반도체 트랜지스터의 크기가 점점 작아지고 칩의 복잡성이 기하급수적으로 증가함에 따라, 고품질 제품만이 시장에 출시되도록 보장하기 위해서는 반도체 테스트가 필수적입니다. 더욱 엄격한 허용 품질 수준(AQL) 인증 기준이 도입됨에 따라, 이러한 기준을 충족하기 위해 테스트 방법도 지속적으로 발전해야 하며, system level test (SLT) 기존 테스트 방식은