생산 보드 테스트

Scan Pathfinder II 솔루션은 표준 TestStation 핀을 사용하여 바운더리 스캔 테스트 액세스 포트(TAP) 핀(TDI, TMS, TCK, TDO 및 TRST)을 구동하고 감지합니다. 바운더리 스캔 벡터 데이터는 TestStationUltraPin 보드 메모리 저장됩니다.

TAP 핀에 연결된 네트워크는 고정 연결되어야 하며 디지털 테스트 기능을 지원해야 합니다(아날로그 전용 핀 보드에는 연결할 수 없음). 애플리케이션에 단일 스캔 체인이 있는 경우, TCK 핀을 테스터 클럭 드라이버의 고정 연결 단자에 선택적으로 연결할 수 있습니다. 이렇게 하면 성능이 향상되고 테스트 벡터 수가 줄어듭니다.

Scan Pathfinder II 소프트웨어는 Windows 7 운영 체제에서 실행되는 TestStation 7.1 이상에서 사용할 수 있습니다.

초기 버전의 Scan Pathfinder는 IEEE Std. 1149.1에서 정의한 바운더리 스캔 기능을 지원하도록 설계되었습니다. IEEE Std. 1149.6 표준은 기존 표준을 보완하고, 고급 I/O 기능을 탑재한 바운더리 스캔 부품의 효율적인 테스트를 지원하기 위해 2003년에 승인되었습니다.

Scan Pathfinder II는 IEEE 1149.1 및 1149.6 표준을 모두 지원하는 새로운 버전의 소프트웨어로, 차동 신호의 결함 은폐 효과와 AC 결합 신호의 DC 차단 효과에도 불구하고 PCB상의 상호 연결 결함을 신속하고 정확하게 탐지 및 진단하도록 설계되었습니다.

Scan Pathfinder II 소프트웨어에는 다음과 같은 개선 사항이 포함되어 있습니다:

• Windows 7 운영 체제 지원
• 1149.6번 네트의 커패시터에 대한 단락 오류 감지 테스트
• 더 빠른 실행을 위한 최적화된 벡터 생성 알고리즘
• 업데이트된 테스트 생성 사용자 인터페이스
• 보다 포괄적인 진단 및 오류 분석 보고서
• 테스트 생성기를 제어하기 위한 새로운 사용자 옵션
  • 비테스트 노드의 사양
  • ‘상호작용’ 및 ‘열람’ 테스트에서 노드 그룹화를 강제 적용할 수 있는 기능
  • 양방향 핀의 테스트 방식을 설정하는 옵션
  • 버스트당 사용되는 네일 수를 제한하는 새로운 기본 설정
  • ASSIGN LGC 문 논리 레벨의 자동 포함
• 업데이트된 제품 설명서 및 온라인 도움말

Scan Pathfinder II는 바운더리 스캔 부품이 장착된 PCB의 구조적 결함 및 부품 결함을 모두 탐지하도록 설계된 일련의 테스트 기능을 제공합니다.

