프로그램 개발 속도를 30% 높여줍니다

  • Visual Basic For Test: 강력하면서도 배우고 사용하기 쉬운 프로그래밍 언어
    • 기기 중심 프로그래밍
    • 효율적: 다른 ATE 프로그래밍 언어에 비해 코드 줄 수가 50% 미만
    • 코드 재사용을 장려합니다
    • 컴파일할 필요 없음 – “zone”에서 디버깅을 활성화합니다
  • 네이티브 멀티사이트 프로그래밍: 단일 사이트에서 멀티사이트로의 전환에 별다른 노력 없이
    • 사이트 선정 및 활성화의 자동 관리
    • 단일 사이트를 위해 작성 - 사이트 인식 변수를 사용하여 멀티 사이트 운영
    • 사이트 인식 흐름 제어
  • True CT: 최적화된 병렬 테스트 구현 시간 단축
    • 순차적으로 또는 병렬로 실행할 때 동일한 테스트 코드
  • 모듈형 테스트 개발: 효율적인 협업과 코드 재사용
  • 통합 변조/복조 라이브러리
    • ESA 툴킷은 표준 벤치 측정 알고리즘과 전체 파형 라이브러리를 결합합니다

최적 처리량

IG-XL은 제품 양산 초기 단계에서 최적의 생산량을 확보하여 수익 창출까지의 기간을 단축합니다

  • IG-XL을 처음 사용하는 사용자도 숙련된 사용자의 도움 없이도 매우 효율적인 프로그램을 작성할 수 있습니다
  • 네이티브 멀티사이트 프로그래밍 = 단일 사이트에서 멀티사이트로의 전환에 별다른 노력 불필요
    • 사이트 선정 및 활성화의 자동 관리
    • 단일 사이트를 위해 작성 - 사이트 인식 변수를 사용하여 멀티 사이트 운영
    • 사이트 인식 흐름 제어
  • Pure Parallel Software와 System Broadcast는 높은 병렬 테스트 효율성을 제공합니다
  • 배경: DSP를 사용하면 별도의 코딩 작업 없이도 백그라운드에서 멀티스레드 DSP 연산 및 데이터 이동을 활용할 수 있습니다.
  • True CT와 CTOptimizer를 사용하면 코드를 수정할 필요 없이 높은 동시 테스트 효율을 달성할 수 있습니다
  • 타임라인 도구는 실행의 모든 측면을 그래픽으로 보여줌으로써, 테스트 엔지니어가 최적화가 필요한 잠재적인 처리량 병목 현상을 신속하게 파악할 수 있도록 지원합니다.

결함 유출 감소

테스트 프로그래밍 오류는 결함이 발견되지 않은 채로 넘어가는 결과를 초래할 수 있습니다. IG-XL의 도구는 테스트 엔지니어가 실제 운영 환경에 배포하기 전에 프로그래밍 문제를 해결할 수 있도록 지원합니다.

  • IG-Review는 일반적인 프로그래밍 오류 및 기타 잠재적 문제를 대상으로 테스트 프로그램을 검토합니다.
  • 실시간 감사 도구는 실행 중에 테스터의 프로그래밍을 모니터링하여, 장치나 인터페이스 하드웨어에 과도한 부하가 걸릴 수 있는 방식으로 장치별 규칙이 위반되지 않도록 합니다.
  • IG-Diff는 사용자가 테스트 프로그램 버전을 비교하고 릴리스 문서를 작성하여 의도하지 않은 변경 사항이 운영 환경에 배포되지 않도록 돕습니다.

수익 실현까지의 기간 단축

IG-XL은 수확량 향상에 필요한 진단 데이터를 효과적이고 효율적으로 수집할 수 있는 필수 도구를 제공합니다

  • 수율을 높이기 위해 테스트 엔지니어들은 테스트 비용에 부담을 주지 않으면서도 방대한 양의 테스트 데이터를 수집해야 합니다. IG-XL을 사용하면 데이터를 쉽고 저렴하게 수집할 수 있어, 사용자들은 목표 수율에 더 빨리 도달할 수 있습니다.
  • 사용자는 ‘스캔 실패 처리 템플릿’을 활용하여 스캔 실패 사례를 신속하게 수집하고 STDF 또는 EDA 전용 형식으로 기록할 수 있습니다.
  • IG-XL의 개방형 확장 가능 설계 덕분에 어떤 설계 및 테스트 환경에도 손쉽게 통합할 수 있습니다.
  • IG-XL은 Teseda의 Scan Workbench와 함께, 고장 분석 실험실 및 소자 시동 및 특성 분석 작업을 위한 실시간 대화형 스캔 오류 디버그 분석 솔루션을 제공합니다.