Magnum E2
適用於先進 DRAM 與快閃記憶體介面的次世代高速記憶體測試系統
泰瑞達（Teradyne）的 Magnum E2 是一款專為先進 DRAM 和快閃記憶體介面（包括 LPDDR6、DDR6、GDDR7 及 NAND 快閃記憶體）設計的下一代高速記憶體測試系統。 Magnum E2 基於泰瑞達久經考驗的「近被測裝置測試」（NDT）架構所建構，該架構正是廣泛部署的Magnum EPIC 平台之基礎；Magnum E2 同時支援量產與工程配置，可在共通的硬體與軟體平台上，涵蓋從認證到大量生產的完整流程。
在高速下實現更高產量
DUT 附近 d數位儀表化 提供s 卓越的訊號完整性 以強化全速率測試效能 並 協助最大化 元件良率。
在共通平台上實現高度並行性
執行網速測試， ，涵蓋 DDR、LPDDR、 GDDR 及 NAND 快閃記憶體 裝置。 可擴展的 量產與工程配置 支援 在共通的硬體與軟體平台上，從認證到大量生產皆可無縫支援。
面向未來的協定支援範圍
透過基於通用硬體的靈活、可程式化演算法模式產生器（APG）架構，支援高速 NRZ、PAM3 及 PAM4 訊號傳輸，可滿足當前及新興 DRAM 和 NAND 的需求 快閃記憶體 標準，無需更換測試儀。
單一平台上的記憶體與邏輯測試
內建的邏輯測試功能支援記憶體與邏輯測試的整合，使客戶能夠 整合 測試插入點，並降低整體計畫的複雜度。
適用範圍
- 進階 DRAM 介面——LPDDR6、DDR6 及 GDDR7
- 適用於企業級 SSD 的高速 NAND 快閃記憶體
設定
- 最多可支援 64 個測試點及 24.5K 個high-speed I/O 接腳
- 大量生產的生產配置
- 用於資格認證與測試計畫開發的工程配置
- 兩者皆採用相同的硬體與軟體平台
專為人工智慧時代打造，從資料中心到邊緣
隨著人工智慧推動記憶體創新不斷迭代，從人工智慧資料中心到邊緣運算，記憶體製造商必須具備以更高速度進行測試、採用具更高平行處理能力的靈活介面訊號傳輸，並涵蓋更廣泛協定範圍的能力。Magnum E2 為泰瑞達的客戶提供了一個平台，不僅能協助其應對當前的挑戰，更能隨著產業發展，充滿信心地持續進化。