• 하드웨어 테스트–이 테스트 모음은 바운더리 스캔 테스트 액세스 포트(Test Access Port) 및 관련 테스트 레지스터가 정상적으로 작동하는지 확인하기 위해 실행됩니다. 이 테스트를 통해 모든 TMS, TDI, TDO, TCK 및 TRST 핀이 정상적으로 작동하는지, 스캔 경로를 통해 데이터가 시프트될 수 있는지, 그리고 명령어 레지스터와 바운더리 레지스터의 길이가 정확한지 확인합니다. 다른 경계 스캔 테스트를 실행하기 전에 반드시 하드웨어 테스트를 통과해야 합니다.
• IDcode/Usercode 테스트–이 테스트는 경계 스캔(Boundary Scan) 장치의 BSDL 파일에 나열된 IDCODE 및 USERCODE 값이 보드 내 장치의 값과 일치하는지 확인하는 선택적 테스트입니다.
• 상호작용 테스트–이 테스트는 선택 사항으로, 네일링된 비경계 스캔 네트와 네일링되지 않은 경계 스캔 네트 간의 단락을 감지하는 것을 목적으로 합니다. 이 테스트는 네일링된 비경계 스캔 네트에 패턴 신호를 입력하여, 해당 신호가 네일링되지 않은 경계 스캔 네트에 입력되는 패턴과 유해한 상호작용을 일으키지 않는지 확인합니다. 각 비경계 스캔 디바이스에 대해 하나 이상의 상호작용 테스트가 생성되지만, 사용자는 상호작용 테스트 버스트 동안 사용할 최대 네일 수를 제어할 수 있습니다.
• 개방 테스트–이 테스트는 테스트 시스템의 드라이버/센서 네일을 사용하여 테스트 접근이 가능한 바운더리 스캔 핀의 개방 여부를 감지하는 선택적 테스트입니다. 각 바운더리 스캔 장치에 대해 하나 이상의 개방 테스트가 생성되지만, 사용자는 개방 테스트 버스트 중에 사용할 네일의 최대 수를 제어할 수 있습니다.
• 인터커넥트 테스트–이 테스트는 선택 사항으로, 주로 고정되지 않은 경계 스캔 네트 간의 개방(Open) 및 단락(Short)을 감지하는 것을 주된 목적으로 합니다. 인터커넥트 테스트에는 1149.1 및 1149.6 연결뿐만 아니라 단일 종단 및 차동 신호가 포함됩니다. 또한 인터커넥트 테스트에는 고정된 외부 경계 스캔 입력 및 출력 노드(보드 외부로 연결되는 단일 경계 스캔 입력 또는 출력 핀을 가진 네트)도 포함될 수 있습니다. 인터커넥트 테스트에 포함할 고정 노드의 수는 테스트 개발자가 제어할 수 있습니다.
• 단락된 커패시터 테스트–이 테스트는 1149.6 AC 결합 네트 간에 발생한 커패시터 단락 결함을 감지하기 위해 고안된 선택적 테스트입니다.
• RUNBIST 테스트–이 테스트는 선택 사항으로, 바운더리 스캔 장치 BSDL 파일과 연관된 모든 내장 자체 테스트 명령어를 실행합니다.
  
  최상의 결과를 얻기 위해 어떤 바운더리 스캔 테스트를 생성할지는 PCB 구성, 사용 가능한 테스터 접근성 및 전반적인 제조 테스트 전략에 크게 좌우됩니다.

Scan Pathfinder는 테라다인(Teradyne)의 제한적 접근 경계 스캔 테스트 솔루션입니다. 이 솔루션은 독립적인 경계 스캔 테스트 생성 소프트웨어를 사용하여 회로 및 BSDL 파일을 자동으로 분석하고, 경계 스캔 대상 부품과 이들의 상호 연결 방식을 파악합니다. 이후 테라다인의 표준 소프트웨어 및 계측 장비를 활용하여 적절한 하드웨어, 오픈(Opens), 상호작용(Interactions), 상호 연결(Interconnect) 및 BIST 테스트를 생성합니다.

테라다인(Teradyne)의 Scan Pathfinder II 네이티브 바운더리 스캔 솔루션의 장점은 다음과 같습니다:

• 개발자와 제조업체는 별도의 소프트웨어나 하드웨어를 설치할 필요가 없습니다. Scan Pathfinder는 테라다인(Teradyne)의 표준 ICT 개발 소프트웨어에 기본으로 내장되어 있습니다.
• Scan Pathfinder는 회로 내 테스터 네일과 bscan 가상 네일을 함께 사용하여 테스트 커버리지와 재현성을 극대화합니다.

개발자가 Scan Pathfinder 사용을 결정하기 전에 고려해야 할 몇 가지 제한 사항이 있습니다:

• Scan Pathfinder 테스트는 독립적으로 개발해야 하며, 다른 테스트 플랫폼에서는 재사용할 수 없습니다.
• Scan Pathfinder는 바운더리 스캔 체인을 통한 ISP 및 FLASH 프로그래밍을 지원하지 않습니다(Teradyne은 FLASH 및 ISP 부품 프로그래밍을 위한 별도의 전용 솔루션을 제공합니다).
• Scan Pathfinder는 일반적인 제조 결함을 감지하기 위한 사전 정의된 테스트를 생성합니다. 이 소프트웨어는 사용자 정의 경계 스캔 테스트의 생성을 지원하지 않으며, 테스트 디버깅 중 스캔 벡터 셀 데이터에 대한 비트 단위 조작도 지원하지 않습니다.

