Iris 100
一款適用於微LED 裝置的量產級光學測試平台
透過測量陣列中的每個發光元件，並直接與泰瑞達 UltraFLEXplus 平台進行光電整合測試，Teradyne Iris 100 將半導體級的光學測試技術引入微 LED 製造領域。Iris 100 支援晶圓級與終端測試，讓製造商能將光學測試功能整合至現有生產線中。
優點
單發射極光學測試
以量產級的精確度與吞吐量，測量陣列中的每個發射器。
整合式光電測試
可直接與泰瑞達（Teradyne）UltraFLEXplus 測試系統整合，以進行光學與電氣的綜合測試。
光譜測量與每像素測量
光譜儀與高解析度攝影機用來測量該陣列的光譜響應，以及每個像素的亮度與均勻度。
高通量陣列特性分析
先進的測試並行化與影像處理演算法，使我們能夠以高吞吐量對完整的 microLED 陣列進行特性分析。
早期光學缺陷檢測
Teradyne Iris 100 運用 Teradyne 廣受採用的 IG-XL 軟體，能在製造流程的早期階段偵測出死像素、卡死像素及群聚缺陷等光學缺陷。
絕對、相關測量
其可追溯至 NIST 的校準工作流程，能進行絕對測量，並將批次、晶圓及製造據點相互關聯。
應用
- 擴增實境微顯示器
- 適用於人工智慧資料中心架構的光學資料互連技術
測試插入
- 晶圓測試
- 期末考試
微LED 製造的半導體級光學測試
運用泰瑞達（Teradyne）UltraFLEXplus 平台與 IG-XL，為 microLED 裝置提供量產級的光學測試
支援晶圓測試與最終測試，並已規劃在同一插槽中支援光電偵測器測試功能
作為完整的測試單元解決方案與服務的領導供應商，泰瑞達憑藉其專業知識、豐富經驗及技術領導地位，協助客戶在生產過程中實現最高的良率與產能，並以最快的速度將產品推向市場。我們將與您攜手，從設計到生產的每一步，提供標準化及客製化的測試單元產品與服務。