UltraFLEXplus
세계 최고의 반도체 테스트 플랫폼
UltraFLEXplus 는 새로운 계측기 및 소프트웨어 기능을 혁신적인 테스터 인프라와 결합하여 처리량과 엔지니어링 효율성을 획기적으로 향상시키며, 동시에 UltraFLEX오랜 역사 동안 축적된 테스트 IP를 활용합니다.

장점
최단 기간 내 양산
IG-XL 소프트웨어의 호환성과 새로운 Broadside 애플리케이션 인터페이스를 통해 테스트 엔지니어들은 초기 단계부터 생산성을 높일 수 있으며, 양산까지 걸리는 시간을 20% 이상 단축할 수 있습니다.
최대 처리량
새로운 UltraFLEXplus 테스트 사이트 수를 늘리고 병렬 테스트 효율을 향상시켜 전체 처리량을 증가시키며, 필요한 테스트 셀 수를 15%~50% 줄여줍니다.
확장 가능한 아키텍처
UltraFLEXplus 여러 제품 라인에 재구축할 UltraFLEXplus 있으며 향후 제품 요구 사항에 맞춰 업그레이드할 수 있어, 재사용성을 높이고 자산의 수명을 연장합니다.
응용 분야
- 모바일 애플리케이션 프로세서
- 디지털 베이스밴드 프로세서
- 고속 데이터 전송률 RF 트랜시버
- RF 연결 장치
- 밀리미터파
- 5G
- 모바일 전원 관리 IC(PMIC)
- 마이크로프로세서
- 네트워크 프로세서
- 고속 SERDES(직렬화기/역직렬화기) 및 백플레인 트랜시버
- 스토리지
- 고성능 마이크로컨트롤러
- 오디오 및 비디오 프로세서
구성
UltraFLEXplus 고객이 자본 비용, 설치 공간 및 최대 리소스 수를 최적화할 수 있도록 지원하는 3가지 기본 시스템을 UltraFLEXplus . 세 가지 버전 모두 Broadside DIB를 채택하여 더 높은 밀도와 더 많은 사이트 수를 구현하고 배선 작업을 간소화합니다.
UltraFLEXplus
24슬롯 시스템
UltraFLEXplus
12슬롯 시스템
UltraFLEXplus
6슬롯 시스템
새로운 고성능 3세대 기기 제품군
AC 인스트루먼트
UltraPAC300 – 차세대 고밀도 아날로그 계측기
- 고성능 오디오 및 베이스밴드 AC 계측기
- 최대 300MHz까지 지원
- 고속 및 고해상도 채널을 지원하는 듀얼 모드
UltraCTO384 – 고성능, 고밀도 컨버터 테스트 옵션
-
128개의 소스 채널, 128개의 캡처 채널, 128개의 참조 채널
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최대 16비트 분해능의 단일 종단 및 차동 내장형 컨버터 테스트
-
정속 주행 테스트를 위한 사인파 및 부드러운 램프 생성
-
디바이스 트림에 대한 ±50uV 전압 측정 정확도
-
소스 및 기준 전압에 대한 DUT 전압 감지
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소스부터 레퍼런스까지의 통합 교정 방식은 DIB 회로 구성을 최소화하여 높은 사이트 수를 구현할 수 있게 합니다
이미지 캡처 장비
- 20Gbps 데이터 전송 속도
- 핀당 PPMU
- 프로토콜 인식
- 기기당 64개의 차동 채널 (64 – 기기 수신부)
- 16 – 3~4차선 항구; 32 – 2차선 항구; 64 – 1차선 항구
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기기당 4 x 100GbE 데이터 전송 대역폭
-
16개의 차동 레인당 100GbE
-
DC 인스트루먼트
UltraVS64 -HP – 고급 코어 전원 공급 장치 계측기
- 기기당 1,280 암페어의 장치 전력