TestStation파트너사 경계 스캔 제품군은 테라다인(Teradyne)의 인서킷 테스터에 옵션으로 통합될 수 있습니다. 이러한 솔루션은 파트너사의 경계 스캔 개발 소프트웨어와 함께, 테스터 PC 컨트롤러나 테스트 픽스에 연결되는 경계 스캔 컨트롤러 및 TAP 모듈 하드웨어를 사용합니다. 제조업체는 이러한 파트너사 솔루션을 활용하여 오프라인 PC에서 경계 스캔 테스트를 개발하고 디버깅할 수 있습니다. 준비가 완료되면, 해당 테스트를 적절히 구성된 테라다인 인서킷 테스터로 전송할 수 있습니다.

TestStation 에서 파트너사의 경계 스캔 솔루션을 사용할 경우 다음과 같은 이점이 있습니다:

• 보드 도입 과정의 엔지니어링 및 NPI 단계에서 개발된 바운더리 스캔 테스트는 ICT 생산 테스트 시에도 활용할 수 있습니다(ICT 단계에서 바운더리 스캔 테스트를 다시 개발할 필요가 없습니다). 많은 제조업체들이 선도적인 PC 기반 바운더리 스캔 솔루션에 익숙하며, 이미 개발 연구소 및 생산 현장에서 이를 사용하고 있습니다. 이러한 바운더리 스캔 솔루션을 테라다인(Teradyne) 테스트 장비에 통합함으로써 제조업체는 이미 개발한 바운더리 스캔 테스트를 재사용할 수 있어, 전반적인 회로 내 테스트(ICT) 개발 노력을 줄일 수 있습니다.
• 많은 파트너사의 바운더리 스캔 솔루션은 맞춤형 바운더리 스캔 테스트를 생성할 수 있는 엔지니어링 개발 도구를 지원하며, 바운더리 스캔 테스트를 매우 신속하게 실행할 수 있도록 돕는 고급 디버깅 도구를 갖추고 있습니다.
• 파트너사의 바운더리 스캔 솔루션은 바운더리 스캔 테스트를 실행하는 것 외에도, 선택적으로 PLD(Programmable Logic Device)를 프로그래밍하거나 프로세서 기반의 기능 테스트를 수행하는 데 사용할 수 있습니다.

테스터에 여러 개의 바운더리 스캔 솔루션을 설치할 수 있으며, 각 용도에 따라 어떤 솔루션이 가장 적합한지 선택할 수 있다는 점을 기억해 두시기 바랍니다.

Scan Pathfinder II는 TestStation 개발 및 생산 테스트 환경에서 사용할 수 있는 선택적 기능입니다. Scan Pathfinder의 라이선스가 부여된 세 가지 구성 요소는 다음과 같습니다:

• Scan Pathfinder II 프로그램 준비용 단일 사용자 라이선스 – 이 라이선스는 TestStation Pro용 프로그램 준비 라이선스로, 테스트 개발자가 Scan Pathfinder 테스트 생성 소프트웨어를 실행하여 IEEE 1149.1 및 1149.6 표준을 준수하는 바운더리 스캔 부품을 사용하는 PCB용 바운더리 스캔 테스트 프로그램을 자동으로 생성할 수 있도록 합니다.
• Scan Pathfinder 테스트 및 진단 라이선스 – 이 런타임 전용 라이선스를 통해 운영자는 테스터에서 Scan Pathfinder 테스트를 실행하고 Scan Pathfinder IEEE 1149.1 바운더리 스캔 진단 소프트웨어를 사용할 수 있습니다. Scan Pathfinder 프로그램 코드에 IEEE 1149.6 고급 디지털 I/O 네트워크용 테스트가 포함된 경우, Scan Pathfinder II 고급 진단 라이선스도 함께 구매해야 합니다.
• Scan Pathfinder II 고급 진단 라이선스 – 이 런타임 전용 라이선스를 통해 운영자는 고급 IEEE 1149.6 디지털 네트워크 장애를 진단하는 데 필요한 전용 Scan Pathfinder 경계 스캔 진단 소프트웨어를 사용할 수 있습니다.

