隨著半導體電晶體尺寸不斷縮小，且晶片複雜度呈指數級增長，半導體測試已成為確保唯有高品質產品能進入市場的關鍵環節。隨著更嚴格的「可接受品質水準」（AQL）認證標準的引入，測試方法必須不斷演進以符合這些標準，而system level test (SLT)