產品品質、複雜性以及持續的創新，都要求採用靈活的半導體測試策略
到了 2025 年，自動測試設備（ATE）產業將深受半導體演進的影響。隨著晶片尺寸不斷縮小，且元件日益複雜，市場對先進、靈活且由人工智慧驅動的測試解決方案的需求將會增加。
隨著我們逐漸逼近摩爾定律的極限，並採用需要專用測試介面與新標準的封裝創新技術，未來發展前景可期。邊緣人工智慧（Edge AI）進一步推動了這些需求，使系統逐漸脫離集中式資料中心，同時也帶來了延遲、頻寬及隱私等新挑戰。自動測試設備（ATE）必須處理即時、多元且分散式的人工智慧工作負載，並運用「邊緣測試（system level test (SLT) ）」來評估裝置在實際環境中的表現。先進的資料分析同樣扮演著關鍵角色，為持續提升良率提供寶貴的洞見。
無論在何種情況下，都必須持續聚焦於提升測試精準度、降低測試成本，同時維持高品質的良率。透過合作、靈活的測試策略，以及遵循新興標準，將有助於自動測試設備（ATE）供應商保持競爭力、引領業界，並在半導體生命週期的各個階段提供更優質的服務。
企業必須適應這些挑戰——無論是透過整合人工智慧、SLT，還是運用數據分析——才能在瞬息萬變的半導體開發環境中蓬勃發展。
欲了解更多詳情，請閱讀Jeorge Hurtarte在 《半導體文摘》的 《2025年展望：高管觀點》專欄中，閱讀喬治·胡塔爾特（Jeorge Hurtarte）的完整觀點。
Jeorge S. Hurtarte 博士目前擔任泰瑞達（Teradyne）半導體測試部門的產品行銷資深總監。Jeorge 曾於泰瑞達、Lam Research、LitePoint、TranSwitch 及 Rockwell Semiconductors 擔任過各類技術、管理及高階主管職務。他是 IEEE 802.11 Wi-Fi 標準委員會的投票委員，並擔任 IEEE 802.11ay 工作小組的秘書。 Jeorge 目前擔任 IEEE 異質整合路線圖 (HIR) 測試工作小組的共同主席，並任教於加州大學聖克魯茲分校及鳳凰城大學，擔任客座教授。