이 소프트웨어 라이선스를 활성화하려면 최종 사용자가 Teradyne(1-800-TERADYNE)에서 라이선스를 구매하거나현지 Teradyne 담당자에게 문의한후, Teradyne의 셀프 서비스 라이선스 관리자 클라이언트 유틸리티를 사용하여 다른 TestStation 옵션과 동일한 방식으로 라이선스를 활성화해야 합니다.

Scan Pathfinder는 기존의 단일 스캔 경로를 비롯해, 버퍼링된 TAP 신호를 사용하는 단일 경로, 여러 개의 독립적인 스캔 경로, 병렬 공유 데이터 경로, 하이브리드 경로 구성 등 다양한 스캔 경로 구성을 지원합니다.

기본적으로 1149.1 표준에서 허용하는 모든 구성이 지원됩니다. Scan Pathfinder는 회로 데이터와 BSDL 모델을 분석하여 단순하거나 복잡한 구성을 모두 인식하고, 이에 적합한 테스트를 자동으로 생성합니다. 개발자는 테스트 생성기에 스캔 경로 구성을 직접 지정할 필요가 없으며, 시스템이 이를 자동으로 판단합니다.

필요한 경우, Scan Pathfinder 사용자 옵션 템플릿에는 개발자가 스캔 경로 구성을 정의하고 소프트웨어가 계산한 스캔 경로를 재정의하는 데 사용할 수 있는 내장 기능이 제공됩니다.

애플리케이션에 단일 스캔 경로만 필요한 경우, Scan Pathfinder는 TestStation Drive 네일 리소스를 사용하여 TCK 핀을 구동할 수 있으며, 이로 인해 바운더리 스캔 테스트의 실행 속도가 빨라지고 테스트 벡터 수가 줄어듭니다. 여러 스캔 경로가 필요한 애플리케이션의 경우, TestStation 네일이 TAP 신호를 구동하는 데 사용됩니다. 지원 가능한 스캔 경로의 수에 대한 유일한 실질적인 제한은 테스트 시스템에 실제로 사용 가능한 네일의 수입니다.

각 스캔 경로의 데이터는 메모리 (Teradyne)의 UltraPin D/S 메모리 저장되며 메모리 스토리지 버스트(Burst)당 최대 64K개의 테스트 스토리지 . 스캔 체인 길이가 64K를 초과하는 애플리케이션을 개발하는 프로그램 개발자는 디바이스 체인을 분할하고 여러 스캔 경로를 사용하여 테스트를 생성해야 합니다.

Scan Pathfinder는 개발자가 소프트웨어에서 생성된 바운더리 스캔 테스트를 사용자 정의하는 데 사용할 수 있는 다양한 옵션을 제공합니다. 이러한 옵션은 Scan Pathfinder 사용자 옵션 파일(테스트 프로젝트의 General 폴더에 위치한 ScanPUserOptions 파일)을 통해 테스트 생성기에 입력됩니다.

이 옵션 파일은 Scan Pathfinder의 '설정 및 분석(Setup and Analysis)' 창에서 옵션을 설정하여 자동으로 생성하거나, 텍스트 편집기를 사용하여 수동으로 생성 및 수정할 수 있습니다. 다음은 테스트 개발자가 사용할 수 있는 옵션에 대한 간략한 설명입니다.

