반도체 산업은 높은 생산 비용과 흠잡을 데 없는 제품 품질 유지의 중요성으로 악명 높습니다. 기술이 발전하고 소비자의 기대치가 높아짐에 따라, 반도체 기업들은 최첨단 제품을 공급하는 동시에 이러한 비용 및 품질 목표를 달성해야 한다는 끊임없는 압박에 직면해 있습니다.
전통적으로 반도체 산업은 무어의 법칙에 따라 더 미세한 공정 노드를 개발하는 데 주력해 왔습니다. 그러나 최근 들어 단일 칩에 집적할 수 있는 트랜지스터 수의 물리적 한계에 다다르면서 성능 향상 속도가 둔화되었습니다. 이는 트랜지스터당 비용 절감 속도 또한 둔화되었음을 의미하며, 새로운 아키텍처와 패키징 기술로 인한 복잡성 증가로 인해 이러한 첨단 공정 노드에서 신제품을 개발하는 데 드는 비용이 상승하게 되었습니다.
반도체의 지속적인 성장과 발전을 위해서는 새로운 공정 혁신을 모색해야 합니다. 반도체 공정 최적화는 역동적이고 지속적인 노력으로, 구체적인 제조 과제, 기술 발전, 그리고 더 빠르고, 더 작으며, 더 에너지 효율적인 기기를 원하는 최종 소비자의 끊임없이 변화하는 요구에 대한 깊은 이해가 필요합니다. 반도체 기업들이 경쟁력을 유지하기 위해서는 공정 최적화의 최전선에 서 있어야 합니다.
제조 공정 전반에 걸쳐 방대한 양의 데이터가 생성됨에 따라, 데이터 분석을 통해 반도체 기업들은 실시간 인사이트를 바탕으로 합리적인 의사결정을 내릴 수 있게 되었습니다. 생산 계획 수립부터 자원 배분에 이르기까지, 데이터 분석은 의사결정이 비용 절감 방안 및 품질 개선 전략과 부합하도록 하는 데 핵심적인 역할을 합니다. 또한, 실시간 데이터 분석은 지연 시간이 짧은 구현 방식을 활용하여 제조 및 테스트 공정에서의 편차를 식별함으로써, 기업들이 잠재적인 문제를 하류 공정으로 확산되어 최종 제품의 품질에 영향을 미치기 전에 신속하게 감지하고 해결할 수 있도록 합니다.
반도체 산업에서 데이터 분석이 가져다주는 이점은 막대합니다. 하지만 기업들이 성공을 거두기 위해서는 데이터 보안, 기존 시스템에의 분석 기능 통합, 새로운 데이터 역량 확보와 같은 과제들을 해결해야 합니다. 이로 인해 분석 업무가 부서별로 고립된 방식으로 진행되는 경우가 많았으며, 이는 솔루션의 적용 범위와 효과를 제한해 왔습니다.
반도체 소자 아키텍처가 시스템 수준의 성능을 최적화해야 하는 것처럼, 품질과 효율성 향상 및 생산 능력 최적화라는 목표를 달성하기 위해서는 설계, 테스트 및 제조 공정 역시 최적화되어야 합니다. 바로 이러한 이유로 테라다인(Teradyne)과 NI는 더 포괄적인 데이터 분석 솔루션을 제공하기 위해 협력하게 되었습니다.
공동 해결책
NI Global Operations(GO) 와 테라다인(Teradyne)의 아키메데스(Archimedes) 분석 솔루션을 통합함으로써, 각 솔루션이 보유한 실시간 테스트 분석 기능을 활용해 고객은 부서 간 장벽을 허물고 테스트 프로세스에 실시간 대응 능력을 접목할 수 있습니다. 이러한 협력을 통해 고객은 그 어느 때보다 신속하게 테스트 결과를 제어할 수 있게 됩니다. 아키메데스의 개방형 개발 아키텍처와 제로 트러스트 보안 모델은 테스트 오버헤드를 줄이고 테스트 셀에서 실시간 실행을 가능하게 합니다. 또한 NI GO의 데이터 라이프사이클 및 분석 엔진은 아키메데스 환경에서 효과적으로 대응할 수 있는 규칙과 알고리즘을 생성하는 데 필요한 통찰력을 제공합니다. 이 두 기술이 결합되어 효율성 향상은 물론 수율 및 품질 개선을 주도하는 즉시 사용 가능한 모니터링 및 제어 기능을 제공합니다.
이번 파트너십을 통해 반도체 테스트 제어의 새로운 시대가 열렸습니다. 안전하고 완벽하며 시의적절한 데이터 라이프사이클 및 분석 관리를 통해 고객은 모든 분석 소프트웨어, 모델 및 알고리즘을 개발, 시뮬레이션, 배포, 관리 및 추적할 수 있습니다.
