매그넘 E2
첨단 DRAM 및 플래시 인터페이스용 차세대 고속 메모리 테스트 시스템
테라다인(Teradyne)의 ‘매그넘 E2(Magnum E2)’는 LPDDR6, DDR6, GDDR7 및 NAND 플래시를 포함한 첨단 DRAM 및 플래시 인터페이스용 차세대 고속 근접 DUT 테스트( 메모리 ) 시스템입니다. 널리 보급된 매그넘 EPIC 플랫폼의 기반이 되는 테라다인의 검증된 NDT(Near-DUT Test) 아키텍처를 기반으로 구축된 매그넘 E2는 생산 및 엔지니어링 구성을 모두 지원하며, 공통 하드웨어 및 소프트웨어 플랫폼에서 인증 단계부터 대량 생산에 이르기까지 전 과정을 포괄합니다.
속도를 높여 더 높은 수율 달성
DUT 인근 d디지털 계측기화 제공s 탁월한 신호 무결성 를 제공하여 , 장치 수율 디바이스 수율을 극대화하는 데 기여합니다.
공통 플랫폼에서의 높은 병렬 처리 능력
속도속도 테스트을 DDR, LPDDR, GDDR 및 NAND 플래시 장치. 확장 가능한 생산 및 엔지니어링 구성 지원 공통 하드웨어 및 소프트웨어 플랫폼에서 대량 생산에 이르는 전 과정을 지원합니다.
미래에 대비한 프로토콜 지원 범위
일반 하드웨어 기반의 유연하고 프로그래밍 가능한 알고리즘 패턴 생성기(APG) 아키텍처를 통해 고속 NRZ, PAM3 및 PAM4 신호 전송을 지원함으로써, 현재 및 차세대 DRAM과 NAND를 모두 수용합니다 플래시 표준을 지원하므로 테스터를 교체할 필요가 없습니다.
메모리 단일 플랫폼에서의 논리 테스트
내장된 논리 테스트 기능을 통해 메모리 와 논리 테스트의 통합을 지원함으로써, 고객은 테스트 삽입을 통합하고 테스트 삽입을 통합하고 전체 프로그램의 복잡성을 줄일 수 있습니다.
적용 범위
- 차세대 DRAM 인터페이스 – LPDDR6, DDR6 및 GDDR7
- 엔터프라이즈용 SSD용 고속 NAND 플래시
구성
- 최대 64개의 테스트 사이트 및 24.5K개의 high-speed I/O 핀
- 대량 생산을 위한 생산 구성
- 인증 및 시험 프로그램 개발을 위한 엔지니어링 구성
- 양쪽 모두에 공통으로 적용되는 하드웨어 및 소프트웨어 플랫폼
데이터 센터에서 엣지에 이르기까지, AI 시대를 위해 설계되었습니다
AI가 AI 데이터 센터에서 엣지에 이르기까지 차세대 메모리 혁신을 주도함에 따라, 더 빠른 속도로 테스트를 수행하고, 더 높은 병렬 처리 능력을 갖춘 유연한 인터페이스 신호 전송을 지원하며, 더 광범위한 프로토콜 범위를 아우르는 능력은 메모리 제조업체들에게 필수적입니다. Magnum E2는 테라다인(Teradyne)의 고객들에게 이러한 과제를 당장 해결할 수 있는 플랫폼을 제공하며, 업계가 발전해 나가는 과정에서 자신 있게 진화해 나갈 수 있도록 지원합니다.