• 전원 옵션–경계 스캔 테스트 중에 사용할 전원 켜기 및 전원 끄기 서브루틴의 이름을 지정하고, 경계 스캔 오류 진단 중에 피시험 장치(UUT)의 전원을 켜둘지 여부를 설정합니다.
• 논리 레벨–바운더리 스캔 테스트 중에 사용될 D/S 핀의 논리 레벨 전압을 지정합니다. 복잡한 다중 논리 레벨 제품군은 사용자 옵션 템플릿을 편집하여 ASSIGN LGC 테스트 언어 문장을 지정하는 USER_LVLA 프로시저를 포함시킴으로써 지정할 수 있습니다.
• TAP 옵션–개발자가 소프트웨어에서 계산한 기본 스캔 경로 설정을 재정의하고, 스캔 경로와 테스트 액세스 핀을 직접 정의할 수 있게 해줍니다.
• 테스트 제외 항목–개발자가 Scan Pathfinder 소프트웨어가 테스트하지 않기를 원하는 UUT 노드 또는 장치의 목록을 지정합니다.
• 노드 수 제한–바운더리 스캔 Opens, Interaction 및 Interconnect 테스트에 포함될 노드/네일의 최대 및 최소 개수를 지정합니다. 사용자는 테스트 생성 전에 이러한 제한을 설정하여, 바운더리 스캔 테스트가 대상 테스터에서 사용할 수 있는 실제 네일 수보다 더 많은 네일을 필요로 하는 테스트를 생성하지 않도록 할 수 있습니다.
• BSC 노드 그룹 사용–테스트 생성기가 Interactions 및 Opens 테스트를 생성할 때 경계 스캔 구성 파일에 지정된 노드 그룹을 사용하도록 강제합니다. 이 옵션은 피스처가 이미 구축된 후 경계 스캔 테스트를 재생성해야 하는 다중화 테스트 시스템에서 유용합니다. 이 옵션을 사용하면 생성된 테스트로 인해 다중화 충돌이 발생하지 않도록 할 수 있습니다.
• TAP 포트 전용 테스트–테스트 발생기가 경계 스캔 TAP 네일만 사용하는 경계 스캔 상호 연결 테스트를 생성하도록 강제합니다(TAP 핀에 연결된 네일 이외의 테스터 네일은 전혀 사용하지 않고 순수한 경계 스캔 연결만 테스트합니다). 이 기능은 ICT 테스트 피스처가 준비되기 전에 순수한 경계 스캔 네트에 대한 경계 스캔 상호 연결 테스트를 실행하는 데 사용할 수 있습니다.
• 격리 모드–경계 스캔 테스트 중에 보드상의 비경계 스캔 부품을 격리하기 위해 소프트웨어에서 생성되는 Inhibit 및 Disable 루틴의 동작을 제어합니다.
• 1149.6 전환 시간–상호 연결 테스트 중 AC 입력 셀 핀이 출력 핀의 변화를 감지하는 데 필요한 최소 대기 시간을 명시합니다.
• RunBIST 클럭–개발자가 RunBIST 테스트 실행 시 사용할 사용자 정의 SET CLOCK 문과 타이밍 매개변수를 정의할 수 있게 해줍니다.
• 경로 초기화–개발자가 스캔 브리지 링크 유형 장치와의 연동을 지원하기 위해 실행하고자 하는 사용자 지정 초기화 순서를 정의할 수 있게 해줍니다.
• HIGHZ/Bypass 사용–테스트 발생기가 OPENS 테스트 중에 비대상 디바이스에 EXTEST 명령어 대신 HIGHZ 또는 BYPASS 명령어를 로드하도록 지시하여, 스캔 체인을 단축하고 전체 테스트 시간을 단축합니다.
• BIDIR 버스 테스트–이 옵션을 활성화하면 Scan Pathfinder가 양방향 버스의 각 핀이 구동 및 감지 기능을 모두 수행할 수 있는지 확인하는 상호 연결 테스트를 생성합니다.

위의 옵션 외에도, 사용자는 기존의 ATO(자동 테스트 옵션) 파일을 활용하여 Scan Pathfinder 테스트에 사용자 정의 코드를 자동으로 포함시킬 수 있습니다.

Scan Pathfinder 테스트 생성기 소프트웨어는 PCB 설계에서 바운더리 스캔 부품을 자동으로 찾아내고, 피시험 장치(UUT)의 스캔 경로가 어떻게 구성되는지 파악하도록 설계되었습니다. 이 소프트웨어는 회로 상호 연결, 프로젝트 라이브러리 파일, 사용자 옵션 파일 및 테스트 선택 입력을 분석하여 이를 수행합니다. Scan Pathfinder 소프트웨어는 독립적인 경계 스캔 테스트 프로그램 파일(BTP 파일)을 생성하며, 이 파일은 편의상 아날로그, 디지털 및 하이브리드 테스트 프로그램과 별도로 컴파일 및 디버깅할 수 있습니다. 디버깅이 완료되면 Teradyne의 병합 유틸리티를 사용하여 모든 독립적인 테스트 프로그램을 단일 테스트 프로그램으로 통합할 수 있습니다.