- 단일 병렬 연결 전원 공급 장치에서 최대 5,120A까지 병합 가능
- 총 시험 셀 용량이 15,000 암페어를 초과함
- 신규 통합 전압 조정기(IVR) 아키텍처를 위한 독보적인 16V 전압 범위
- 레티클 크기의 다이 및 멀티 다이 패키지 전반에 걸쳐 뛰어난 동적 부하 응답 성능을 갖춘 통합형 다중 지점 감지 기능
- 열 폭주에 대한 하드웨어 수준의 오류 대응 기능을 갖춘 지능형 전원 인터페이스
UltraVS64 – 코어 전원 공급 장치
- 디바이스 코어 전원 공급을 위한 매우 정밀하고 안정적인 소스
- 타의 추종을 불허하는 역동적인 성능
- <1mV 6 Sigma voltage accuracy
- 기기당 최대 320A의 전원 공급
- 단일 전원 공급 장치로 최대 1,600A까지 병합 가능
- 시스템 전체에서 최대 2,560A의 순간 전류 변화를 지원합니다
HP 고밀도, 높은 유연성을 갖춘 범용 장치용 전원 공급 장치
- 기기당 256채널
- 유연한 병합 기능
- 뛰어난 주행 성능
- 저소음
- 4사분면 전압 또는 전류 발생 및 측정
UltraVI264 – 고정밀, 고밀도 DC 계측기
- 104개의 저전압 채널을 248개의 연결로 다중화
- 8개의 고전압 채널을 16개의 연결로 다중화
- USB 충전 표준을 위한 유연한 채널 병합
- 고정밀 DC 측정
High-Speed I/O HSIO) 계측기
UltraPort-PCIe6 – PCIe Gen6 장치용 High-Speed I/O 프로토콜 측정기
- 기기당 32개의 레인을 통해 64 Gb/s (PAM4)
- 핀별 고유 PMU 및 통합 루프백 기능을 통해 커버리지 및 진단 기능 강화
- 디바이스로 이어지는 가장 깨끗한 신호 경로를 통해 뛰어난 신호 무결성을 보장합니다.
- 2TB 규모의 고성능 컴퓨팅 백엔드로 확장 가능한 전용 서버급 컴퓨팅 메모리
- 미션 모드 테스트 및 high-speed I/O 스캔을 통해, 정상 작동이 확인된 칩(KGD)의 커버리지를 삽입 초기 단계로 전환
UltraPHY: 포괄적인 PHY 성능 테스트 지원
UltraPHY 224G
- 기기당 8개의 전이중 차동 레인 + 8개의 수신 전용 차동 레인
- 최대 112 Gb/s NRZ 및 224 Gb/s(112 Gbaud) PAM4 테스트 데이터 전송 속도
- 극한의 데이터 전송 속도에서도 높은 밀도 구현; UltraFLEXplus 여러 대의 계측기 지원
- UltraFLEXplus에서 다른 업계 선도적인 UltraPHY 계측기 모델들과 함께 사용 가능합니다
- 포괄적인 PHY 생산 테스트 및 특성 분석을 위한 DSO + BERT 아키텍처
- 테라다인의 널리 보급된 IG-XL 소프트웨어를 통한 통합 워크플로우
- PAM4 및 NRZ와 관련된 대부분의 눈 관련 측정값(높이, 너비, TDECQ 등)을 지원합니다.
- 대표적인 적용 사례: PCIe Gen 7, OIF CEI-224G, CXL, 실리콘 포토닉스(SiPHO) 등
디지털 계측기
UltraPin5000-EM – 첨단 디지털 계측기
- 패턴 집약적인 AI 및 연산 장치를 위해 특별히 설계됨
- 시중의 다른 제품보다 최대 80배 더 높은 벡터 메모리
- 패턴 로딩 속도가 최대 10배 빨라졌으며, 거의 즉각적인 재로딩이 가능한 ‘지속 모드’를 지원합니다.
- 핀별 독립적인 클럭 주파수를 지원하는 유연한 타이밍 아키텍처
- 네트워크 가속화를 스캔하여 코어별 실시간 결과를 확인하고, 상황에 따라 테스트 방식을 동적으로 결정합니다.
- UltraPin2200과 호환되어 기존 테스트 IP에 대한 투자를 보호합니다.