NI 글로벌 운영 솔루션
NI Global Operations (NI GO)는 다양한 제조, 테스트 및 기업 데이터 소스에서 데이터를 수집, 정제 및 분석하여 반도체 라이프사이클의 모든 단계를 최적화하는 검증된 반도체 분석 솔루션입니다. 테스트에 중점을 둔 NI GO는 클라우드, 엣지, 그리고 이제는 테스트 셀 내부에서도 실행 가능한 실행 가능한 규칙을 생성하여 다음과 같은 주요 기술적 이점을 활용하여 효율성, 품질 및 수율을 지속적으로 개선합니다:
- 포괄적인 이력 데이터 관리— 테스트 데이터를 기타 제조, 공정 및 기업 내 데이터 소스와 통합하여 제품의 투입 및 산출물에 대한 이력 기록을 유지함으로써, 핵심 반도체 인사이트를 도출하는 분석 도구를 지원합니다.
- 알고리즘, 모델 및 작업 관리— 테스트 및 운영 팀이 ML/AI 모델을 포함한 데이터 기반 규칙을 배포하여 내부 및 OSAT 테스트 환경에서 지정된 작업을 실행할 수 있도록 지원하는 통합 관리 센터.
- 개방적이고 확장 가능한 소프트웨어— 기존 IT 및 운영 플랫폼에 손쉽게 통합되며, 즉시 사용 가능한 솔루션과 직접 구성할 수 있는 도구를 제공하여 사용자가 자신의 필요에 맞는 기능을 활용할 수 있도록 합니다.
테라다인 아르키메데스 애널리틱스 솔루션
테라다인(Teradyne)의 아키메데스(Archimedes) 분석 솔루션은실시간 분석을 지원하는 개방형 개발 환경으로, 즉시 사용 가능한 솔루션과 사용자 정의 솔루션을 모두 유연하게 제공하여 손쉽게 배포할 수 있습니다.
테라다인(Teradyne)의 테스터와 함께 사용하도록 설계된 테라다인 아르키메데스(Teradyne Archimedes)는 복잡한 반도체 테스트에 다음과 같은 독보적인 이점을 제공합니다:
- 실시간 양방향 데이터 스트림 지원— 이를 통해 테스터에서 분석 솔루션으로, 다시 테스터로 데이터가 흐르는 폐쇄형 피드백 루프가 형성됩니다. 이러한 실시간 데이터 스트림을 통해 고객은 검증 단계와 대량 생산 단계 모두에서 분석 솔루션을 활용하여 프로세스 개선 사항을 즉시 파악하고 적용할 수 있으며, 그 결과 기기 품질과 수율이 향상됩니다.
- 개방형 아키텍처는고객이 원하는 분석 솔루션을 자유롭게 선택하고, 요구 사항에 가장 적합하도록 맞춤 설정할 수 있는 유연성을 제공합니다. 테라다인은 주요 분석 솔루션 제공업체들과 긴밀하게 연동되어 있어 빠르고 효율적인 배포가 가능합니다. 또한, 테라다인 아키메데스는 맞춤형 솔루션과도 연동할 수 있습니다.
- 네트워크의 최전방에 위치한 보안 플랫폼— 테라다인(Teradyne)의 UltraEdge2000을 통해 고객은 테스트 데이터를 안전하게 보호하는 환경에서 실시간 분석을 구현할 수 있습니다. UltraEdge2000은 밀리초 단위의 지연 시간으로 실시간 분석 최적화를 수행하는 보안 플랫폼입니다.
반도체 업계가 데이터 분석을 적극적으로 도입한 것은 기업들이 비용 및 품질 문제를 해결하는 방식에 있어 패러다임의 전환을 의미합니다. 기술이 지속적으로 발전함에 따라, 데이터를 활용하여 정보에 입각한 의사결정을 내리는 것은 반도체 제조의 성공과 지속 가능성을 좌우하는 핵심 요소가 될 것입니다. NI와 테라다인(Teradyne)의 솔루션과 같은 데이터 분석 기술을 활용함으로써, 기업들은 경쟁력을 유지할 뿐만 아니라 반도체 생산 분야에서 더욱 효율적이고 고품질의 미래를 열어갈 수 있습니다.
NI GO와 Teradyne Archimedes의 통합 분석 솔루션에 대해 자세히 알아보시려면 당사로 문의해 주십시오.
에란 루소(Eran Rousseau)는 NI의 엔터프라이즈 소프트웨어, 전략적 파트너십 및 사업 개발 부문 부사장으로, 엔터프라이즈 소프트웨어, 전략적 파트너십 및 사업 개발 분야에서 20년 이상 성공적인 성과를 이끌어 온 경력을 보유하고 있습니다. 이전에 옵티멀플러스(OptimalPlus, 2020년 NI에 인수됨)의 제품 관리 및 마케팅 부사장으로 재직할 당시, 에란은 반도체 시장의 요구에 부응하고 최첨단 기술을 활용하는 제품 전략, 로드맵 및 시장 진출 전략을 주도했습니다. 에란은 UCLA 앤더슨 경영대학원(Anderson School of Management) 출신이며, 컴퓨터 과학 학사 학위를 보유하고 있습니다.
엘리 로스는 테라다인(Teradyne)의 스마트 제조 부문 제품 매니저로, 테라다인의 아키메데스(Archimedes) 분석 솔루션에 대한 제품 전략 및 로드맵을 총괄하고 있습니다. 테라다인에 합류하기 전에는 어드밴스드 에너지(Advanced Energy)에서 엔지니어링 이사를 역임했습니다. 그는 아이오와 주립대학교에서 컴퓨터 공학 학위를 취득했습니다.