다음은 Scan Pathfinder 경계 스캔 테스트를 생성하는 일반적인 단계를 보여줍니다.
1. Teradyne의 TS Development Pro(Win 7 TestStation Ver 7.1) 소프트웨어를 사용하여 테스트 프로젝트를 생성하고 PCB CAD 데이터를 가져옵니다.
2. 보드에 있는 모든 경계 스캔 부품에 대한 BSDL 모델을 확보하여 프로젝트 또는 사이트 경계 스캔 라이브러리에 배치합니다.
3. Scan Pathfinder 설정 창과 경계 스캔 사용자 옵션 파일을 사용하여 경계 스캔 테스트 생성기 옵션을 정의합니다.
4. 경계 스캔 결함 커버리지 및 테스트 생성기 보고서 파일을 생성하고 분석합니다.
5. 테스트를 최적화하기 위해 필요에 따라 옵션을 수정하고 경계 스캔 테스트 프로그램을 생성합니다.
6. 대상 TestStation 경계 스캔 테스트 프로그램을 변환하고 디버깅합니다.

Scan Pathfinder 경계 스캔 테스트는 기존의 디지털 장치 테스트와 다르며, 별도의 디버깅 프로세스가 필요합니다. Scan Pathfinder는 각각 특정 결함을 감지하도록 설계된 수많은 테스트를 생성하며, 이러한 테스트는 피시험 장치(UUT)의 모든 경계 스캔 부품이 동시에 작동하고, 경계 스캔 핀 및 드라이버/센서 핀을 통해 구동 및 감지 값이 협력적으로 적용되는 것을 전제로 합니다. 

이러한 복잡성을 처리하고 정확한 진단을 보장하기 위해 TestStation 시스템(RTS)은 별도의 경계 스캔 진단(BSD) 태스크를 활용하여 테스트 실패 결과를 해석하고 수정 조치를 제안합니다. BSD 태스크는 Scan Pathfinder 테스트 생성 소프트웨어에서 생성된 테스트 프로젝트 DIAG_FILE과 Scan Pathfinder 테스트가 실패할 때마다 RTS에서 자동으로 생성되는 경계 스캔 결과(BSR) 파일을 참조합니다. BSR 파일에는 모든 스캔 체인의 TDO 핀에서 감지된 결과 값과 테스터 D/S 네일에서 감지된 값이 포함되어 있습니다. BSD 태스크는 BSR 파일의 결과 벡터 데이터를 DIAG_FILE에 저장된 예상 벡터 데이터와 비교하여 오류를 분석하고 적절한 진단 메시지를 생성합니다.

이러한 설계 방식 때문에 스캔 패스파인더 테스트의 디버깅은 기존의 디바이스 기반 디지털 테스트의 디버깅과는 다릅니다. 운영자는 표준 TestStation Untranslator 및 Waveform Display 디버그 소프트웨어를 사용하여 경계 스캔 테스트 벡터 데이터를 단순히 변경할 수 없습니다. 대부분의 테스트 벡터 변경에는 운영자가 테스트 생성기 옵션을 수정하고 경계 스캔 테스트를 재생성해야 합니다.

다음 단계는 Scan Pathfinder 경계 스캔 테스트 디버깅에 포함되는 일반적인 절차를 보여줍니다.
1. 테스트 모드에서 경계 스캔 테스트를 실행하고 bscan 오류 진단 보고서를 검토하여 실패한 테스트, 네트 및 핀을 식별합니다. 테스트를 하나씩(하드웨어 테스트, 상호 연결 테스트, 개방 테스트, 상호 작용 테스트) 집중적으로 디버깅함으로써 디버깅의 복잡성을 줄일 수 있습니다.
2. Scan Pathfinder의 '값(Values)' 또는 '간략(Brief)' 진단 메시지 형식을 사용하여 오류에 대한 상세한 정보를 확보하고, 핀, 셀 및 네트 오류에 대한 통찰력을 얻으십시오.
3. 보고된 오류를 수정하기 위해 필요에 따라 Scan Pathfinder 테스트 생성기 옵션을 수정하고 테스트를 재생성하십시오:
a. 디바이스 BSDL 모델을 수정, 변경 또는 제거하십시오
b. PCB 회로 설명 수정 또는 변경
c. Scan Pathfinder 옵션 수정(오류 발생 네트 테스트, 스캔 경로 재정의, 1149.6 대기 시간 증가, 경로 초기화 정의)
d. 초기화, 격리 또는 준수 활성화 벡터 업데이트