UltraPin2200 – 고밀도 디지털 계측기
- 고밀도, 기기당 512채널
- 악기당 32개의 패턴 생성기를 통해 동시 테스트 또는 사이트별 고유한 패턴 흐름을 지원
- 독점적인 하드웨어 기반 프로토콜 인식 기능
- 비결정적 데이터 테스트를 위한 전용 메모리
- 유연한 패턴 메모리 통해 최대 16Gbit의 스캔 테스트 용량 지원
- 사이트 간 데이터 공유
UltraPHY 112G
- 16개의 전이중 차동 채널
- 최대 64 Gb/s NRZ 및 112 Gb/s(56 Gbaud) PAM4 테스트 데이터 전송 속도
- 고밀도; UltraFLEXplus 1대당 여러 대의 계측기를 연결할 수 있음
- UltraFLEXplus에서 다른 업계 선도적인 UltraPHY 계측기 모델들과 함께 사용 가능합니다
- 포괄적인 PHY 생산 테스트 및 특성 분석을 위한 AWG + DSO 아키텍처
- 테라다인의 널리 보급된 IG-XL 소프트웨어를 통한 통합 워크플로우
- UltraPHY 224G로의 업그레이드 경로: 투자를 장기적으로 보장
- NRZ 및 PAM4와 관련된 높이, 너비, SNR 등 대부분의 눈도표 관련 측정 항목을 지원합니다.
- 대표적인 적용 사례: PCIe Gen 1~Gen 6, OIF CEI-112G, IEEE 802.3ck 이더넷, 실리콘 포토닉스(SiPHO) 등
RF 계측기
- 기기당 8개의 독립적인 송신기와 8개의 독립적인 수신기
- 기기당 32개의 양방향 포트
- 50 MHz에서 24 GHz까지의 주파수 대역
- 최첨단 오류 벡터 크기(EVM) 및 위상 잡음 성능
- 최적화된 테스트 성능과 비용을 제공하도록 구성 가능
- 500 MHz I/Q 대역폭 지원
- 기기당 16개의 차동 입력 채널 및 16개의 차동 출력 채널
- WiFi 7의 경우 전형적으로 -50dB에 달하는 뛰어난 오차 벡터 크기(EVM) 성능
- 핀당 파라메트릭 단위(PPMU) 기능

Photon 100
Teradyne Photon 100 첨단 광학 및 전기 계측 장비를 UltraFLEXplus 통합함으로써 웨이퍼, 광학 엔진 및 공동 패키징 모듈 단계 전반에 걸쳐 고처리량의 자동화 테스트를 Photon 100 . 이를 통해 운영이 간소화되고 시장 출시 기간이 단축되며, 확장 가능한 실리콘 포토닉스 제조를 지원합니다.

아이리스 100
Teradyne Iris 100은 정밀 광학 스택과 6축 미세 정렬 기술을 결합하여, 생산 처리량 수준에서 마이크로LED 디바이스에 대한 정확하고 절대적인 광학 측정을 제공합니다. 절대 측정은 테스트 셀 간 측정 결과를 상호 연관시켜, 마이크로LED 생산량이 증가함에 따라 생산 테스트를 공정 제어 기능으로 전환합니다.
UltraFLEX
UltraFLEX 테스터 UltraFLEX 고객의 기존 투자를 활용하여, 포괄적인 계측 장비와 UltraFLEX오랜 역사 동안 지속적으로 개선되어 온 업계 표준인 IG-XL 소프트웨어를 통해 새로운 테스트 프로그램을 개발하고 배포하는 데 필요한 엔지니어링 작업량을 줄이는 데 주력하고 있습니다. 이 소프트웨어는 현재 10,000명 이상의 프로그래머가 활발히 사용하고 있습니다.
테라다인(Teradyne)은 종합적인 테스트 셀 솔루션 및 서비스 분야의 선도 기업으로서, 당사의 전문 지식, 풍부한 경험, 그리고 기술 리더십을 바탕으로 고객사가 생산 과정에서 최고의 수율과 처리량을 달성하고 시장 출시 기간을 단축할 수 있도록 지원합니다. 당사는 설계 단계부터 양산 단계에 이르기까지 고객과 협력하여 표준 및 맞춤형 테스트 셀 제품과 서비스를 제공합니다.