TestStation 및 옵션
TestStation 제품군은 패널형, 단품 및 대형 PCBA 테스트에 최적화된 시스템 폼 팩터를 갖추고 있어, 오늘날의 전자 제조 환경에서 요구되는 모든 테스트 규모, 복잡성 및 자동화 요구 사항에 쉽게 대응할 수 있습니다. 각 시스템은 공통 핀 카드, 테스트 소프트웨어, 전원 공급 장치를 지원하며, 다음과 같은 기능 및 옵션을 제공합니다.
기본 사양
모든 TestStation 에 기본으로 제공되는 테스트 기능:
- 테스트 장비와의 고성능 통신 및 최대 테스트 처리량을 위한 Windows 기반 PC 컨트롤러
- 단락 및 개방 결함을 신속하고 정확하게 진단하기 위해 선형 및 이진 검출 알고리즘을 모두 활용하는 단락/개방 감지 드라이버
- 저항기, 커패시터, 인덕터, 다이오드, 트랜지스터, FET, 연산 증폭기 및 정류기를 정밀하게 측정할 수 있는 아날로그 서브시스템
- 120V 전원을 공급하고 최대 200V까지 측정할 수 있는 고전압 전원 및 측정 기기
- 사인파, 구형파, 삼각파 또는 사용자가 정의한 복잡한 파형을 생성할 수 있는 임의 파형 발생기
- 온보드 신호를 캡처하기 위해 샘플링 오실로스코프로 구성할 수 있는 디지털 전압계/디지타이저 계측기
- 혼합 신호 소자의 코히어런트 측정을 수행하기 위한 동기화된 아날로그 및 디지털 서브시스템
- 8채널 계측기 멀티플렉서 및 고성능 핀 스캐너 매트릭스를 통해 모든 계측기 또는 테스터 핀을 8개의 측정 채널 중 어느 곳으로든 연결할 수 있습니다
- Junction Xpress AC 신호를 인가하고 다이오드 접합부에서 고조파 주파수를 측정함으로써 디지털 IC의 개방된 소자 핀 및 불량 솔더 접합을 감지할 수 있는 벡터리스 테스트 기법
- 테스터의 내부 계측기 버스에 GPIB 호환 외부 계측기를 연결하기 위한 9개의 외부 포트를 갖춘 IEEE-488 계측기 버스
- 신뢰할 수 있는 시스템 검증 절차를 위해 테스터에 내장된 교정 표준 및 자가 진단 회로
- 사용자 수준 프로그래밍 가능 릴레이 드라이버는 외부 회로 및 조명 기기의 스위칭을 지원합니다
- 고급 프로그래밍 언어를 사용하면 프로그래머가 맞춤형 테스트 절차를 신속하게 작성하고 기존 테스트 시퀀스를 수정할 수 있습니다
- TestStation 소프트웨어 제품군TestStation Pro 및 Production Pro 소프트웨어 환경을 포함하며, 프로그램 디버깅을 가속화하고 생산 효율을 극대화하기 위한 생산성 도구가 내장되어 있습니다
- AutoFLASH 및 ISP 툴셋은 프로그래머블 로직 디바이스(PLD)용 테스트 벡터 모델의 자동 생성을 지원합니다.
- 시험 및 생산 측정 데이터를 강력하게 분석할 수 있는 데이터 로깅 및 데이터 표시 소프트웨어
옵션
TestStation 옵션으로 제공되는 기능:
- Design-to-Build (D2B) 이 소프트웨어 프레임워크는 CAD 준비, 프로그램 준비 및 고정구 조립 작업을 간소화합니다
- Smart4Metrics테라다인의 스마트 팩토리 솔루션인 Smart4Metrics는 인서킷 테스터의 상태 및 성능 데이터를 귀사의 기존 데이터 수집 시스템과 연동합니다
- Framescan FX Vectorless 이 테스트 소프트웨어 및 하드웨어는 전원이 필요 없는 간단한 정전용량 측정 기술을 사용하여 장치 및 커넥터의 개방 핀을 감지합니다.
- BasicSCAN 바운더리 스캔 테스트 모델 생성 소프트웨어는 물리적 테스트 접속이 가능한 바운더리 스캔 디바이스 핀에 대한 디지털 테스트 벡터 모델을 자동으로 생성합니다
- 테스트 접근성이 제한된 바운더리 스캔 보드의 결함을 탐지하기 위한 포괄적인 바운더리 스캔 테스트 생성 및 진단 소프트웨어인 ‘스캔 패스파인더’
- Powered Framescan은 Framescan의 벡터 없는 테스트 기능과 바운더리 스캔의 내장 제어 기능을 결합하여, 물리적으로 테스트 접근이 불가능한 커넥터 및 디바이스 핀의 개방 회로를 감지합니다.
- 동적 프로그래밍 확장 이 소프트웨어는 DLL(Dynamic Library Link) 통신 표준을 사용하여 외부 소프트웨어 애플리케이션과 TestStation 간의 양방향 통신을 지원합니다
- 테스트 대상 보드에 전원을 공급하기 위해 사용자 전원 공급 장치를 설치할 수 있으며, 최대 300V의 전압 또는 최대 28A의 전류를 공급하도록 구성할 수 있습니다.
- Ultra Pin II 핀 보드는 제조사의 테스트 정확도에 맞춰 다양한 구성(아날로그 전용, 순수 핀, 하이브리드, 고밀도)으로 제공됩니다. UltraPin II 드라이버/센서 핀은 핀당 15mV의 테스트 정확도, 핀별 프로그래밍 가능한 로직 전압, 자동 드라이버 검증, 백드라이브 모니터링 및 제어, 이중 로직 임계값, 프로그래밍 가능한 슬루 레이트를 자랑합니다. 특화된 디지털 서브시스템 타이밍 제어 기능은 디지털 벡터의 정밀한 적용을 보장하며, 혁신적인 데이터 압축 기술(타이밍 세트, 중첩 루프, 서브루틴, 데이터 테이블, 데이터 가져오기 및 내보내기, CRC 계산)은 긴 벡터 스트림의 적용을 지원합니다.
- 클럭 드라이브(Clock Drive), 클럭 센스(Clock Sense) 및 트리거(Trigger, CST) 신호 핀은 최대 20MHz의 속도로 동작할 수 있으며, D/S 핀과 동기화되어 플래시, ISP, 바운더리 스캔 및 복잡한 디지털 부품의 테스트 벡터 개발을 간소화합니다.
- 딥 시리얼 메모리Deep Serial 메모리 디지털 메모리 64K에서 최대 1기가바이트까지 확장하는 데 사용할 수 있으며, 매우 긴 데이터 스트림이 필요한 PLD 프로그래밍이나 바운더리 스캔과 같은 테스트 애플리케이션에 유용합니다.
- 시스템 주파수/시간 측정(SFTM) 장비는 피측정 보드에서 시간 관련 항목(주파수, 주기, 시간, 간격, 비율, 카운트, 듀티 사이클 및 펄스 폭)을 측정할 수 있는 기능을 제공합니다.
- 다기능 애플리케이션 보드는 애플리케이션 전용 하드웨어를 테스트 시스템에 직접 연결할 수 있게 해주며, 맞춤형 회로를 피테스트 대상 보드에 연결하기 위한 고신뢰성 경로를 제공합니다.
- PXI 기능 확장 보드 테스트 시스템에 4개의 소형 PXI 계측기를 추가할 수 있도록 지원하여, 테스터의 기능 테스트 성능을 확장합니다