RTS에서는 명령줄 기반의 BSDEB 모드를 제공하며, 숙련된 사용자는 이를 통해 바운더리 스캔 벡터와 관련 바운더리 스캔 핀 및 셀을 확인할 수 있습니다. Scan Pathfinder II 사용자 가이드의 '테스트 및 디버그' 장을 참조하여 Scan Pathfinder 디버그 프로세스에 대한 자세한 정보를 확인하십시오.

Scan Pathfinder II는 최신 TestStation 7.1 이상 버전의 소프트웨어가 설치된 TestStation I 또는 UltraPin II 기반 시스템에서만 지원됩니다.Scan Pathfinder II는 2280, 2281, 2281A, 2283, 2284, 2286, 2287, 2287A, 2287L, 2287LX 및 모든 TS8X 모델을 포함한 구형 GR228X 테스터 유형을 지원하지 않습니다.

프로그램 개발자는 일반적으로 Windows 7 운영 체제와 최신 TestStation 제품군(버전 7.1 이상)이 설치된 오프라인 PC 워크스테이션을 사용하여 바운더리 스캔 테스트를 개발하고 디버깅합니다. 바운더리 스캔 테스트를 생성하려면 해당 오프라인 PC에 Scan Pathfinder Program Prep 소프트웨어를 실행할 수 있는 라이선스가 있어야 합니다.

오프라인 개발 스테이션에서 바운더리 스캔 테스트가 성공적으로 생성된 후에는, 이를 TestStation 시스템으로 이동시켜 TestStation Pro 또는 Production Pro 사용자 인터페이스를 사용하여 실행할 수 있습니다. Scan Pathfinder 런타임 및 진단 소프트웨어를 실행하려면 테스터에 Scan Pathfinder 테스트 및 진단 라이선스가 부여되어 있어야 하며, 테스트 벡터에 IEEE 1149.6 테스트 기능이 포함된 경우 고급 진단 라이선스도 필요할 수 있습니다.

대부분의 수탁 제조업체는 일반적으로 OEM 고객으로부터 회로 내 테스트용 고정구와 프로그램을 위탁받아 사용합니다. 이들은 대개 회로 내 테스트용 고정구나 프로그램을 직접 개발하지 않습니다. 이러한 수탁 제조업체에는 회로 내 테스트와 경계 스캔 테스트가 이미 통합된 고정구와 테스트 프로그램이 제공됩니다.

이러한 계약 제조업체의 경우, 생산 테스트 시스템에서 바운더리 스캔 진단 라이선스가 활성화되어 있는지 확인하기만 하면 됩니다. 만약 계약 제조업체가 바운더리 스캔 생산 테스트를 수정할 권한이 있는 경우(ECO 또는 부품 변경을 지원하기 위해), 테스터나 오프라인 PC에 Scan Pathfinder 개발 소프트웨어가 설치되어 있어야 합니다.

Scan Pathfinder I을 사용하여 개발된 기존 바운더리 스캔 프로그램은 최신 소프트웨어가 설치된 TestStation 계속 작동합니다. 그러나 구버전의 Scan Pathfinder를 사용하여 생성된 이러한 Scan Pathfinder 프로그램은 차동 및 AC 결합 IEEE 1149.6 네트 테스트 기능을 포함하도록 업그레이드할 수 없습니다.

Scan Pathfinder II의 향상된 결함 커버리지 및 진단 기능을 활용하려면, 제조사는 최신 TestStation 소프트웨어를 사용하여 바운더리 스캔 테스트 및 진단 파일을 다시 생성해야 하며, 생성된 새로운 테스트에 대한 디버깅을 수행해야 합니다.

기존의 경계 스캔 사용자 옵션 파일은 테스트를 재생성할 때 Scan Pathfinder II 소프트웨어의 입력 자료로 재사용할 수 있으며, 이를 통해 각 테스트에서 어떤 노드를 테스트할지, 그리고 노드를 어떻게 그룹화할지 제어할 수 있습니다.