マグナム E2
先進的なDRAMおよびフラッシュインターフェース向け次世代高速メモリテストシステム
テラダイン社の「Magnum E2」は、LPDDR6、DDR6、GDDR7、NANDフラッシュなどの先進的なDRAMおよびフラッシュインターフェースに対応した、次世代の高速メモリテストシステムです。広く導入されている「Magnum EPIC 」プラットフォームの基盤である、実績のあるテラダイン社のNear-DUT Test（NDT）アーキテクチャを基盤とする「Magnum E2」は、量産およびエンジニアリングの両方の構成に対応しており、共通のハードウェアおよびソフトウェアプラットフォーム上で、認定試験から大量生産に至るまでの全工程をカバーします。
高速走行時の高収量
DUT近傍 dデジタル計測器化 提供s 優れた信号整合性 を実現し、実動作速度でのテスト性能を強化します 、 デバイスの歩留まりを デバイスの歩留まりを最大化します。
共通プラットフォーム上での高い並列性
速度テストを実行するを行い DDR、LPDDR、 GDDR およびNANDフラッシュ デバイス。 スケーラブルな 生産およびエンジニアリング構成 のサポート 共通のハードウェアおよびソフトウェアプラットフォーム上で、認定から大量生産に至るまでのプロセスをサポートします。
将来を見据えたプロトコルの対応範囲
共通のハードウェア上で、柔軟かつプログラム可能なアルゴリズム・パターン・ジェネレータ（APG）アーキテクチャを採用し、高速NRZ、PAM3、PAM4信号伝送に対応することで、現在および今後登場するDRAMやNANDに対応します フラッシュ 規格に対応し、テスターの買い替えを必要としません。
単一プラットフォーム上でのメモリおよび論理テスト
組み込みロジックテスト機能により、メモリテストとロジックテストの統合が実現され、お客様は テストの挿入箇所を統合し、プログラム全体の複雑さを軽減することが可能になります。 テストコードの挿入を統合し、プログラム全体の複雑さを軽減できます。
適用範囲
- 次世代DRAMインターフェース – LPDDR6、DDR6、GDDR7
- エンタープライズ向けSSD用高速NANDフラッシュ
設定
- 最大64カ所のテストサイトおよび24.5K本のhigh-speed I/O ピン
- 大量生産向けの生産構成
- 認定および試験プログラム開発のための技術仕様
- 両方に共通するハードウェアおよびソフトウェアプラットフォーム
データセンターからエッジまで、AI時代に向けて構築
AIが、AIデータセンターからエッジに至るまで、次世代のメモリ技術革新を牽引する中、メモリメーカーにとっては、より高速で、柔軟なインターフェース信号伝送と高い並列性を備え、さらに幅広いプロトコルに対応したテスト能力が不可欠となっています。Magnum E2は、テラダインの顧客に対し、今日のこの課題に対応し、業界の進展に合わせて自信を持って進化し続けるためのプラットフォームを提供します。